УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МИКРОСХЕМ Советский патент 1974 года по МПК G01R31/303 

Изобретение относится к области радиоизмерительных устройств. Известны устройства для измерения динамических параметров микросхем, которые состоят из ряда микросхем, образующих кольцевой генератор, испытываемой микросхемы ИС и двух ключей. С целью обеспечения возможности измерения времени переключения в предлагаемое устройство введен дискриминатор напряжения, выход которого соединен с входом второго ключа, к одному из входов дискриминатора иодключен выход испытуемой схемы, а к другому входу - регулируемый источник опорного напряжения. На фиг. 1 приведена схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 - диаграммы напряжений на входе и выходе испытываемой схемы. Устройство состоит из схемы совпадения 1, схем, образующих кольцевой генератор 2, схемы 3, возбуждающей испытываемую схему, испытываемой схемы 4, двух ключей 5 и 6 п дискриминатора напряжения 7. Схемы /, 2, 3 и 4 соединены последовательно. Ключ 5 включей между выходом схемы 3 и первым входом схемы /. Один вход дискриминатора 7 подключен к выходу испытываемой схемы 4, а другой - к источиику изменяемого опорного напряжения Поп- Ключ 6 включен между выходом дискриминатора 7 и вторым входом схемы . Дискриминатор 7 переключается в момент достижения сигналом на его входе уровня заданного опорного напряжения, полярность выходных импульсов дпскрпм)1натора 7 (для рассматриваемого случая неинвертирующей ИС) совпадает с полярностью входных импульсов. Устройство вырабатывает импульсы, период повторения которых зависит от положения ключей 5 и 6. При подаче на вход дискриминатора опорного напряжения t/on получают значения U и t Ui,aupii подаче f/on L2 - значения 2 и /зи, t/2 (см. фиг. 2), где /з,|(; и время задержки испытываемой схемы при переключении из состояния «О в состояние «1 и пз «1 в «О соответственно. Но, как видно из фиг. 2, разность времен задержек, измеренных по отпощению к одному п тому же уровню на входном имиульсе, дает время переключения схемы, т. е. jUl т гjOI 7,,01 - - ic jlO ,,,10 ,,,1( f где - время переключения испытываемой схемы, определяемое из равенств

-Гз,, II

и с

ло

Сс 2 1-7з 1- 2 2 + ,

где н rf/2 - период повторения кольца при подаче на вход дискриминатора 7 Lon {У, и соответственно, причем Гд соответствует замыканию ключей 5 и 6, & Т- - замыканию ключа 6.

Таким образом, введение дискриминатора, опорное напряжение на выходе которого может изменяться, позволяет проводить измерение и

Измерение задержек /зис зис Д нном решении проводится так же, как и в известном устройстве.

Кроме того, при использовании дискриминатора, полярность выходных импульсов которого противоположна полярности входных

импульсов, можно проводить измерение параметров инвертирующих схем.

Предмет изобретения

Устройство для измерения динамических параметров микросхем на основе кольцевого генератора, содержащее схему совпадения, к выходу которой подключена цепь из последовательно соединенных микрос.хем, причем выход последней микросхемы соединен с испытываемой микросхемой и через ключ-к одному пз входов схе.мы совпадения, к другому входу которой подключен выход второго ключа, отличающееся тем, что, с целью обеспечения возможности измерения времени переключения, в него введен дискриминатор напряжения, выход которого соединен с в.ходо.м второго ключа, к одному из входов дискриминатора подключен выход испытуемой схемы, а ко второму входу - регулируемый источник опорного напряжения.

1 L/ v2 L/j l/

К

5l ,M