ПРИБОР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ФИЗИКО-МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ЛУННОГО ГРУНТА И ЕГО АНАЛОГОВ Советский патент 1974 года по МПК G01N1/44 G01N33/24 

1

Изобретение относится к области точного приборостроения, в частности к приборам для исследования поверхностных явлений при контактном взаимодействии твердых тел с лунным грунтом и его аналогами.

Известны приборы для исследования физико-механических свойств лунного грунта и его аналогов, содержащие вакуумную камеру со шлюзом для установки капсулы с испытуемым образцом на предметном столе и рабочий орган с контртелом, расположенный внутри вакуумной камеры. Необходимым условием при такого рода исследованиях является обезгаживание испытуемых образцов, а также удаление сорбционных пленок с их поверхности.

Однако, известные приборы не позволяют получить достоверные данные и достаточную информацию о свойствах исследуемого образца из-за недостаточного обезгаживания и наличия на его поверхности сорбционной пленки.

Цель изобретения - обезгаживание испытуемого образца.

Достигается это тем, что предметный стол выполнен в виде печи нагрева с термопарой, усгановленной с возможностью воззраттю-по.тупательного перемещения, при этом с целью удаления сорбционной пленки с поверхности образца над предметным столом в вакуумной камере смонтирована электронная пушка.

На чертеже изображен предлагаемый прибор. Он содержит 1, исследуемый образец 2, вакуумную камеру 3, привод 4 возвратно-поступательного движения, печь 5 нагрева, термопару 6, тензометрическую балку 7, тензосчетчик 8, электронную пушку 9, привод 10 вращения, вал И рабочего органа, контртело 12 и иллюминатор 13.

Прибор работает следующим образом.

Капсулу 1 с образцом 2 вводят в вакуумную камеру 3 и размещают в центре узла установок образца на поверхности печи 5 нагрева, которая снабжена термопарой 6. После достижения в камере вакуума порядка тор и обезгаживания образца с целью разрушения и удаления сорбционной пленки производится электронная бомбардировка поверхности образца с помощью электронной пушки 9. После окончания электронного облучения для исследования адгезионных и абразивных свойств испытуемый образец с помощью привода 4, обеспечивающего возвратно-поступательное движение, подводится вверх и вступает в контакт с контртелом 12. При достижении заданного усилия прижима, контролируемого тензодатчиком 8, установленным на тензометрической балке 7, начинает вращаться с помощью привода 10 вращения контртело 12, которое смонтировано на валу П рабочего пргпиа. Для визуального на