ПРИБОР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ФИЗИКО-.\\Е.ХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ИНОПЛАНЕТНОГО ВЕЩЕСТВА Советский патент 1973 года по МПК G01N3/02 

1

Изобретение относится к области точного ириборостроения, в частности к нрибора.м для исследования физико-механических свойств лунного грунта а его аналогов.

Известен прибор для исследования физикомехаиических свойств лувного rpyirra и его аналогов, содержащий вакуумную камеру, снабженную шлюзом для установки капсулы с :исг1ытуемы.м образцом, расположенной на предметном столе, и для подключеиия средств .исследования и ретистрации, измерительиые блоки с датчикам, расположеи1иые внутри вакуумной камеры.

Недостаток известного устройства состоит в том, что он не позволяет проводить лабо-раториые исследоваиия на малых количествах уникального лунного грунта.

Иредлагаемый прибор отличается от известных тем, что калсула, содержаидая испытуемый образец, установлена в центре предметного стола, связанного с системой, обеспечивающей вращательное движение предметното стола, а измерительные блоки с датчиками смонтированы вокруг капсулы на неподвиж)1ой ллите и снабжены средствами для перемещеания датчиков в вакууме з вертикальной плоскости.

Предлагаемый прибор обеспечивает возможпость проведения комплекса научных исследозанпи в ллсораторных условия.х, Mai c; мально пр;;ол 1 ке:1;1ых к условиям, в которых реально находились взятые образцы. Это иозволяет нолуч 1ть существенно достовер 1ые данные о физико-механических свойствах ;nioплаиетного вещества па малых пробах.

Иа ф:иг. , 2 представлен вариа1гг ко;1струкции данного прибора в продольном разрезе и

вид сверху соответствеиио.

Прибор для исследоваиия физико-.мехаНПческих свойств пнонланетиого вещества содержит нриемную вакуумную камеру /, вaкyy jнлот}1ые входы 2 для уста1 овки капсулы с испытуемым образцом и для подключе;1:-1я средств ;1сследоваи 1я п регистрации физикомеханических свойств образца; механиз.м о возвратио-постуиательного движения; привод 4 механизма возвратно-поступательного дв жепия; горизонтальную кулису 5; щарииры

горизо:1тальной кулисы; вертикальный вал 7;

корпус 8 вертикального вала; коническую пестерню 9 вертикального вала; новоротный сехтор 10: есупи Й кроип1тейн // измерительного

блока; датчики 12 для исследоваи я свойстз rpyirra; лстановоч;1ую плиту /Л; капсулу //. )1сследуе ;ый образец 15; пeзaвиcи iый привот, капсулы /).

В присмнлю вакуумную камеру чеоез

одни из зак л м 1лот;1ых вхо.дов 2 устаназ;;},вается снабженная независимым призодом 16 капсула 14 с исследуемым образцом /5. Др}гие вакуумилотные входы служат для нодключе;-г;1Я средств лсследонания л регистраци; ф 13 ко-ме,аническнх свойств грунта.

Капсула с образцом помещается в ценгрз установочной илиты 1,3, по периферии которой смонтированы измерительные блоки. Каждый из из.мерительиы.х блоков включает в себя привод 4 механизма 3 возвратно-иостуиательного движеиия, а так/ке горизонтальную кулнсу 5, связа ную с помоп ыо шарниров 6, как с возвратно-ноступате.тьным ме.ханизмом, так л с ве-ртИКальны.м вало.м 7, кориус 8 которого закреплен в отверстпях установочной плиты. Вертикальиый вал оканчивается конической И1естер)1ей 9, паходяшейся в зацеплении с поворотпым сектором 10 с жестко закреплеп ым па ием кронштейном //, на котором расположены 12 для исследования образца.

Предмет ,и з о б р е т е н

Прнбор для псследования ф.чзпко-.ме.ха -; :ческих свойств инопланетного вещества, содержащий вакуумную камеру, снабженну;о шлюзом для установки калсулы с испытуемы.м образцом, расположенной па предметном столе, н для подключения средств исследователя и регистрации, измерительные блоки с датч :ками, расположенпые внутри вакуу.мной камеры, отличающийся тем, что, с целью обеспечеЛ я возможпости проведения лабораторпых исследовапий на .малых пробах в условиях, и.мнтирующнх реальные, капсула, содержащая испытуемый образец, установлена в це:1тре Предметного стола, связанного с системой, обеспечивающей вращательпое движение пред.метиого стола, а измерительиые блоки с датчиками смонтированы вокруг кансулы на ие.иодвижпой плите и снабжены средствами для перемещепня датчиков в вакууме в верт кальной плоскости.

/

fpu.2 2