1
Изобретение относится к области массспектрометрии с электростатической разверткой масс-спектра.
Известно, что масс-спектрометры с электростатической разверткой масс-спектра и с постоянными магнитами обладают дискриминациями ионов по массам. Дискриминация по массам приводит к изменению чувствительности масс-спектрометра в процессе развертки масс-спектра.
Одной из самых существенных причин дискриминации по массам в масс-спектрометре является изменение условий прохождения пучка ионов в источнике ионов при изменении ускоряющего напряжения в процессе электростатической развертки масс-спектра.
Так, в источнике ионов типа Нира с электронной бомбардировкой ионов в ходе развертки масс-спектра потенциалы электродов меняются одновременно с изменением ускоряющего ионы напряжения, что необходимо для сохранения условий формирования пучка ионов в источнике независимо от величины ускоряющего ионы напряжения. Изменение потенциалов электродов источника ионов приводит прежде всего к изменению в условиях вытягивания из ионизационной камеры ионов, образованных при электронной бомбардировке, что ведет к изменению интенсивности выходящего из источника пучка ионов в процессе развертки и, как следствие, к дискриминации ионов по массам в масс-слектрометре.
Повышение минимального вытягивающего 5 напряжения до величин, при которых вытягивается максимально возможное количество ионов, Приведет к сильному увеличению ускоряющего ионы напряжения, что увеличивает габариты анализатора и постоянного магнита,
0 а также увеличивает приборный разброс ионов по энергиям, и, как следствие, уменьшает разрешающую способность анализатора.
Кроме того, изменяются условия образования области ионизаци из-за влияния большо5 го вытягивающего поля на электронный пучок.
Известен масс-спектрометр, содержащий
источник ионов, приемник ионов, анализатор
с постоянным магнитом, устройства питания
и регистрации, у которого для уменьшения
0 дискриминаций по массам вытягивающее напряжение в источнике ионов, приложенное между вытягивающим электродом и ионизационной камерой, остается постоянным в ходе изменения ускоряющего ионы напряжения.
5 Применение постоянного вытягивающего ионы напряжения приводит к изменению условий формирования пучка ионно-оптической системой источника ионов при изменении ускоряющего напряжения в ходе развертки,
0 что, в свою очередь, приводит к изменению
ширины и плотности пучка ионов, приходящих в область выходной И1ели источника, а следовательно, и к дискриминациям в масс-спектрометре. Кроме того, такая конструкция источника ионов приводит к тому, что потенциал ускоряющего электрода неизбежно влияет на условия вытягивания ионов из ионизационной камеры.
Цель-уменьщение дискриминации ионов но массам.
Конструкция источника ионов, работающего в не изменяющихся условиях для всех ионов, обеспечивает равные наиболее эффективные для данного источника ионов условия образования, вытягивания, формирования и ускорения ионов, а развертка масс-спектра осуществляется дополнительным специальным электродом, на который подается напряжение сканирования и расположенным в анализаторе за ускоряющим электродом источника ионов.
Такая конструкция анализатора приводит к получению пучка ионов из источника одинаковой интенсивности и формы, независимо от массы исследуемого вещества. Полученный таким образом пучок ионов входит в область между ускоряющим электродом источника ионов и сканирующим электродом (электродом, определяющим необходимую для фокусировки в анализаторе скорость ионов данной массы). В этой области пучок ионов приобретает необходимую для данной массы скорость, не изменяя своей ширины, а следовательно, и интенсивности на выходе из щели сканирующего электрода в анализатор.
Обычно пучок ионов, выходящий из источника ионов, содержит ионы, обладающие некоторыми угловыми разбросами. Указанное обстоятельство приводит к тому, что ионы, входящие в поле между ускоряющим и сканирующим электродами под углом к оси источника ионов, будут двигаться по различным траекториям в зависимости от потенциала, приложенного к сканирующему электроду.
Таким образом, в данной конструкции исключаются такие существенные области дискриминации, как область вытягивания ионов из «ионизационной камеры (где из-за малых начальных скоростей ионов влияние изменения условий прохождения пучка сказывается очень резко) и область формирования пучка ионов ионно-оптической системой источника ионов. Воздействие же поля между
ускоряющим и сканирующим электродом на траектории ионов ослаблено тем, что ионы имеют большую энергию и малые угловые разбросы.
5 На чертеже представлена схема устройства, содержащего ионизационную камеру 1, вытягивающий электрод 2, фокусирующий электрод 3, ускоряющий электрод 4, область ионизации анализируемого вещества электронным
0 пучком 5, камеру анализатора 6, постоянный магнит 7, коллектор ионов 8, сканирующий электрод 9.
Анализируемое масс-спектрометром вещество в виде газа или пара, попадающее в
5 ионизационную камеру 1 источника ионов, ионизируется электронным пучком 5. Образованные ионы вытягивают с помощью вытягивающего электрода 2 и формируют в узкий пучок на уровне щели ускоряющего электрода 4 с помощью фокусирующей линзы, составленной из трех электродов - вытягивающего 2, фокусирующего 3 и ускоряющего 4. Сфокусированный пучок пропускают через щель ускоряющего электрода в поле между ускоряющим и сканирующим электродом 9, а затем через щель сканирующего электрода в камеру анализатора 6, где в поле постоянного магнита 7 происходит разделение ионов по отношению массы к заряду и фокусировка их
0 по направлению. Затем ионы соответствующей массы, скорость которых обеспечивает их попадание на коллектор ионов 8, регистрируют соответствующими системами регистрации. В процессе развертки масс-спектра на коллектор попадают ионы разных масс, что обеспечивается изменением напряжения, приложенного между сканирующим электродом и ионизационной камерой.
Предмет изобретения
Масс-спектрометр с электростатической разверткой масс-спектра, состоящий из источника ионов, приемника ионов, анализатора с
постоянным магнитом, устройств питания и регистрации, отличающийся тем, что, с целью уменьшения дискриминации ионов по массам, он снабжен дополнительным электродом, расположенным в анализаторе за ускоряющим электродом источника ионов и соединенным электрически с источником напряжения развертки. I icmnuHUK ионоб приемник uOHoS
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
ИСТОЧНИК ИОНОВ | 1986 |
|
SU1396854A1 |
Масс-спектрометр | 1958 |
|
SU121965A1 |
МАСС-СПЕКТРОМЕТР С ДВУКАМЕРНЫМ ИСТОЧНИКОМ ИОНОВ | 2013 |
|
RU2551369C1 |
Ионный микрозондовый анализатор | 1988 |
|
SU1605288A1 |
МАСС-СПЕКТРОМЕТР | 1969 |
|
SU244694A1 |
ПРИЗМЕННЫЙ МАСС СПЕКТРОМЕТРВСЕСОЮЗНАЯПШКТНОч1ХНКМ?^НАЯБИБЛИО~Е:НА | 1972 |
|
SU346656A1 |
Масс-спектрометр | 1990 |
|
SU1839274A1 |
МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИЙ АНАЛИЗАТОР ГАЗОВОГО ТЕЧЕИСКАТЕЛЯ | 2013 |
|
RU2554104C2 |
Масс-спектрометр | 1985 |
|
SU1600645A3 |
Масс-спектрометр | 1983 |
|
SU1128308A2 |
Авторы
Даты
1974-08-15—Публикация
1972-07-04—Подача