Пробка для измерения отверстий интерференционным методом Советский патент 1974 года по МПК G01B11/12 G01B9/02 

Предлагаемая пробка относится к области измерительной техники, а именно к технике намерения отверстий.

Известна пробка для измерения отверстий интерференционным методом в прозрачном материале, выполненная из непрозрачного материала.

Для повышения точности измерения отверстий в непрозрачном материале предлагаемая пробка выполнена из прозрачного материала п снабжена внутренней, расположенной под углом к ее оси плоской отражающей поверхиостыо; кроме того, на пробке нанесены поперечная и продольные риски.

На фиг. 1 изображена предлагаемая пробка, введенная в измеряемое отверстие (вид в направлении, перпендикулярном оси и вдоль внутренней отражающей поверхности); на фиг. 2 - то же, вид сбоку.

Предлагаемая пробка состоит из двух склеенных между собой частей 1 и 2, выполненных из прозрачного материала (например стекла). Склеенные поверхности имеют плотное зеркальное покрытие 3 н расположены под углом приблизительно 45° к оси пробки.

Для удобства отсчета интерференционных полос па рабочей поверхности Л пробки нанесены поперечная риска 4 и две продольные диаметрально противолежащие риски 5.

Рабочая поверхность А н торцы Б

пробки выполнены полированными, (индексом 6 обозначена деталь с измеряемым отверстием).

Пробка может быть применена для излгерения отверстий следующим образом.

Пробку вводят в отверстие детали б и перекашивают в нем, (фиг. 1). В результате перекоса образуются воздушные клинья, за счет которых при подсветке со стороны торцов пробки появляется интерференциопная картина в виде полос равной толщины. Разность размеров отверстия и пробки определяют с помощью указанных полос, наблюдаемых сквозь торцы пробки.

Таким образом, с помощью предлагаемой пробки возможно измерять размер отверстия, выполненного в непрозрачном материале, с использованием интерференционных полос, что значительно повышает точность измерений и позволяет осуществлять их в любых диаметральных сечениях и направлениях.

Предмет изобретения

1. Пробка для измерения отверстий интерференционным методом, J:)тлuчaющaяcя тем, что, с целью повышения точности измерения отверстий в непрозрачном материале, она выполнена из прозрачного материала и сиабжена внутренней, расположенной под углом к ее осп плоской отражающей поверхностью.

2. Пробка по п. 1, отличающаяся тем, что, па пей нанесепы поперечная п продольные рпскп.