Способ анализа газов Советский патент 1974 года по МПК G01N31/06 G01N25/36 G01N25/30 

1

Изобретение относится к области анализа газов и может быть ионользовано, например, для контроля состава технологических газов и атмосферы.

Известен способ анализа газов путем сорбции определяемого компонента сорбентом, нанесенным «а терморезистор, и последующей десорбции нагреванием терморезистора электрическим током. Однако указанный способ недостаточно точен из-за дестабилизирующего влияния температуры окружающей среды и изменения концентраций неизме|ряемых ко: 1понентов в анализируемом газе, а также имеет ограниченную чувствительность вследствие неполной десорбции анализируемого компонента в процессе .измерения.

Целью изобретения является .повышение точности и чувствительности анализа газов. Это достигается тем, что десорбцию ведут при постоянной температуре, при которой парциальное давление определяемого компонента над слоем сорбента на один - два порядка меньше максимальной концентрации этого компонента в анализируемом газе, а концентрацию определяемого .компонента находят по -величине энергии, затраченной на десорбцию.

На чертеже показана .кривая, характер-изующая изменение напряжения (U) на терморезисторе в зависимости от времени (т) для одного цикла изме|рения.

При наличии определяемого компонента в анализируемом газе изменение напряжения на терморезисторе определяется кривой 1-2- 3-4-5. После установления динамического равновесия между концентрацией определяемого компонента в анализируемом газе и содержанием этого компонента в слое сорбента включают палрев те|рморезистора. Участок кривой I-2 характеризует мгновенное изменение напряжения в момент включения нагрева. Участок кривой 2-3 соответствует прогреву терморезистора до температуры, при .которой парциальное давление определяемого ком.понента над слоем -сорбента на один-два порядка меньше максимальной концентрацпи этого компонента в анализируемом газе. В дальнейшем в течение всего процесса измерения температуру и сопротивление терморезпстора поддерживают постоянными. Участо.к кривой 3-4 характеризует прогрев слоя сорбента и определяемого (сорбируемого) компонента при установивщейся температуре терморезистора. Участок кривой 4-5 соответстует десорбции определяемого компонента из слоя сорбента. Постоянство на.пряжения на те1рморез11сторе, соответствующее участку крпвой 5-7, свидетельствует о полной десорбции определяемого компонента из слоя сорбента.

При отсутствии определяемого компонента в анализируемом газе изменение напряжения на терморезисторе определяется кривой 1 -

2-6-5, где участок кривой 2-6 характе|ризует прогрев терморезистора и Сорбента до постоянной температуры. Площадь 4-5-6 соответ1ствует энергии, затраченной «а десорбцию. По величине этой энергии находят концентрацию определяемого компонента.

Предмет изобретения

Способ анализа газов путем сорбции определяемого компонента сорбентом, нанесенным на терморезистор, и последующей его десорбции напреванием терморезистора электрическим током, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и чувствительности анализа, десорбцию ведут при постоянной темпе|ратуре, при которой парциальное давление определяемого компонента над слоем сорбента на один -два порядка меньше максимальной концентрации этого компонента в анализируемом газе, а концентрацию определяемого компонента находят по величине энергии, зат1раченной на десорбцию.