Способ измерения емкости и активной проводимости конденсаторов с потерями Советский патент 1974 года по МПК G01R27/26 

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЕМКОСТИ И АКТИВНОЙ

ПРОВОДИМОСТИ КОНДЕНСАТОРОВ С ПОТЕРЯМИ

Изобретение относится к способам изме рения параметров конденсаторов (емкости и активной проводимости) путем измерения полной проводимости, широко применяемым в измерительной технике и при исследова- НИИ свойств веществ электрофизическими методами. Известны способы измерения параметров конденсаторов. Наиболее распространен ными являются мостовой, резонансный, замещения, биений, метод амперметра и воль метра и т. п., а также способы, базирующиеся на использовании свойств цепи, модуль сопротивления которой при определенных соотношениях между входящими в нее реактивными сопротивлениями противоположного знака не зависит от ее активного сопротивления. Недостатком последнего способа является невозможность определе- иия активных потерь конденсатора; мостового метода - необходимость уравновешивания схемы измерений по активной и емкостной составляющим. К недостаткам остальных методов относится трудность учета влияния активной составляющей на результат замера. Цель изобретения - устранить ные недостатки, а также повысить точность измерения. Поставленная цель дости гается тем, что параллельно измеряемому конденсатору подключают образцовую меру. путем регулировки которой устаиавлпваюч заданное значение тангенса ут-ла потсзрь измерительной схемы и далее определяют искомые составляющие по/шой проподн- мости измеряемого конденсатора, когор,и,, при заданном значении тангенса yi-ла ли.. терь измерительной схемы, однозначно определяются величинами модулей гю;шой 1троводимости измерительной схемы и образцовой меры. На фиг. 1 изображена векторная диаграмма, поясняющая предлагаемый способ при тангенсе угла потерь измеряемого конденсатора Sjc , меньшем заданного значения тангенса угла потерь измерительной схемы tjtf(j| j на фш. 2 - то же, бо/ .

Измерение параметров конденсаторов с потерями по предлагаемому способу производится следующим образом. i npH-i,. , где 1 - . 2 угол Оо (см. фиг. 1) устанавливают заданный угол 2 путем добавления к пол. ной проводимости 3 измеряемого конденсатора образцовой активной проводимо-. сти 4 (в данном. случае в качестве образцовой проводимости может быть использована также индуктивная проводимость), тогда полной -проводимостью измерительной схемы будет проводимость 5. Емкостная проводимость 6 измеряемого конI денсатора равна проекции проводимости 5 на ось ординат, а активная проводимость 7 измеряемого конденсатора равна разности проекций 8 полной проводимости 5 на ось абсцисс и проводимости 4i

При . Х/й, (см. фиг. 2) устанавливают заданньш угол 2 путем добавления к полной проводимости 3 образцовой емкостной проводимости 9. В этом случае емкостная проводимость 6 измеряемого конденсатора равна разности проекции 10 полной проводимости 5 на ось ординат и приводимости 9, а активная проводимость

I измеряемого конденсатора равна проекции проводимости 5 на ось абцисс.

При использовании последовательной эквивалентной схемы измеряемого конденсатора рассуждения аналогичны приведенным выше, только в качестве образцовых мер вместо активной и емкостной проводимостей используют соответственно активное и емкостное сопротивление, которы включают последовательно с измеряемым конденсатором.

Предмет изобретения

Способ измерения емкости и активной проводимости конденсаторов с потерями путем измерения полной проводимости, отличающийся тем, что, с . целью повышения точности измерения, к измеряемому конденсатору подключают переменную образцовую меру, регулировкой образцовой меры устанавливают заданное значение тангенса угла потерь образованного двухполюсника, фиксируют величину образцовой меры и измеряют модуль полной проводимости измерительного двухполюсника, которые к определяют искомые параметры конденсаторов.