Устройство для контроля кривизны плоских поверхностей изделий Советский патент 1975 года по МПК B07C5/342 

Описание патента на изобретение SU471908A1

Двигаясь по транспортеру, изделие поступает на столик измерительного узла 4.

Источник света И, расширенный оптическим расширителем 12, проходит через растровую решетку 13. Растровая решетка 13 представляет собой ряд параллельных черных линий, нанесенных, например, на стеклянную пластинку с плотностью 3-5 лин/мм по всей пластинки. Оптическая система 14 проецирует изображение растровой решетки 13, отраженное от всей поверхности поверяемого полупроводникового изделия 15, в плоскость другой такой же растровой решетки 16 в масштабе 1:1. При оптическом наложении двух растровых решеток 13 и 16, в плоскости растровой решетки 16 формируется так называемая муаровая картина, состояшая из чередующихся темных и светлых полос. Муаровая картина является следствием «механической интерференции по аналогии с обычной интерференцией света. Возникающие муаровые полосы являются линиями уровня кривизны поверяемого изделия 15. Сканируя муаровую картину от всей поверхности поверяемого изделия и автоматически измеряя расстояние между полосами по всей площади изображения, производят контроль кривизны.

Результаты каждого измерения автоматически сравниваются с эталонной величиной, что позволяет разбраковать поверяемые пластины на годные и негодные. Это достигается тем, что муаровая картина, полученная в плоскости второй растровой решетки 16, проецируется объективом 17 через делительную пластину 18 и поворотное зеркало 19 в плоскость диафрагмы 21. Зеркало 19 вращается с помощью синхронного электропривода 20. осуществляя тем самым сканирование изображения муаровой картины относительно диафрагмы.

Предмет изобретения

Устройство для контроля кривизны плоских поверхностей изделий, содержащее источник монохроматического света, измерительный узел со столиком для размещения на нем контролируемого изделия, две растровые решетки, оптически сопряженные с плоскостью столика измерительного узла, оптическую систему с диафрагмой, фотоэлектрический приемник, установленный в световом потоке за диафрагмой, электронную схему, преобразующую сигналы от фотоприемника в управляющие импульсы, приемник контролируемых изделий, загрузочный узел, два транспортера, один из которых подает изделия на столик, а

второй - в приемник, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности контроля, оно снабжено зеркалом, закрепленным с возможностью поворота его в плоскости изображения и оптически сопряженным с

плоскостью диафрагмы, а источник света снабжен оптическим расширителем, установленным между этим источником и одной из растровых решеток.

Похожие патенты SU471908A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ ПЛОСКОСТНОСТИ ПОВЕРХНОСТИ 2004
  • Турухано Борис Ганьевич
  • Турухано Никулина
  • Добырн Владислав Вениаминович
RU2287776C2
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
  • Герловин Б.Я.
RU2263279C2
УЧЕБНЫЙ ОПТИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 1998
  • Амстиславский Я.Е.
RU2154307C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ ТЕЛА ЧЕЛОВЕКА 1972
SU435807A1
СКАНИРУЮЩИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
RU2264595C2
Способ определения деформаций ипЕРЕМЕщЕНий пОВЕРХНОСТи Об'ЕКТА и уСТРОйСТВОдля ЕгО ОСущЕСТВлЕНия 1979
  • Беседин Алексей Иосифович
SU815486A1
УЧЕБНЫЙ ПРИБОР ПО ОПТИКЕ 1996
  • Амстиславский Яков Ефимович
RU2112283C1
ДАТЧИК ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ 1971
  • В. М. Дубровенский, В. А. Зайцев, А. П. Почкаев, А. С. Фельдман
  • В. И. Чухлиб
SU315013A1
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ И ВОСПРОИЗВЕДЕНИЯ ТРЕХМЕРНОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1997
  • Якубович Евсей Исаакович
RU2119184C1
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ИНТЕРПОЛЯТОР ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИГНАЛОВ 1973
SU369423A1

Иллюстрации к изобретению SU 471 908 A1

Реферат патента 1975 года Устройство для контроля кривизны плоских поверхностей изделий

Формула изобретения SU 471 908 A1

SU 471 908 A1

Авторы

Альтман Жан Исаакович

Быков Павел Николаевич

Волпянский Альф Евгеньевич

Гуреев Вячеслав Алексеевич

Дорофеева Валентина Борисовна

Забелышенский Владимир Исаакович

Лагутин Александр Григорьевич

Малашенко Василий Ефимович

Рассин Леонид Ефимович

Смирнов Борис Васильевич

Тимошпольский Юрий Александрович

Даты

1975-05-30Публикация

1972-04-27Подача