Многоканальный дифрактометр Советский патент 1976 года по МПК G01N23/207 

размещены внутри центральной втулки и соединены через винтовые пары 22 и 23 (две другие не показаны) с индивидуальными приводами 24, 25.

Дифрактометр работает следующим образом.

Исследуемый образец устанавливается на валу привода его вращения 3. Одна из его кристаллографических плоскостей выводится в направление главной оси дифрактомегра.

Верхняя платформа гониометра 2 с приводом вращения 3 образца, одномерными детекторами 4 - 7 и механизмом 9 изменения расстояния между детекторами устанавливается на угол ц плоскости «плоского конуса, симметрично которой расположена группа плоскостей, подлежащих съемке.

Расстояние между одномерными детекторами 4 - 7 и положения их относительно нулевой плоскости рассчитываются из параметров элементарной ячейки исследуемого кристалла и номера регистрируемой плоскости.

Независимая прецизионная установка детекторов в расчетные положения производится вращением ручек-лимбов (при ручной установке) соответствующих индивидуальных приводов 24, 25. При этом вращение через зубчатую передачу передается шестерне-гайке винтовой пары 22 или 23 (две другие не показаны) и благодаря наличию на концах тяг 20 и 21 винтовой нарезки обеспечивается линейное перемещение тяг внутри центральной направляющей втулки.

Каждая тяга 20, 21 другим концом через продольные прорези в центральной втулке соединена с соответствующей телескопической втулкой 10-13 (а следовательно, и одномерным детектором) и сообщает им линейные перемещения по направляющей втулке. Для устранения поворота телескопические втулки 10-13 снабжены соответственно рычагами 14-17. Каждый рычаг имеет на конце два шарикоподшипника, охватывающих вспомогательный направляющий стержень 19.

Точность установки детекторов отсчитывается по лимбу, нанесенному на ручках приводов. После указанных операций включается привод вращения 3 исследуемого кристалла. Регистрация интенсивностей отражений ведется в каждом точечном элементе двумерного детектора (либо в заданном угловом интервале или за заданное время) и вместе со значениями углов Аи кристалла передается в вычислительную мащину (ЭВМ) для обработки и выдачи информации о структуре исследуемого кристалла в необходимой форме.

Формула изобретения

Многоканальный дифрактометр по авт.

св. № 458747, отличающийся тем, что, с целью упрощения прецизионной установки одномерных детекторов, последние прикреплены к телескопическим втулкам, установленным по центральной направляющей втулке с продольными прорезями, через которые телескопические втулки соединены с тягами, управляющими перемещениями одномерных детекторов, например, с помощью ходовых пар винт-гайка ручного или автоматического привода.

JO

ri n 19

3

7d

fut 1

2

25