Способ определения чистоты обработкиповерхности Советский патент 1976 года по МПК G01B11/30 

1

Изобретение относится .к области .контрольно-измерительной техники.

Известны способы определения чистоты обработки поверхности, заключающиеся в том, что направляют световой поток На контролнруемую поверхность -и регистрируют световой поток, отраженный от нее. Однако они не учитывают составляющую света, поглощенную на контролируемой поверхности, которая различна для различных материалов, что вводит неконтролируемую ошибку в результаты измерения.

Цель изобретения - повышение точности измерения.

Для этого 1при испытаниях контролируемую ловерхность поворачивают вокруг оси, пернендИ|Кулярной плоскости падения светового потока, регистрируют угол наклона, при котором отраженный от нее световой поток будет максимальным, затем регистрируют углы наклона, при которых отраженный световой поток будет составлять заданную часть, на.пример, половину от максимального, и но алгебраической разности этих углов с помощью градуировочных кривых определяют чистоту обработки поверхности.

На чертеже показано устройство, реализующее описываемый способ.

Устройство содержит источник 1 света, коллиматор 2 н приемное устройство, состоящее

из оптической системы 3, фотоэлемента 4 и мнкроамнерметра. 5.

Процесс определения чистоты обработки поверхности по данному способу заключается в следующем.

На контролируемую поверхность 6 направляют световой поток. Поворачивая образец, находят такое его положение, при котором показание микроамперлчетра 5 максимально, снимают это показание. Наклоняют образец в одну сторону, пока показание микроамперметра 5 не станет вдвое меньше максимального, отсчитывают угол наклона, соответствующий этому положению образца. Наклоняют образец в другую сторону и отсчитывают угол наклона, при котором показание мнкроамперметра вновь будет вдвое меньше максимального. По алгебраической разности этих углов с помощью градуировочных кривых определяют чистоту обработки поверхности исследуемого образца.

Форм у л а изобретения

Способ определения чистоты обработки поверхности, заключающийся ;в том, что направляют световой поток на контролируемую поверхность и регистрируют световой поток, отраженный от нее, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, поворачивают контролируемую поверхность

ЭОКруг оси, перпендикулярной плоскости падения светового потока, регистрируют угол наклона, при котором отраженный от нее световой ноток будет максимальным, затем регистрируют углы Наклона, при которых отраженный световой поток будет составлять заданную часть, например лоловину от максимального, и но алгебраической разности этих углов с помощью градуировочных кривых определяют чистоту обработки новерхности.