Способ контроля качества поверхности изделия Советский патент 1992 года по МПК G01B11/30 

Изобретение относится к области производства электронно-лучевых приборов, а именно к способам контроля качества алюминиевой пленки экранных покрытий электронно-лучевой трубки (ЭЛТ).

Известен способ контроля отражательной способности алюминиевой пленки, основанный на измерении интегрального коэффициента отражения при помощи шарового фотоэлектрического спектрофотометра (спектрофотометр регистрирующий СФ-14).

Недостатком такого способа является низкая точность и производительность контроля отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ.

Наиболее близким к предлагаемому способу является способ определения чистоты обработки поверхности материала по форме диаграммы рассеяния отраженного светового потока, которая характеризуется ее отражательной способностью.

Недостатком данного способа является невозможность определения отражательной способности алюминиевой пленки на экране ЭЛТ, вследствие того, что он имеет сферическую форму. А это обуславливает сложность обеспечения попадания светового луча в одну точку экрана при его повороте. Еще более сложно обеспечить необходимую точность измерений при контроле отражательной способности алюминия по всей поверхности экрана.

Цель изобретения - повышение точности и производительности контроля отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ.

Согласно предлагаемому способу устанавливают экран электронно-лучевой трубки в фиксированное положение по отношению к источнику излучения и двум фотоприемникам, направляют световой поток от источника излучения на контролируемый участок поверхности экрана. Регистрируют отраженный от поверхности световой поток двумя фотоприемниками одновременно в двух точках. Один из фотоприемников располагают в максимуме диаграммы рассеяния и по величине отраженного светового потока в максимуме определяют величину зеркального отражения алюминиевой пленки экрана, а второй фотоприемник располагают под упом 45-55° от- носительно максимума и измеряют отраженный световой поток, который зависит от степени шероховатости алюминиевой пленки экрана. По его величине определяют величину диффузного отражения. С помощью градуировочных кривых по величинам отраженных световых потоков,

измеренных фотоприемниками, находят коэффициенты зеркального, диффузного и полного отражения.

Предлагаемый способ поясняется чертежом.

На чертеже представлены: 1 - источник направленного излучения; 2 - фотоприемник, расположенный в максимуме диаграммы рассеяния; 3 - фотоприемник,

0 расположенный под углом 45°-55° относительно максимума диаграммы рассеяния; 4 - измерительное устройство в цепи фотоприемника 2; 5 - измерительное устройство в цепи фотоприемника 3; 6 - алюминироваи5 ный экран ЭЛТ; 7 - фиксаторы экрана; 8 - плита установки.

Контролируемый экран 6 устанавливают в фиксированное положение по отноше- нию к источнику излучения 1 и

0 фотоприсмникам 2 и 3 на плиту 8 до упора к фиксаторам 7. Калибруют мощность излучения источника излучения 1 (лазер ЛГН-105). Направляют луч лазера на контролируемый экран 6. Фотоприемник 2 (фотодиод ФД15 24 к) располагают в максимуме диаграммы рассеяния и снимают показания измерительного устройства 4 (усилитель на микросхеме К 140 УД7 с вольтметром на выходе) в цепи фотодиода ФДч.

0 Фотолриемник 3 (фотодиод ФДа-24 к) располагают под углом, например, 50° относительно максимума и снимают показания измерительного устройства 5 (усилитель на микросхеме К 140 УД7 с вольтметром на

5 выходе) в цепи фотодиода ФД2.

С помощью градуировочных кривых производят пересчет показаний измерительного устройства в коэффициент зеркального отражения (цепь фотодиода ФД1),

0 коэффициент диффузного отражения (цепь фотодиода ФД2), коэффициент полного отражения (цепи фотодиодов ФДч и ФДз), по которым определяют отражательную способность алюминиевой пленки экрана.

5 Перемещая экран по фиксаторам 7, обеспечивающим постоянство расстояний и углов измеряемого участка относительно источника света и фотоприемников, определяют отражательную способность алюмини0 евой пленки на поверхности всего экрана.

Использование заявляемого изобретения позволяет: с более высокой степенью точности контролировать отражательную способность пленки алюминия на экране

5 ЭЛТ по всей поверхности при их массовом производстве; повышает производительность измерений по контролю отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ; дает возможность дальнейшей корректировки технологических режи

мое нанесения пленки алюминия; увеличи-целью обеспечения возможности определевать яркость свечения за счет улучшенияния отражательной способности алюминиеотражательной способности пленки алюми-вой пленки экрана электронно-лучевой

ния.трубки, регистрацию отраженного от поверФормула изобретения5 хности светового потока производят двумя

Способ контроля качества поверхностифотоприемниками одновременно в двух точизделия, заключающийся в том, что направ-ках, соответственно в максимуме диаграммы

ляют световой поток от источника излуче-рассеяния и под углом 45-55 относительно

ния на контролируемый участокмаксимума, экран электронно-лучевой трубки

поверхности, регистрируют отраженный от10 устанавливают в фиксированное положение

поверхности световой поток, получают ди-по отношению к источнику излучения и фотоаграмму рассеяния отраженного от поверх-приемникам и определяют отношение этих

ности светового потока и по форме этойпотоков, по которому судят об отражательной

диаграммы судят о качестве поверхностиспособности алюминиевой пленки экрана

изделия, отличающийся тем, что, с15 электронно-лучевой трубки.

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к области производства электронно-лучевых приборов, а именно к способам контроля качества алюминиевой пленки экранных покрытий электронно-лучевой трубки (ЭЛТ). Цель изобретения - обеспечение возможности определения отражательной способности алюминиевой пленки экранов ЭЛТ. КонтроЬ Уч Чч ч лируемый экран б устанавливают в фиксированное положение по отношению к источнику 1 излучения и фотоприемникам 2 и 3 на плиту 8 до упора к фиксаторам 7. Калибруют мощность излучения источника 1 излучения. Направляют луч лазера нн экран б. Фото- приемник 2 располагают в максимуме диаграммы рассеяния и снимают показания измерительного устройства 4. Фотоприемник 3 располагают под углом 45-55° относительно максимума и снимают показания измерительного устройства 5. С помощью градуировочных кривых производят пересчет показаний измерительного устройства в коэффициент зеркального отражения, коэффициент диффузного отражения, коэффициент полного отражения, по которым определяют отражательную способность алюминиевой пленки экрана, Перемещая экран по фиксаторам 7, обеспечивающим постоянство расстояний и углов измеряемого участка относительно источника 1 света и фотоприемников 2 и 3, определяют отражательную способность алюминиевой пленки на поверхности всего экрана 6. 1 ил. Х| Х| ГО о 8