Спектрометр с интерференционной селективной амплитудной модуляцией Советский патент 1976 года по МПК G01J3/18 

ствие возможности контроля синхронности поворота дифракционных решеток не позвопяет ; осуществлять контроль за разностыо хода между интерферирующими лучами во вр мя работы cneKipOMeTpa. 4 Целью изобретения является повышение тотаости юстировки оптических элементов спектрометра и возможность контроля раз,Ности хода межод- интерферирующими лучами во времяего работы./ Цель достигается тем, что в известном спектрометре, состоящем из светоделитель-ной пластины, двух дифракционных решеток и оборачивающей системы, оборачивающая система выполнена из двух совмещенных вершинами прямоугольных призм, одна из которых равнобедренная, и плоского зеркала, совмещешюгЪ с гипотенузной граныо равнобедренной призмы, гипотенузная грань /ФУГой нормальна светоделительной пласти.не, а совпадающие катетные грани обеих призм нормальны лучам, диафрагированным от дифракцио1шых решеток. Выполнение оборачивающей системы укаранным образом позволяет увеличить чувствительность при установке зеркала оборачивающей системы, а следовательно, и точностью его юстироки. Кроме того путем деретгая зрачка прибора можно наблюдать од- )яовременно две тгтерференционные картиры: но обратно-круговой схеме и по автоколли мациоююй. При повороте дифракционных решеток по изменению контраста интерференционной картин в автоколяимационной схеме можно определять ошибки в настройке обратнокруговой схемы и контролировать разрость хода интерферирующих лучей в процес- jce работы спектрометра. . На чертеже изображена принципиальная схема спектрометра с интерференционной селективной амплитудной модуляцией. Спектрометр состоит из светоделитель|аой пластины 1, дифракционных решеток 2 3 и оборачивающей системы, выполненной ра плоского зеркала 4, прямоугольной призг мы 5 и прямоугольной равнобедренной приз 6. ; При этом гипотенузная грань призмы 5 гстановлена нормально к пластине 1, а зер; |кало 4 оборачпаваюшей системы совмещено р гипотенузной гранью призмы 6. Призма 5 имеет угол при вершине 9О , а два /фугих утпа 45 -ти Чб + , где - ruJi между падаюши ли и даафрагированными лу дами. Параллельный лучок лучей падает на пластину 1 и делится на прошедший и от- раженный пучки, которые падают на дифракдаонные решетки 2 и 3. Диафрагировагаые этих решеток пуч- и лучей с одной anHHoi олны направляются нормально к катетным граням призм 5 и 6, отражаются от них и направляются обратно на решетки 2 и 3. Вторично диафрапагрованные пучки лучей сое диняются на пластине 1 и интерферируют. В такой оборачивающей системе каждый i |пуч отражается дважды от одной решетки и рохраняет те же углы падения и дафракцйи, tifo и в схеме с одним зеркалом. ПояожеSrae гипотенузной грани призмы 5 относительно пластины, 1 и ее углы определяют положение дифракционных решеток 2 и 3 и равнобедренной призмы 6, которая определяет положение зеркала 4 оборачивающей ристемы. Формула изобретения Спектрометр с интерференционной селективной амплитуд11ой модуляцией, состоящий из светоделительной пластины, двух дифракционных решеток и оборачиваюш.ей системы, отличающийся тем, что, с целью повышения точности юстировки оптических элементов спектрометра и обеспечения воз- можности контроля разности хода между интерферирующими лучами во время его работы, оборачивающая система выполнена из двух совмешеш ых вершинами прямоугольных призм, одна из которых рав11обедре шая, и плоского зеркала, совмещенного с гипо- тенузной гранью равнобедренной призмы, ги- цотенузная грань другой нормальна светоде- лительной пластине, а совпадающие катетные грани обеих призм нормальны лучам от диф{эакционнык решеток. Источники информации, принятые во В1Шмание при экспертизе: 1.Архипов.В. М. Об условиях ос тцеств- Ления СИСАМ Физические проблемы спектроCKoiraw т. 2, К. 1963, 66. 2.Авт. св. № 138393, GO1 j 3/18, 197О (прототип).