Установка для измерения электропроводности плазмы Советский патент 1976 года по МПК G01R27/00 H05H1/00 

Описание патента на изобретение SU537307A1

1

Изобретение относится к устройствам для физических лабораторных исследований свойств плазмы.

Известны установки для определения электропроводности плазмы, содержащие электроды, камеру, изоляторы и патрубок подачи рабочего вещества в камеру 1.

Их недостаток - пространственная неоднородность свойств плазмы.

Наиболее близкой к предлагаемой установке является установка для измерения электропроводности плазмы, содержащая камеру, соединенную с системами откачки и напуска инертного газа, размещенные внутри камеры цилиндрическую ампулу и резервуар для исследуемого вещества, изолированный от ампулы внутренний электрод с торцовой рабочей поверхностью, установленный внутри ампулы соосно ей, нагреватель и изолятор 2.

Невысокая точность измерения этой установки при высоких давлениях обусловлена температурными градиентами вдоль нормалей к металлическим обкладкам металлокерамических узлов, вызывающими генерацию паразитной Э.Д.С., включенной параллельно измерительному межэлектродному зазору.

Цель изобретения - повыщение точности измерений при высоких давлениях.

Это достигается тем, что в предлагаемой установке амлула и резервуар выполнены в

виде сообщающихся сосудов, причем выходные отверстия каналов, соединяющих ампулу с резервуаром, расположены у торца ампулы, противополол ного месту расположения рабочего торца электрода, резервуар снабжен элементами, например сильфонами, обеспечивающими возможность перемещения по крайней мере одной его стенки без нарущения герметичности, а изолятор выполнен в

виде диэлектрической трубки, один конец которой выведен из ампулы, имеет внутренний и наружный диаметры соответственно больше наружного диаметра внутреннего электрода и меньще внутреннего диаметра ампулы и установлен соосно указанному электроду.

На чертеже представлен один из возможных вариантов установки.

Она состоит из камеры 1 с патрубками откачки 2 и напуска 3 инертного газа, ампулы 4

и резервуара 5 для исследуемого вещества, имеющего гибкую диафрагму 6 и подсоединенного к шприцу 7. Отверстия 8, соединяющие резервуар с полостью ампулы, расположены вблизи крепежного днища 9 камеры;

внутренний электрод 10 выполнен подвижным и снабжен смотровым пирометрическим окном 11 и гибкой диэлектрической магистралью 12, подсоединенной к камере. Изолятор 13 уплотнен совмещенными по высоте

подвижным 14 и неподвижным 15 сальниками.

Ампула нагревается печью. Для локализации лучистых потоков тепла в установке предусмотрены экраны 16. Для измерения электропроводности предусмотрен блок регистрации 17.

Установка работает следующим образом.

Включается откачка камеры 1, печь. Далее шприцем 7 вводится исследуемое вещество в резервуар 5, отсекается откачка и напускается инертный газ, например аргон, до заданного давления. Затем температура ампулы 4 выводится на нужный уровень, при этом исследуемое вещество частично вытесняется в резервуар 5. Диафрагма 6 передает давление аргона в полость ампулы, что задает давление исследуемой среды, равное окружающему. Наличие диафрагмы устраняет возможность растворения инертного газа в жидком исследуемом веществе, т. е. гарантирует чистоту последнего.

Измерение электропроводности осуществляется с помощью блока 17, подсоединенного к установке коаксиальным кабелем. Эта мера гарантирует устойчивость цепи измерений по отношению к внешним электромагнитным полям. Температура плазмы в торцовом измерительном зазоре между электродом 10 и ампулой 4 контролируется эталонным оптическим пирометром через окно 11. Изолятор 13, разделяя электроды, выполняет также роль охранного электрода, сводя к минимуму боковые паразитные токи на электрод 10. В силу протяженности этого изолятора рост проводимости в направлении от измерительного зазора к уплотнениям, т. е. в . направлении уменьщения температуры, не может полностью зашунтировать зону измерений. Поэтому данная конструкция, установки допускает работу в сверхкритической области параметров исследуемого вещества. Сальники 14 и 15, совмещенные но высоте, ограничивают жидкометаллические обкладки изолятора 13 в направлении нормали, к которым температура постоянна н не вызывает генераи,ию э.д.с., включенной параллельно измерительному зазору. В результате, точность измерений существенно возрастает.

По окончании опыта откачивают камеру 1, в результате чего исследуемое вещество возвращается в щприц 7. Отсекая последний, можно выполнять любые работы с ампулой вплоть до ее замены и проводить дальнейшие исследования с минимальными потерями плазмообразующего вен1ества.

Формула II 3 о б р е т е н и я

Установка для измерения электропроводности плазмы, содержащая камеру, соединенную с системами откачки и напуска инертного газа, размещенные внутри камеры замкнутую цилиндрическую ампулу и резервуар для исследуемого вещества, изолированный от внутренний электрод с торцовой рабочей поверхностью, установленный внутри ампулы соосно ей, нагреватель и изолятор, отличающаяся тем, что, с целью повыщения точиости измерений при высоких давлениях, ампула и резервуар выполнены в виде сообщающихся сосудов, причем выходные отверстия каналов, соединяющих амиулу с резервуаром, расположены у торца ампулы, противоположного месту расноложения рабочего торца электрода, резервуар снабжен элементами, например сильфонами, обеспечивающими возможность перемещения по крайней мере одной его стенки без нарушения герметичности, а изолятор выполнен в виде диэлектрической трубки, один конец которой выведен из ампулы, имеет внутренний и наружный диаметры соответственно больше наружного диаметра внутреннего электрода и меньще внутреннего диаметра и установлен соосно указанному электроду.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1.Роэлинг Д. Термоэмиссионное преобразование энергии. Сб. докладов, т. 1, М., Атомиздат, 1964, с. 53.

2.Авт. св. СССР № 405077, кл. G 01R 27/00, 1972.

/J

Похожие патенты SU537307A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ 1973
  • Витель Н. В. Ермохин, П. П. Кулик В. А. Бый
SU405077A1
ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ МАССИВНЫЙ КАЛОРИМЕТР И СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕПЛОТЫ АДСОРБЦИИ И ХИМИЧЕСКИХ РЕАКЦИЙ ГАЗОВ 2010
  • Чесноков Владимир Владимирович
  • Чесноков Дмитрий Владимирович
RU2454641C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИОННОЙ ОБРАБОТКИ ПРОВОЛОЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ 1984
  • Чикин Е.В.
  • Орликов Л.Н.
  • Носков Д.А.
  • Коврижных В.И.
  • Абияка А.Н.
  • Абакумов Е.П.
  • Левщук Л.А.
SU1213904A1
УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ МЕТАЛЛОПОДОБНОЙ ПЛАЗМЫ 1973
  • Витель Н. В. Ермохин, В. М. Кал Вкин, Б. М. Ковалев, П. П. Кулик А. Ю. Попов Московский Ордена Ленина Авиационный Институт Серго Орджоникидзе
SU405079A1
Высокочастотный источник ионов 1981
  • Дьячков Борис Александрович
  • Казанцев Георгий Васильевич
  • Павлов Владимир Яковлевич
  • Васильева Людмила Семеновна
  • Агафонова Валентина Анатольевна
SU1144160A2
Способ определения характеристик взаимодействия электронов с атомами и молекулами газа и устройство для его осуществления 1985
  • Игошин Ф.Ф.
  • Овчинников А.П.
  • Теврюков А.А.
  • Фрейберг Г.Н.
SU1326005A1
УСТРОЙСТВО НА ОСНОВЕ УДАРНОЙ ТРУБЫ ДЛЯ СИНХРОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ПЛАЗМЫ 2022
  • Акимов Юрий Владимирович
  • Быкова Наталья Германовна
  • Забелинский Игорь Евгеньевич
  • Козлов Павел Владимирович
  • Левашов Владимир Юрьевич
  • Герасимов Геннадий Яковлевич
RU2794434C1
ПЛАЗМОХИМИЧЕСКИЙ СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ХАЛЬКОГЕНИДНЫХ СТЕКОЛ СИСТЕМЫ As-S И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2015
  • Мочалов Леонид Александрович
  • Лобанов Алексей Сергеевич
  • Стриковский Аскольд Витальевич
  • Костров Александр Владимирович
  • Степанов Андрей Николаевич
  • Воротынцев Владимир Михайлович
  • Нежданов Алексей Владимирович
  • Машин Александр Иванович
RU2585479C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ СЧЕТЧИКА ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ 2020
  • Митрофанов Евгений Аркадьевич
  • Симакин Сергей Борисович
  • Шабалкин Алексей Вячеславович
RU2765146C1
Способ обработки металлических деталей импульсной плазмой 1986
  • Ляшенко В.Н.
  • Скворцов Ю.В.
  • Церевитинов С.С.
SU1407384A1

Иллюстрации к изобретению SU 537 307 A1

Реферат патента 1976 года Установка для измерения электропроводности плазмы

Формула изобретения SU 537 307 A1

SU 537 307 A1

Авторы

Ермохин Николай Васильевич

Кулик Валентина Яковлевна

Кулик Павел Павлович

Рябый Валентин Анатольевич

Даты

1976-11-30Публикация

1975-06-06Подача