Способ измерения индукции переменного магнитного поля Советский патент 1976 года по МПК G01R33/06 

1

Изобретение относится к области приборостроения.

Известны способы измерения индукции неременного магнитного поля, возникающего при работе .магнитных головок. Для реализации этих способов имеется различная аппаратура. К ней относится, например, устройство 1, представляющее собой электронный зеркальный микроскоп, при помощи которого можно с высокой степенью точности определять параметры ПОЛЯ ГОЛОВКИ и его конфигурацию. Но это устройство СЛОЖНО, дорого в эксплуатации и совершенно непригодпо для массового применения на предприятиях-изготовителях, a тем более в ремонтных мастерских. Также сложна реализация способа при помощи поляризованного луча лазера 2, направляемого на пленку магнитного материала, установленную между стеклянными пластинами. Возле этой же пленки перемещают рабочий зазор головки.

Известен также способ измерения индукции переменного магнитного поля 3, возникающего при работе магнитных головок, основанный на предварительной балансировке измерительного моста, имеющего в одном плече датчик, а в диагонали - стрелочный измерительный прибор, последующем введении датчика в измеряемое переменное магнитное поле и сравнении полученной на датчике величине напряжения с аналогичной величиной, полученной при введении датчика в регулируемое постоянное магнитное ноле.

Однако аппаратура, необходимая для реализации этого способа, сложна, а сами измерения длительны во времени и недостаточно точны.

Для повышения точности измерений, сокращения их времени и упрощения аппаратуры, реализующей данный способ, предлагается

способ, согласно которому постоянное магнитное поле создают не изменяющимся ио величине, регулируют ток питания помещенного в это поле гальваномагниторекомбинационного датчика, полученные напряжение на его выходе и угол отклонения стрелки измерительного прибора приводят в соответствие с аналогичными параметрами, полученными в неременном viarHHTHOM поле, и по изменению величины тока питания датчика в момент совпадения

указанных параметров для переменного и постоянного полей определяют величину индукции переменного магнитного поля, при этом источник питания градуируют в единицах индукции измеряемого поля.

На чертеже показана схема, реализующая описываемый способ.

Источник питания 1 включен в диагональ моста, состоящего из датчика 2 гальваномагниторекомбинационного тина и резисторов 3, 4

и 5. В другую диагональ моста включен изме