1
Изобретение относится к области машиностроения, в частности к устройствам по контролю качества деталей машин.
Известны установки для обнаружения дефектов поверхности шариков, содержаш;ие оптическую систему и фотоэлектрический прибор, фиксирующий дефекты, и устройство для вращения в двух взаимно-перпендикулярных плоскостях испытуемого щарика, угловые скорости вращения которых различны. Это устройство выполнено в виде установленного вертикально вращающегося, пневматического сопла, устанавливаемого эксцентрично относительно центра шарика и образующего воздушную подушку, в которой щарик вращается в двух плоскостях: в вертикальной - под влиянием эксцентричного расположения сопла, а в горизонтальной - вместе с соплом.
Целенаправленный луч света, отраженный от поверхности шарика, попадает через оптическую систему на фотоэлектрический прибор, и шарики, у которых на поверхности обнаружены дефекты, автоматически отбраковываются 1.
Однако такие установки обладают недостатками, заключающимися в том, что шарики в воздушной струе получают колебательное перемещение, замедляющее вращение. При этом отдельные точки поверхности минуют
целенаправленный луч, что снижает точность фиксации дефектов по всей поверхности.
Целью изобретения является обеспеченно стабильности вращения щариков и увеличение скорости их вращения при контроле, а также улучщение качества обнаружения дефектов.
Это достигается тем, что вращение шарику придают при помощи двух взаимно-перпенднкулярных магнитных полей, для чего устройство по вращению шариков выполнено в виде двух взаимно-перпендикулярных магнитных многополюсников и проходящими через отверстия многополюсников направляющими с подшипниками, например, качения, на которых располагаются исследуемые шарики, причем для прижима щариков к нанравляющим отдельные полюса магннтов многополюсника соединены с источником постоянного тока.
На фиг. 1 показана принципиальная схема установки; на фиг. 2 - схема магнитного многополюсника.
Установка состоит из магнитного многополюсника 1, катушки 2 которых соединены с
источником 3 переменного тока, а катушки 4 - с источником 5 постоянного тока. Внутри многополюсника на подшипники 6, например, качения, выполненные из диэлектрического материала, зстановленные на направляющие
7, помещают исследуемый щарик 8. Вне магнитного многополюсника на неподвижном основании установлены источник 9 света и фотоприемник 10, электрически связанный со схемой 11 анализа и через нее - с блоком коммутации 12, отбраковывающие дефектные шарики автоматически.
Установка работает следующим образом.
Исследуемый шарик 8 устанавливают на подшипники 6 внутри магнитного многополюсника 1.
Переменный ток, поступающий в обмоткн катушек 2 приводит к возникновению внутри пространства, охваченного, магнитным многополюсником 1, вращающегося м агнитного поля, аналогично вращающемуся магнитному полю, создаваемому в асинхронных двигателя,х. При этом частота переменного тока, подаваемого в обмотки на вертикальном магнитопроводе больше, чем частота тока, подаваемого в обмоткн горизонтального магнитопровода. Это нрнводит к тому, что внутри пространства, охваченного многополюсниками, магнитное поле будет вращать шарнк 8 одновременно в двух взаимно-перпендикулярных плоскостях, причем в одной из плоскостей быстрее, чем в другой, что позволяет последовательно во времени контролировать всю поверхность шарика. Свет от источника 9 падает на поверхность шарика 8 и, отражаясь от контролируемой точки на поверхности шарика, поступает в фотоприемник 10.
Сигнал о состоянии поверхности шарика 8 с фотоприемника 10 поступает в схему 11 анализа, где по амплитуде колебаний принятого сигнала определяют качество шарика. Сигнал о качестве шарика поступает на коммутирующий блок 12, который качественные Н1арики пропускает по пути 13, а некачественные шарики - по пути 14. Внутрь пространства, охваченного многополюсником 1 шарики 8 поступают по направляющим 7 в отверстия в магнитопроводе. Для удержания шариков на подшипниках 6 при вращении, на отдельные обмотки 4 подается постоянный ток, что приводит к создаиию постоянного магнитного поля, прижимающего шарики 8 к направляющим, так как магнитное поле стремится вращать исследуемые шарики 8 и шарики подшипника 6 в одном направлении, совпадающем с направлением врашения магнитного поля, то для исключения влияния магнитного поля на вращение подшипников 6
последние выполнены из диэлектрического материала.
Таким образом предлагаемое устройство позволяет осуществить стабильное вращение шариков с более высокой скоростью, чем у известных устройств, что повышает производительность устройства и точность контроля.
Формула изобретения
1.Сиособ обнаружения дефектов поверхности шариков, при котором шарику иридают
вращение в двух взаимно перпендикулярных плоскостях, угловые скорости в которых различны, освещают шарик целенаправленным лучом света и определяют дефекты по отраженному лучу, отличающийся тем, что, с
целью новышения стабильности вращения шарика и увеличения скорости, вращение шарику придают при иомощи двух взаимно-перпендикулярных магнитных полей.
2.Установка для обнаружения дефектов поверхности шариков, содержащая устройство
для придания шарикам вращения в двух взаимно-перпендикулярных плоскостях, угловые скорости которых различны, источиик света и фотоэлектрический прибор для фиксации дефектоа, отличающаяся тем, что, с целью обеспечения стабильности вращения шариков, улучшения качества определения дефектов и повышения производительности, устройство для вращения шариков выиолнено в виде двух
взаимно-перпендикулярных магнитных многополюсников.
3.Установка по п. 2, отличающаяся тем, что, с целью повышения устойчивости шариков на позиции исследования дефектов,
она снабжена проходящими через магнитные многополюсники направляющими с подшипниками, на которых устанавливаются исследуемые шарики.
4.Установка но пп. 2иЗ, отличающаяс я тем, что, с целью прижатия исследуемых
шариков к подшипникам направляюших, отдельные полюса магнитов многополюсника соединены с источником постоянного тока.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1. Авторское свидетельство СССР 188040, кл. G 01В 13/16, 1965.
Pue.j
риг. 2
