Способ тепловой дефектоскопии Советский патент 1978 года по МПК G01N25/72 

Изобретение относится к области нераэрушающего контроля качества изделий и ма териалов. Известен способ тепловой дефектоскопии изделий, при котором контролируемую зону изделия нагревают путем пропускания через него электрического тока и измеряют при помощи термопары температуру нагрева и по отклонению этой температуры от темпе ратуры нагрева бездефектной зоны судят о наличии дефекта . Однако этот способ не обеспечивает высокой точности контроля. Наиболее близким техническим решением к предлагаемому изобретению является способ обнаружения дефектов в изделиях, заклю чающийся в нагреве изделия подвижным источником тепловой энергии с последующей регистрацией температурного распределения нагреваемой поверхности изделия подвижным тепловым приемником (радиометром), перемещающимся со скоростью движения источника с некоторой постоянной задержкой относительно последнего Т2Т . При этом над участками отслоения наблюдается повышение температуры, по которому можно выявлять отслоения. Подобный способ позволяет обнаружить и другие дефекты изделиЙJ такие, как изменение тешюфизических характеристик материала изделия и изменение коэффициента излу1ения поверхности изделия 3 рабочей для теплового приемника области спектра. Недостатком описанного способа ЯЕзляется то, что при случайном изменении толщины изделия сигнал теплового приемника изменяется так же, как и при нал1гчии одного из перечисленных дефектюв. Для повышения точности контроля по предлагаемому способу одновременно с регистрацией распределения температуры по поверхности изделия тепловым приемником регистрируют изменение толщины изделия вдоль той же линии сканирования нетопловым датчиком толщины, сканирующим поверхность изделия синхронно с тепловым приемником, сравЕшвают сигналы теплового приемника и датчика толщины и по результатам сравнения судят о наличии в изделии дефектов пи