Способ определения механических и магнитных свойств поверхностных слоев магнитных материалов и тонких пленок Советский патент 1978 года по МПК G01R33/02 

На. чертеже приведена принципиальная схема реапизации предлагаемого способа, где показан исспедуемый образец 1, на поверхность 2 которого опирается стержневой постоянный магнит 3, являющийся магнитом - индентором, точка 4 - погтюс магнита-индентора 3, точка 5 - ее зеЁЬкапьное отражение относитепьно поверхности 2. Если на испытуемБЕй образец опирается стержневой постоянный магнит со сферичес КИМ концом, то , где F - усилие отрыва постоянного магнит от испытуемого .образца I а - расстояние от полюса магнита (точка 4) до поверхносити испВхтуемого образца q магнитный заряд, сосредоточенный в полюсе nqcTO HHoro магнита , О -наведенный магнитный заряд в точ 5 зеркального отражения исследуемого об разца. Наведенный магнитный заряд о равен поверхностному интегралу намагниченност dS Г11е3,3„ камагш1чет1осттл материала, соответственно в деформированной и недеформиро ванной зонах , &. и .оверхности, ограничивающие, соответственно, деформированную и недефор миррванную зоны. Намагниченность t . определяется магнитной восприимчивостью 3. Восприимчивость участка поверхности 2 с переменным радиусом равна 36 i недеформированной поверхности 96- „ - Где в€,МЭ6г магнитные восприимчивости мате риапа в деформированной и недёформированной зонах. Поспе апгебраичес уях преобразований -№-.--)-.Й где Р - усилие отрыва магнита-индентоа - расстояние от полюса магнита-индеитора до исследуемой поверхностиJ Г- радиус деформированной зоныЭ€ М магнитные восприимчивости материала соответственно в деформированной и не деформированной зонах J Q-магнитный заряд, сосредоточенный в попюсе постоянного магнита. Из полученного уравнения следует, что изменение усилия отрыва f обусловлено лишь степенью деформации, определяемой радиусом у деформированной зоны и изменением восприимчивости э€- материала в этой зоне. Величина радиуса f деформированной зоны для данного материала однозначно связана с величиной нагрузки Р на постоянный магнит. Таким образом, измеряя величины усилия F отрыва постоянного магнита и на1 рузки Р на магнит, можно определить чувствительность магнитной восприимчивости к степени пластической деформации € поверхно стного слоя исследуемого образца или тон кой пленки. Эта зависимость лредставляет- ся формулой: л-г--17(р)а&1 1- и(Р) где А - - - постоянная магнита -ин-« дентора, характеризующая его магнитные свойства; U(P1 яг -.. /, - величина, однозначна зависящая от Т а следовательно, и от параметра Р . В предельном случае при определя- .ется магнитная восприимчивость тонкого поверхностного слоя недеформированного материала. Формула изобретения Способ определения механических и магнитных свойств поверхностных слоев магнит ных материалов и тонких пленок путем деформации и намагничивая испытуемого образца, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, образец с помощью постоянного магнита одновременно деформируют и намагничивают, измеряют сипу нажатия магнита на поверхностный слой, измеряют усилия отрыва магнита от поверхностного слоя, по зависимости силы нажатия от усилия отрыва магнита от поверхностного слоя судят о пределе те.кучести и абсопютной магнитной проницаем ости испытуемого образца.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1.Суху Р. ААагнитные тонкие пленки, М., Мир, 1967, с. 269-270.

2.Авторское свидетепьство СССР N 373581, кп. Q 01 N 3/42, 1972.