Интерференционный длинноволновый отрезающий фильтр Советский патент 1978 года по МПК G02B5/28 

(54) ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ ДЛИННОВОЛНОВЫЙ ОТРЕЗАЮЩИЙ ФИЛЬТР ческая толщина слоя первого,считая от подложки, элементарного фильтра системы; между I и (1+ 1) элементарньвш фильтрамц слой с оптической толщиной (l,., (l.2,3...p-l) , и между системой и воздухом введены слои с оптическими толщинами (1,4«1,6) ojsl и (0,270,3)Ар- и показателями преломле ния Tij и Пц соответственно. На чертеже схематически изображена конструкция фильтра. Она состоит из подложки 1, элементарных фильтров 2,3...P+i и введенных слоев, обозначенных заштрихованными прямоугольникаР+2, Р+3...2р+3. Такая система обладает В1х;оким коэф фициентом пропускания в рабочей области спектра и несложна в изготовлении. Высокий коэффициент пропускания дости гается за счет введения выиеуказанных слоев 4 При выборе tj (оптической толщины слоя первого, считая от подложки, эле ментарного фильтра) следует исходить из соотношения tj(0,370,35)Х. гдеА1коротковолновая граница зоны подавления. Формула изобретения Интерференционный длинноволновый о резающий фильтр, содержащий интерфере ционную систему, состоящую из Р эле,.

УУ/ХУ-У/У

//гр

УУ/УУУУХ

////////J-///

. ментарных равнотолщинных фильтров,каждый из которых содержит нечетное число чередующихся равното; и1инных слоцв из веществ -с меньшим () и большим (п|) показателями преломления, расположенную на подложке с показателем преломления ; f причем оптические толщины слоев фильтров системы возрастают по мере удаления от подложки, и отношение оптических толщин любых соседних элементарных фильтров . равно 1,0 : (l,4fl,6),0 т л и ч а ю щ и я с я тем,что, с целью увеличения пропускания фильтра в рабочей области спектра,центр которой расположен на длине волны Лр,введены слои;между системой и подложкой слой с показателем преломления п и с оптической толщина) (0,4тО,5)1о,где to оптическая толщина слоя первого, считая от подложки, эл ментарного фильтра; между t и (t+1) элементарными фильтрами слой с оптической толщиной (1,4 i-1,6) - l,25tp и между системой и воздухом введены слои с оптическими толщинами (1,4V 1,6)-ОуЗеоИ (0,2тО,3)Ар и показателями преломления п иПцсоответственно. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: 1.Авторское свидетельство СССР I 367401,кл. О- 02 В 5/28, 1970. 2.Крылова Т.Н. Интерференционные покрытия. Л., 1973, с. 144. 3.Хасс Г. и др. Физика тонких пленок, т. 5, М., 1972, с. 72.