Образец для высокотемпературного микроскопа Советский патент 1978 года по МПК G01N1/36 

(54) ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОГО МИКРОСКОПА

Образец работает следующим образом.

Для исследования микроструктуры образец надевают на нагреватель так, чтобы оптическая ось микроскопа (на чертеже не показана) была перпендикулярна одной из граней 1. После излучения микроструктуры на одной из граней образец поворачивают вокруг его оси так, чтобы последующая грань стала перпендикулярно оптической оси микроскопа, и так производят повороты образца до тех пор, пока не будут изучены все нужные грани. При этом производят нагрев и охлаждение образца по необходимому режиму путем включения и выключения электрического тока. Если нужно сравнить микроструктуру нескольких разнородных металлов или сплавов в условиях одного термодикла на одном микроскопе, то на нагреватель надевают несколько одинаковых по форме и размерам образцов.

Формула изобретения

1.Образец для высокотемпературного микроскопа, преимущественно многослойный, выполненный со сквозным осевым отверстием и лыской с металлографическим щлифом на наружной поверхности, отличающийся тем, что. с целью повышения достоверности результатов наблюдения за изменением микроструктуры в условиях циклических теплосмен и упрощения конструкции, он выполнен в виде кольца с границами соединения разнородных слоев, расположенными перпендикулярно оси вращения образца.

2.Образец по п. 1, отличающийся тем, что наружная поверхность его выполнена граненой.

3.Образец по п. 2, отличающийся тем, что грани наружной поверхности выполнены в виде Металлографического шлифа.