Установка для исследования образцов при высоких температурах Советский патент 1978 года по МПК G01N1/44 G01N27/00 

Изобретение касается исследования образцов гфи вьюоких температурах, в частности оптических исслелований. Известны установки для исслепования офазцов, в которых образцы, зажатые в токопоаводах, нагревают путем пропускания через них электрического тока (1J . К недостаткам этих установок относит ся неравномерность нагрева по длине образцов из однородных магериалов и нерав- номерность нагрева по толщине или ширине образцов из композиционных материалов. Известны также установки для исслепования образцов, в которых нагреваемый образец находится внутри электроизолированного от него нагревателя и наблюав- кие за ним ведут через щель в нагревателе f2 . Недостатком такой установки является низкий КПД к зафудненное наблюдение за образцом. Целью изо етення является повышение эффективности исследования. Это достигается тем, что в предложенной установке нагреватель выполнен в стержня, в электроизоляция - в форме трубки из теплопроводного материала, преи 1ущественно кварцевого стекла, н подвижно, например посадкой с зазором, установлена на нагревателе. На чертеже схематически изобатажена предложенная установка, разрез. Установка содержит герметичную камеру 1 с окном 2 для исследования образцов 3 высокотемпературным микроскопом 4. В камере 1 установлен нагреватель 5, выполненный в виде цилинд{)ического стержня из ы 1сокоомного тугоплавкого материала, например вольфрама. Его концы зажаты хомутами 6 в токоподводах 7. На нагреватель 5, подвижно, например посадкой с зазором, налета кварцевая трубка 8. Установка работает следующим обра зом. На кварцевую г)убку 7 посадкой с зазс ом, например скользящей, надевают нагреваемый образец 3, а через нее njjo