Способ вихретоковой дефектометрии Советский патент 1978 года по МПК G01N27/86 

Описание патента на изобретение SU632946A1

изделия, фиксируют максимальные значения ЭДС в каждой из катушек, а так же точку на поверхности изделия, над которой ЭДС в измерительных катушках проходит через нуль. Это Судет искомая точка над дефектом. Глубину зале гания дефекта определяют с помощью fiK-. г h - глубина залегания дефекта, К - коэффициент пррпорциональности, E.Ej- максимальные ЭДС, наведенные в каждой из пар измери тельных катушек. Для определения коэффициента К кладут прокладку толщиной ti из ма териала, идентичного по своим электр ческим параметрам контролируемому, и проделывают все аналогично описанному выше. Для случая с прокладкой п лучают отношение Ё1, / Е . Тогда из формулы получают искомый коэффициент. При из вестной глубине залегания 1п и максимальной ЭДС Е одной из пар катушек размер дефекта Р определяют по упрощенной формуле )лГГ При построении графика aedi) для имитации разных глубин залегания дефекта используют ряд пластин известной толщины из контролируемого материала, которые кладут на пластину то щиной 1 мм со сквозным отверстием диаметром 1 мм. В этом случае значения эс(11)получают как V / J 1мм -(11,)-, -толщина пластины, -максимальная ЭДС катуиши при данной пластине. Примерный вид этой зависимости показан на фиг. 2. В общем случае она зависит как от конструктивных особенностей преобразователя, так и от параметров контролируемого материала и частоты электромагнитного сигнала. Реализация предлагаемого способа обеспечит повышение точности измерений за счет использования в нем измерения только амплитудных характеристик сигнала. Формула изобретения Способ вихретоковой дефектометрии, заключакадийся в том, что в объекте контроля возбуждают вихревые токи и измеряют нормальную ссставляквдую магнитного поля, обусловленного ими, отличающийс я тем, что, с целью повышения точности измерений, нормальную составляющую магнитного поля измеряют двумя катушками различного диаметра, а о глубине залегания дефекта и его размерах судят по отношению максимумов полученных ЭДС и абсолютной величине одного изних. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: 1.Авторское свидетельство СССР 191196, кл G01 N 27/86, 1963. 2.Авторское свидетельство СССР 179070, кл. G 01 N 27/86, 1961. 2 3

Похожие патенты SU632946A1

название год авторы номер документа
Способ магнитошумовой структуроскопии ферромагнитных изделий 1979
  • Дроздова Ольга Александровна
  • Дроздов Александр Александрович
SU868545A1
Магнитошумовой датчик 1979
  • Васильев Василий Михайлович
  • Андрианов Алексей Владимирович
SU842654A1
Вихретоковый наклодной дифференциальный преобразователь 1976
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Лазуткин Олег Николаевич
SU628437A1
Вихретоковый способ определения размеров дефектов 1980
  • Тетерко Анатолий Яковлевич
  • Учанин Валентин Николаевич
SU926580A1
Способ индукционного исследования обсадных колонн и устройство для его осуществления 1980
  • Шлеин Алексей Тимофеевич
  • Плахотнюк Александр Николаевич
SU885545A1
СПОСОБ ИНДУКЦИОННОГО ЧАСТОТНОГО ЗОНДИРОВАНИЯ 1998
  • Манштейн А.К.
  • Эпов М.И.
  • Воевода В.В.
  • Сухорукова К.В.
RU2152058C1
Устройство для определения местоположения скрытых металлопроводов 1979
  • Смирнов Василий Иванович
  • Полчанинов Владимир Алексеевич
  • Томский Владимир Саввич
  • Гориденко Владимир Иванович
  • Убогий Владимир Петрович
  • Ярошевский Евгений Васильевич
SU859981A1
Способ контроля магнитострикционных изделий 1978
  • Кононов Павел Степанович
SU785751A1
Способ вихретоковой дефектометрии не-фЕРРОМАгНиТНыХ Об'ЕКТОВ 1979
  • Учанин Валентин Николаевич
  • Тетерко Анатолий Яковлевич
SU847176A1
Способ электромагнитной дефектоскопии 1979
  • Учанин Валентин Николаевич
  • Тетерко Анатолий Яковлевич
SU834495A1

Иллюстрации к изобретению SU 632 946 A1

Реферат патента 1978 года Способ вихретоковой дефектометрии

Формула изобретения SU 632 946 A1

SU 632 946 A1

Авторы

Колодий Богдан Иванович

Орловский Анатолий Антонович

Даты

1978-11-15Публикация

1977-06-01Подача