Устройство для контроля параллельности мерительных поверхностей, микрометров, концевых калибров и т.п. Советский патент 1944 года по МПК G01B11/14 G02B27/30 

Уже известны для контроля параллельности мерительных псверхностей микрометров, концевых калибров и т. и. Зстройства, состоящие из коллиматора и зрительной трубы (юстированных на параллельность оптических осей), меЖлТ,у которыми помещено контролируемое изделие так, что коллимационный пучок света, идущий от коллиматора, последовательно отражается обеилп исследуемыми мерительныMi( поверхностями. В случае непараллелыюсти измерительных плоскостей отражённый пучок лучей от каждой поверхности отклоняется от точки, фиксированной в трубе.

Однако эти устройства обладают тем недостатком, что они требуют, по крайней мере, двухкратной установки и двух отдельных измерений каждого микрометра, а непараллельнссть плоскостей определяется в результате последующих вычислений.

Были попытки создать прибор, свободный от указанного недостатка, с поверкой микрометра с одной установки. Схема этого прибора показана на фиг. 1. Очевидно, что

между мерительными поверхностями А и В может быть пропуще) очень пучок лучей, максимальное сечение которого равно половине диаметра мерительно поверхности микрометра, т. е. b а/2. Это обстоятельство обесценивает указанную схему.

Предлагаемое устройство позволяет производить проверку с одной установки и свободно от указанных выще недостатков приведенной схеTiibi, так как при работе им используется весь диаметр мерительной поверхности микрометра. Достигается это введением между мерительными поверхностя п1 микрометра плоскоиараллельной стеклянной пластинки Р, установленной под углом к пучкам. Благодаря тому, что пучок лучей слегка смещается при каждом своём прохождении через пластинку, ход лучей соответствует схеме по фиг. 2. При соответствующем подборе толщины пластинки и её ориентировке можно достигнуть такого смещения, что изме1рительные поверхности гикpoмeтpa полностью покрываются пучком лучей и b а.

Более подроблю поясняют устройство фиг. 3 и 4. Здесь цифрой 1 обозначен шпиндель, а цифрой 2 - пятка мнкрометра. Коллиматор со. стоит пз лампы 4, перекрестия 5 и объектива 6. Зрительная труба содержит объектив 7, шкалу 8 и окуляр 9.

Между мерительными поверхностями шпинделя 1 и пятки 2 наклонно установлена плоскопараллельная стеклянная пластинка 3.

Благодаря тому, что пластинка смешает пучок лучей без изменения его направления, открывается возможность использовать для отражения весь диаметр 1 1ернтельной поверхности и применить 3)рительную трубу большого увеличения. riyiqoK, показанный сплошной линией, поочередно отражается от обеих мерительных поверхностей. Пучок, показанный пунктиром, непосредственно попадает в зрительную трубу. В случае непараллельиости мерительных поверхностей в каком-либо направлении в трубе будут видны два перекрестия, расстояние между которыми и измеряется по окулярной шкале трубы.

Расстояние между| перекрестиями не изменяется ни от наклона коллиматора, трубы или пластинки, ни от наклона микрометра.

Устройство по фиг. 3 не конструктивно по нескольким соебражениям. Основной недостаток его тот, что трубу в коллиматор приходится помешать у KOHIIOB микрометра и изменять наклон труб для каждого размера микрометра. Более удобно устройство по фиг. 4. Ход луче) понятен из фигуры. Пластинка 3 и вспомогательная призма 10 укреплены на врашаюшемся столике 11. При переходе от микрометров одного размера к другому необходимо немного повернуть столик с расположенными на нём деталями. Коллиматор и зрительная труба неподвижны. Пеобходимые участки поверхностей пластинки посеребрены.

Предмет изобретения

Устройство для контроля параллельности мерительных поверхностей микрометров, концевых калибров и т. п. с помощью коллиматора и зрительной трубы (юстированных на параллельность их оптических осей), между которыми помешено контролируемое изд,елие так, что коллимационный пучок света, идуший от коллиматора, последовательно отражается обеими исследуемыми мерительными поверхностями, отличаюшееся тем, что, с целью использования для отражения света всей поверхности каждой из исследуемых мерительных пове|рхностей, между ними на пути коллимационных пучков установлена плоскопараллельная пластина под угло.м к пучкам, обеспечивающим смещение пучка лучей без изменения его направления.

63852

№ 63852

.

Фиг. 4