Устройство для измерения магнитных свойств тонких пленок Советский патент 1978 года по МПК G01R33/12 

:°r.°... толщину. Введе - «.- -.fftt jr ние Е прибор контролируемого количест ва газов позволяет исследовать их влияние на магнитные свойства тонкой пленки. Формула изобретения 1,Устройство для измерения магнитных свойств тонких пленок,содержащее корпус и испаритель,о тличающе е с я тем, что, с целью повышения точности измерения, в него дополнительно введены полюсныенаконечники, расположенные с обеих СТОРОН корпуса, магнитный подвес с кварцевой нитью, на 63 которой укре,лен ляск из слабомагнитного материала, размещенные знутри корпуса, а также подвижная кварцевая трубка и маска-трафарет, размещенные между испарителем и диском из слабомагнитного материала. 2, Устройство по п. 1, от л и ч аю щ е е с я тем, что внутренняя поверхносто корпуса покрыта проводящим слоем. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: 1.СТ. Lane,Nature 130, 999, 1932. 2.S.Q.Hudg-.ens,Pliu5.RewB.SoEid State (973,7л/°6, 2481-2485.