Способ масс-спектрометрического анализа Советский патент 1991 года по МПК H01J49/26 G01N27/62 B01D59/44 

Описание патента на изобретение SU664412A1

Изобретение относится к экспериментальной ядерной физике и предиа начено для анализа по массам потоков ионов с энергиями порядка 100 кэВ/заряд в космическом пространстве.

В существующих лабораторных и космических масс-спектрометричёских приборах для определения масс ионов используется двойной анализ потоков частиц в электростатическом и магнитном полях.

В магнитном способе масс-аиализа: поток ионов движется минимум в двух .полях - электрическом и магнитном.

К недостат.кам магнитного масс- анализа следует отнести малую свртосилу прибора; необходимость тщателной юстировки МА относительно ЭСА; взаимовлияние рассеянного магнитного и электрического полей сложной геометрии на область внутри ) С Л, искажающих траекторий ионов йа выходе ЭСА; необходимость точной установки множества детекторов для ожидаемых масс или введения в МА перестраиваемого электрическбгс) поля; большой вес постоянных магнитов и ограниченная напряженность црля в них; большую электрическую Мощность, потребляемую электромагнитами.

Известен способ масс-спектромётрического анализа, по которому из потока ионов с помощью электростатического анализатора выделяют ионы С одинаковым отношением энергии. к заряду.

Однако такой способ обладает невысокой чувствительностью и сложность

.аппаратурной реализации.

Целью изобретения является повьш1ение чувствительности и .упрощение анализа.

Этодостигается тем , что поток вьщеленных ионов пропускает сквозь твердую мишень, в которой потери эяергйм ионов отличаются на величину, преньтающую дисперсиюих потерь, и определяют массы ионов путем сравШШй полученных потерь с известными для мишеней той же толщины и состава.

Поток ионов, монохроматизированных по E/q с помощью первого электpoe t Tit4ecK6ro ангшиэагора, Jf&bWfc aют сквозь твёрдую мигаёнь, умёньйай при этом в различной степени для кажДбгд Сйр энергию, измерйют эти уменьшения с помощью вторЪго электростатического или амплитудного анализатора и на основании результатов этих измерений отождествляют мЖсы регистрируемых ионов.

На че1ртеже привёдёйы энергетическяе спектры частиц. Прошедших сквозь

.. Г., ..n,-...... углеродную (а) и кремниевую (б) фольТй, йОлученйые при испытали п редлагаемого способа.

Потоки Протонов и однозарядных йойов гелия и кислорода с начальной энергией 100 KsB/q Пропускают сквозь мишени толщиной 500 А. ЭнергётйчёсКйе спектры частиц, прошедших сквозь углеродную и кр.емниевую фольги, измерены электростатическим анализатором Различные сорта ионов имеют различные энергетические потери, и возМожно их отождествление на основании характерных потерь: для Н, Н и О в углеродной мишени соответственно 17, 15 и 20 кэВ и в кремниевой мишени - 8,14 и 24 кэВ при толщине мишени 500 А.

Предпагаеь1ый способ может быть использован при разработке и изготдвлегйи миниатюрньпс масс-анализаторов, предназначенных для определенни сортов ионов газов, и после дополнительных исследований и для ионов твердапс веществ. За счет исключения магнитного поля из анализатора и миниатюризации детектора появляется возможность зондирования потока ионо без существенного его искажения. Области Применения безмагнитных массанализаторов, использующих предлагаемый способ, масс-сепарация ионного сслтава космической плазмы на аппаратах с ограниченным весом, потребляемой мощностью и габаритами устанавливаемой aппapaтypыj лабораторная масс-спёктрометрия ионных потбов с знei) порядка 100 кэВ, корпус,кулярная диагностика горячей плазмы.

:

f) ifl

. о,в o,s

ОЛ (, 00

Похожие патенты SU664412A1

название год авторы номер документа
Способ выделения ионов дейтерия из моноскоростного потока ионов 1977
  • Готт Ю.В.
  • Темный В.В.
SU699922A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАЛИЗА ГАЗОВОЙ СМЕСИ 2004
  • Курнаев Валерий Александрович
  • Гриднева Елена Алексеевна
RU2272334C1
Способ определения характеристик ионов космической плазмы 1990
  • Коган Виктор Тувийевич
  • Павлов Анатолий Константинович
  • Казанский Александр Дмитриевич
  • Буцев Сергей Геннадиевич
SU1723601A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СКОРОСТИ ЭРОЗИИ И ОСАЖДЕНИЯ ТОНКИХ СЛОЕВ НА ОБРАЩЕННЫХ К ПЛАЗМЕ ЭЛЕМЕНТАХ ПЛАЗМЕННЫХ УСТАНОВОК (ВАРИАНТЫ) 2017
  • Курнаев Валерий Александрович
  • Булгадарян Даниэль Грантович
  • Синельников Дмитрий Николаевич
RU2655666C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАДИАЛЬНОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ СПЕКТРОВ НЕЙТРАЛОВ ПЕРЕЗАРЯДКИ В УСТАНОВКАХ С МАГНИТНЫМ УДЕРЖАНИЕМ ПЛАЗМЫ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2004
  • Курнаев В.А.
  • Жинкин Д.В.
RU2265807C1
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ОБРАБОТКИ НЕЙТРАЛЬНЫМ ПУЧКОМ, ОСНОВАННЫЕ НА ТЕХНОЛОГИИ ПУЧКА ГАЗОВЫХ КЛАСТЕРНЫХ ИОНОВ 2011
  • Киркпатрик Шон Р.
  • Киркпатрик Аллен Р.
RU2579749C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕМЕНТАРНОГО СОСТАВА ТВЕРДОГО ТЕЛА 1991
  • Макаренко Б.Н.
  • Попов А.Б.
  • Шергин А.П.
RU2017143C1
Способ анализа ионов по энергиям, массам и зарядам и устройство для его осуществления 2019
  • Строкин Николай Александрович
  • Нгуен Тхе Тханг
  • Казанцев Александр Владимирович
  • Бардаков Владимир Михайлович
RU2708637C1
СПОСОБ ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТНОГО МОНОСЛОЯ МАТЕРИАЛА 1991
  • Гордеев Ю.С.
  • Зиновьев А.Н.
RU2008655C1
СПОСОБ СОЗДАНИЯ ИНТЕНСИВНЫХ ПОТОКОВ ЗАРЯЖЕННЫХ НАНОЧАСТИЦ УГЛЕРОДА 2017
  • Арутюнян Рафаэль Варназович
  • Большов Леонид Александрович
  • Васильев Александр Дмитриевич
  • Обухов Юрий Николаевич
  • Семенов Владимир Николаевич
RU2658302C1

Иллюстрации к изобретению SU 664 412 A1

Реферат патента 1991 года Способ масс-спектрометрического анализа

СПОСОБ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИ- ЧЕСКОГО АНАЛИЗА, по которому из.<потока ионов с nofionibro электростатического анализатора вьщеляют ионы с одинаковыми отношениями энергии к заряду, отлич ающийс я тем, что, с целью повьпиения чувствительное тй и упрощения спбсоба, поток выделенных ионов пропускают сквозь твердую мишень, в которой потери энергии ионов отличайтея на величину, превышающую-дисперсию их потерь, и определяют массы регистрируемых ионов путем сравнения полученных потерь с извеСтныйи;^ тшя мишеней той же толщины и состава.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1991 года SU664412A1

Джейрам Р
Йасс~спектрометрия
М.: Мир, 1969.:Бейнон Дж
Масс-спектрометрия и ее применение.в органической химии
М., 1964, гл, 1.

SU 664 412 A1

Авторы

Темный В.В.

Готт Ю.В.

Даты

1991-07-07Публикация

1977-08-01Подача