Устройство для сортировки шариков по их механическим свойствам Советский патент 1947 года по МПК B07C5/34 G01N3/52 

Методы испытания механических «свойств стальных шариков, применяемых, например в шарикоподшипниках, основанные на использовании отскакивания бросаемого с определенной высоты испытываемого шарика от плоской поверхности, расположенной горизонтально, либо наклонно, или поочередно от нескольких поверхностей, расположенных на заданном расстоянии одна от другой, уже известны.

В ряде случаев эти испытания могут быть использованы непосредственно для автоматической сортировки шариков, для чего в местах, куда отскакивают шарики, сбладаюшие определенными механическими свойствами, устанавли,вают приемники, например, в виде обычных яш,иков, в каждом из которых собираются однотипные по их механическим свойствам шарикн.

Особенность предложенного, согласно изобретению, устройства для сортировки шариков, основанного на использовании указанного выше метода, заключается в том, что отражательная поверхность, от ко21 Свод в. 12.

торой отскакивают падающие шарики, выполнена криволинейной с постоянной или переменной кривизной с той целью, чтобы увеличить расстояние траекторий шариков после отралсения и этим повысить чувстви.тельность устройства.

На фиг. I, 2 и 3 схематически изображены различные формы осушествления предлагаемого устройства в соответствии с различными принятыми методами испытания.

Как уже указывалось выше, имеется возможность увеличивать точность результатов испытания, используя многократное поочередное отражение шарика от двух и болееплоскостей, что увеличивает в несколько раз поле рассеяния конвдв параболических траекторий, описываемых шариками, обладающими неодинаковыми механическими свойствами. Шарики при этом будут отскакивать на большие расстояния друг от друга, что повышает -чувствительность метода и облегчает сортировку.

При большой однородности шариков испытание по изложенному спо321

собу приходится сдваивать или даже повторять MHoroKpaiHO, чтобы сделать уловимой разницу в качестве материала. Однако многократное отражение требует громоздкой установки. С целью ее упрощения и обеспечения нужной ширины поля рассеяния мест падения шариков второй отражатель целесообразно выполнять с криволинейныгл профилем, например с поверхностью круглого цилиндра. На первом отражателе все испытуемые шарики будут попадать в одну точку и потому будут иметь одинаковый угол взлета, величина которого определится из равенства угла отражения углу падения.

На втором отражателе шарики будут попадать в разные точки его профиля, так что если он будет криволинейным, то они отрйзятся под разными углами; при этом углы взлета и форма вторичных параболических траекторий также окажутся различными. Даже при кучиом расположении концов первичных параболических траекторий концы вторичных траекторий в этом случае рассеются очень широко, кзк это схематически изображено на фиг. 1, где испытываемый шарик / падает с заданной высоты на плоскую наклонную поверхность 5, отражаясь от нее, падает на вторую цилиндрическую поверхности 5. В зависимости от траекторий полета шарик / попадает иа разные точки цилиндрической поверхности 3, откуда после вторичного отражения попадает в один из ящиков 3, 4 или б.

с целью еще большего рассеивания мест окончательного падения шариков целесообразно выполнять второй отражатель 2 (фиг. 2) с повер|:ностью в виде конуса, с осью, не лежащей в плоскости первичных

траекторий. Тогда вторичные траектории будут иметь не только различные углы взлета и разную форму, но и расположены в различных плоскостях. Вследствие этого шарики будут падать веером в соответствии с качеством своего материала.. Варьируя высоту второго отражателя над приемниками шариков, ширину поля рассеяния концов вторичных траекторий можно при испытании предлагаемым способом делать произвольно большой, как это изображено на фиг. 2.

Устройство может быть изменено таким образом, чтобы вместо начального свободного падения шарика с заданной высоты (как это изображено на фиг. 1 и 2) первоепадение шарика осуществлялось также по параболической траектории путем сообщения ему импульса ударом физического маятника 10 со свободной осью //. В этом случае уже для первого отражателя 7 можно применить кривой профиль,, так что при двух криволинейных отражателях рассеивание мест окончательного падения будет особенна сильным (фиг, 3).

Предмет изобретения

Устройство для сортировки шариков по их механическим свойствам,, состоящее из отражательной поверхности и нескольких отдельных приемников, расположенных таким образом, чтобы шарики с различными свойствами, отразиЕШИсь от поверхности, попадали в различные приемники,отличаюшееся

тем, что отражательная поверхность выполнена криволинейной с постоянной или переменной кривизной, с той целью, чтобы увеличить рассеяние траекторий шариков после отражения и тем увеличить, чувствительность устройства.

ЧЧччЧЧч , )

2

Фиг. 2

Фиг. 3