Устройство для определения величины пористости и количественной оценки структуры порового пространства твердых тел Советский патент 1980 года по МПК G01N15/08 

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЕЛИ ИНЫ ПОРИСТОСТИ И КОЛИЧЕСТВЕННОЙ ОЦЕНКИ СТРУКТУРЫ ПОРОВОГО ПРОСТРАНСТВА ТВЕРДЫХ ТЕЛ скоп, телемонитор которого связан со световым пером и блоком записи изображения, включающим в себя дополнительный телемонитор с конт|х)лем уровня яркости изображения, подключенный к блоку оперативной памяти с преобразователем масштаба изображения, и связанный с анализатором изображения. . Недостатком этого устройства является то, что оно не позволяет анализировать микроструктуру порового пространства, тик как оно не имеет блока сложения изображений, а также блока поиска и согласования сопряженных изображений. Кроме того, это, устрой ство имеет много сложных ручных операций в связи с чем оно характеризуется очень низкой производительностью и малой точност (практически невозможно получить суммарный снимок сопряженных поверхностей при увеличениях больших, чем 2000). Целью изобретения является птовыш ше то ности микроструктурного анализа и производительности. Цель достигается тем, что предлагаемое у:тройство снабжено блоком поиска и сотасования изображений и блоком сложения изображения, включенными последовательно между собой и с дополнительным телемонитором, связанным со световым пером и блоком записи изображений, при этом блок поиска и согласования изображейий подключен к телемонитору сканирующего электронного микроскопа, а блок сложения изображе ний подсоединен к дополнительному телемо нитору, блоку оперативной памяти и анализа тору изображения. На чертеже приведена функциональная блок-схема устройства для определения величины пористостии количественной оценки структуры порового пространства теп. Оно состоит из сканирующего электронного микр скопа 1 с телемонитором 2, блока 3 видеозаписи изображения, дополнительного телемонитора 4 с контролем уровня яркости изобр жения светового пера 5, блока 6 оперативной памяти с преобразователем масштабного изоб ражения, блока 7 поиска и согласования изображений, блока 8 сложения изображений и анализатора 9 изображения. Устройство работает следующим образом. На экране телемонитора 2 сканирующего электронного микроскопа 1 получают мелкомасштабное изображение F одной из сопряженных поверхностей разъема образца. С помощью светового пера 5, на это изображени наносят первичные метки М и получают из ражение F , которое направляется в блок 3 видеозаш1си и на экран дополнительно тел монитора 4. Затем на экране телемонитора 2 4 получают сопряженное изображение другой поверхности образца р и с помощью свето-: вого пера 5 на негр также наносят первичные метки, получая изображение F| и записывают его в блоке 3 видеозаписи. Изображения f и F по меткам М совмещают посредством блока 7 поиска и-согласование изображений с визуализацией на экране телемонитора 4. Затем изображение суммируется в блоке 8 сложения изображений. Результат сложения изображений визуализируется на экране телемонитора 4 и направляется в анализатор изображения для дальнейшей математической обработки. . -. . Затем на изображение F . выведенное на экран телемонитора 4 из блока 3 посредством световоЛ) пера 5 наносят вторичные метки М,, и получают изображение F, , которое записывается блоком 3 видеозаписи. Это изображение посьшаюТ в блок 6 оперативной памяти,где его изменяют в масштабное (увеличивают) до следующего исследуемого увеличения, получая изображение F. . При этом первичные метки М уходят за рамку изображений, а наэкране получаете увеличенное изображение только со вторичными . метками Ц Цосле этого на экране телемонитора 2 сканирующего электронного мнкроскопа 1 получают изображение первой сопряженной поверхности образца в том же ыаЬиттабе, что и F , переносят на него посредством светового пера вторичные метки и получают изображение f .Это изображение записывается блоком 3. После этого производят вызов из блока 3 видеозаписи на телемонитор изображений F и F .Из изображения F путем настройки уровня яркости сигнала уйира19Т изображение F (оставляя только первичные и вторичные меткг;), с помощью блоков 7 и 8 совмещают оставшиеся первичные и вторичные метки М с изображением F, и получают суммарное изобразкение. второй сопряженной поверхности образца с первичными и перенесенными на нее вторичными метками. Это изображение посредством блока 6 оперативной памяти увеличивают до масштаба F .На экране телемонитора 2 микроскопа 1 получают изображение второй сопряженной поверхности того же масштаба и с помощью светового пера 5 путем визуального контроля по деталям изображения наносят на него вторичные метки с изображения , наблюдаемого на экране тепемонитора 4, получая при этом изображение .Затем с помощью блока 7 по меткам М совмещают изображение и и получают в блоке 8 суммарное изображение, которое выводится на экран теле572

монитора 4 и в анализатор 9 изображения и так для каждого нового увеличения и новых меток.

Формула изобретения.

Устройство для определения величины портстости и количественной оценки структуры перового пространства твердых тел, содержащее сканирующий электронный микроскоп, телемонитор которого связан со световым пером и блоком записи изображения, включающим в себя дополнительный телемонитор, подключенный к блоку оперативной памяти, И анализатор изображения, отличающ е е с я тем, .что, с целью повышения точ. ности микроструктурного анализа и производительности, оно снабжено блоком поиска и согласования изображёни и блоком сложения изображений, включенными последовательно между собой и с дополнительным телемони

тором, связанным со световым пером и блоком записи изображения,, при этом блок поиска и согласования изображений подключен к телемонитору сканирующего электронного микроскола, а блок сложения изображений подсоединен к дополнительному телемонитору, блоку оперативной памя1и и анализатору изображения.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Авторское свидетельство СССР по заявке N 2193901/25, кл. G 01 N 15/08, 1975.

2.Террел А. К. Автоматический анализ изображения, КВАНТИМЕТ-720-новая система с повьпиенной точностью и бьстродействием. Тезисы докладов Всесоюзной конференщш Автоматизация научных исследований СО

АН СССР, Новосибирск, 1970, с. 54-55

3.Рекламный проспект фирмы КОАТС и ВЕЛТЕР 106ASEM, Ultra High Resolutron США, 4/1/75 Хпрототип).

m