Способ измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограмме Советский патент 1948 года по МПК G01J3/28 

Описание патента на изобретение SU73188A1

Известиьсц метод логарифмического сектора в таком )Я1де, какой был дан ему Твал1маиом, обладает недостатком, снижаюпгпм точность этого 1.етода. Ири измеренин длины лнннй на снсм трограмме определение концов ЛН11ИН нредставляет затрудненна. Обьгию нолг зуютс/т растром ).( снособу Мертона. Но это значнтелыю усло 1х11яет анализ и и iipoMjjiiiiленностп способ Мертона распространенна не нолучнл.

Предлагается способ нзмерення разности длин сне)1:т) линиГ но спектрофотограмме Тваймана, но которому указаинум разность определяют путем нзмерення разностеСг орлпттат участ ;ои лшпи, об.-щ даюии1х равным почернением.

Дл} осутцестиленпя предлагаелюго способа нсно. полуавтома|ически| | лпп рофотолгетр. дополнепньл механизмом :i i KpOMeTi)einioi-o iieреме цеп11и рамкп со спектрофотограммой с тем, чтобы можчи) было бы, перемещая рамку со спектрофотограммо, замерить положения участixOB jHinnii., обладающнх од1гнаковым помернеппе г.

Шель фoтoэлe reIIтa должна бьгть по высоте ограилчепа диаф|1агмо1 1ак, чтобы фотометрпровался небольпип; участок длины спектрально ; лппии. Тогда разности длин лпннй б длт определяться нутем iiaxii.iiдеиия участков .iHHnii с од1пгаковым ночерпеппем. Здесь надо отметить, что для снектрального анализа, в конечном счете, нужны пе д,1пн1)1 лпnnii, а ITX разиосттг. Поэтому нет необхолпмостп находить самые 1хонць1 .линий, п точнее будет находить разпость ллпп лишм с поч)1пениял соответствующими об.лагттг порма.),1х экспо: ани1. ll|i;i описанном методе сочетапня логар1п|)мнчесг;ого cei-;TO)a IT мпкрофотолгетра устпатгяется ociioiiTioii недостаток. нрнводящпГг к погретиттстям npir обычпом Агпг,-150(Уютометр1 р01 ант тг, пояиля отцт | 1ся нследст1 пе различпш-о юфи.чя снектра.льиых лгтнтп г.

( другой сто), .чдесь используются хоро-.ппе т;ачества лога11пфмического сектора, по сравнению с 1чЛТП1() ослабителем. иоз1 оли1о.1 73188

щие, в отлично от последнего, изготовить логарифмический сектор точио по расчету для иолучеиия определеиной зависимости разиости длии от концентрации оиределяемого элемента и ие имеющим вредиой селективиости в 11оглои1,еиии лучей. Эти преимущества логарифмического сектора раиее не могли быть исиользоваиы в иолиой мере, так как распростраиению метода логарифмического сектора преиятствовали ногренлиости измореииГ ; разностей длины сиектральиых линий.

Предмет изобретения

Сиособ измерения разиости длии спектральиых линий по сиектрофотограмме Тваймана, отличающийся тем, что указанную разность измеряют иутем измерения разностей ордииат участков лнний, обладающих равным иочернением.

Похожие патенты SU73188A1

название год авторы номер документа
Способ измерения разности длин спектральных линий по спектро-фотограмме Тваймана 1939
  • Бортников Н.И.
SU59683A1
Устройство для ослабления яркости света 1956
  • Бортников Н.И.
SU107411A1
Источник света для спектрального анализа 1949
  • Бортников Н.И.
SU80740A1
Диск к спектрографу 1948
  • Бортников Н.И.
SU84104A1
СПОСОБ АБСОРБЦИОННОГО АНАЛИЗА ГАЗОВ, ПАРОВ И ЖИДКОСТЕЙ 1970
SU288482A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛНОЙ РАЗНОСТИ ФАЗ ПО «НЕСУЩЕЙ» ЧАСТОТЕ ПСЕВДОП1УМОВЫХ СИГНАЛОВ 1972
  • Юбретеии
  • Н. М. Каноныхии Л. Я. Ллсксееико
SU331335A1
Способ сейсмической разведки полезных ископаемых 1934
  • Софронов Н.И.
SU51177A1
Учебное пособие для графического построения производной функции по заданному ее графику 1937
  • Утешев Н.И.
SU55319A1
Способ определения среднего размера частиц пигментов 1983
  • Дудо Н.И.
  • Пришивалко А.П.
  • Аристов Б.Г.
  • Баранов Б.А.
SU1135288A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЗОЛОТОНОСНОСТИ ГОРНЫХ ПОРОД 2012
  • Бортников Николай Стефанович
  • Волков Александр Владимирович
  • Керзин Алексей Львович
  • Генкин Алексей Дмитриевич
RU2507509C1

Реферат патента 1948 года Способ измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограмме

Формула изобретения SU 73 188 A1

SU 73 188 A1

Авторы

Бортников Н.И.

Даты

1948-01-01Публикация

1939-12-27Подача