Известный метод логарифмического сектора в таком виде, какой был дян ему Твайманом, обладает недостатком, снижающим точность этого метода. При №змербниИ длины линий на спектрограмме определение концов ли«ий представляет затруднения. Для избежания их обычно пользуются растром ПО способу Мертоиа, но это значительно усложняет анализ и в промышлевности способ Мертоиа распространения не получил.
В США пользуются измерительной лупой, у которой рядом со шкалой имеется изоюражеиие спектральной лиНИИ с отметкой того участка линии, на который нужно ориентироваться при измерении разности длин линий. Это приспособление значительно уменьшает погрешности определения разности длин линий. Однако желательно было бы достичь еш,е большей точности и объективности в определении разности длин спектральных линий.
Предметом настоящего изобретения является способ измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограММе Тваймана, по которому указанную разность определяют путем Измерения разностей ординат участко-в
линий, обладающих равным почернением.
Для таких измерений рационально воспользоваться полуавтоматическим микрафотометром, дополнив его механизмом микрометренного перемещения рамки со спектрофотограммой с тем, чтобы можно было, перемещая рамку со спектрофотограммой, замерять положения участков линий, обладающих одинаковым почернением.
Щель фотоэлемента должна быть по высоте ограничена диафрагмой так, чтобы фотометрировался небольщой участок длИНы спектральной ли-нии. Тогда разности длин линий будут определяться путем нахождения участков линий с одинаковым почернением. Здесь надо отметить, что для спектрального анализа, в конечном счете, нужны не длины линий, а их разности. Потомл следует находить не самые концы линий, а разность длин линий с почернениями, соответствующими области нормальных экспозиций. При вышеописанном методе сочетания логарифмического сектора и м-икрофотаметра устраняется основной недостаток, приводящий к погрешностям при обычном микрофотометрировании, появляющийся вследствие различного профиля спектралыны.х линий.
С другой стороны здесь используются хорошие качества логарифмического сектора, по сравнению с клииовым Ослабителем, позволяюгцие, в отличие от последнего, изготовить логарифмический сектор точно по расчету для получения огфеделеВНой зависимости разности длин линий от концентраци-и 01пределяе.гого элемента, и «е имеющие вредной селективности в поглощении лучей. Эти преимущества логарифмического сектора ранее не могл:)
быть использованы в полной мере, так как распространению метода логарифмического сектора препятствовали погрешиости измерений разностей длины спектральных линий.
Предмет изобретения.
Способ измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограмме ТвайМана. о т л MI ч а ю щ к ii с я тем, что указанную разность измеряют путем измерения разностей ординат участков линий, обладающих равны.м почернением.
