Прибор для измерения эксцентричности отверстий, например, лунок матриц для потайных заклепок Советский патент 1948 года по МПК G01B5/25 F16B19/04 

Предметом изоорвтоппя является прибор для измерения эксцентричности отверстий, например лунок матриц для iioTaihibix заклепок.

На чертеже схематически нзображеп прибор.

Прибор состоит из 8-12-кратиой лупы 1, лекальной линейки 2, диух ка,реток 3 и 4 и призмы 5. Пружины 6 и 7 нк/инотся всиомогательпымтт деталями (для нодъема и прижима кареток). 13есь ирибор ciTOHTHpouan на основании 8.

В нризму 5 за/кимается валик 9, Д11амет|з которого равен ;гиаметру отверстия, а на иалги 1шде1 ается .чгатрнна 1(1.

Совмещая лекаль)|ун) .чинейку 2 с ii;-;.iei)fie.Moii луики ионора(нвают матрицу 10 на )алике 9. При бпемпи лумки ее Kpaii будет удаляться или приближаться к лекально .nnuiii.-e 2. дМакси.мальная разнин.а между обеими точкам1т оиределяет 6;ieHiie. а иолонина этой разницы определяет эксцентричность. Микрометр II. передг.нгаюгцпй верхнюю каретку 3, оиределяет эксцентричность г гомиостыо до 0.01 мм.

Предмет и з о б р е т е н и я

Прибор для изме1)еи11я эк-сцеитричности oTnepCTiifi, ианример лунок 1йтр 1ц для TioTaiiHbix заклепо -;, , ио.чставкч .для установки изделия или исномогательного приспособления и устанонлениой над нодставкой луной, нометценио на передвижной i; нептпкалыюм и горизонтальном направлениях микрометрнческо|1 1саретке. о т л i ч а ю щ п и с я тем, что, с целью фиксации ноложеиия края OTJUIHTIUI при иовороте изделия вокруг его установочной оси. на iiecyiiuni микро.метрической каретке укреплена лекальная линейка, расположено в ноле зрения луны и может быть установлено в неногредстнеиной близости от края проверяемого от(5ерстня.