Способ измерения параметров анизотропии Советский патент 1983 года по МПК G01N21/23 

Описание патента на изобретение SU739985A1

.T: -;;; j j ,;7 Изобретение ртносигся к области иоспёдоЁаиия неодиородных анизотрот1ых объектов оптическими методами. Иааест№1 способы исследования неодн родных анизотропных о(5ъектов, использую юшие регистрацию расееянногю объекте излучения l , Эти способ формирование п |нейно поляризованногопросвечивающего пучка, модуляцию его по азимуту поляризации, шмерение разности фаз между опорный сигналом й си налом, возникающим в канале регистраци ссеянного света, или уравииваниё фаз этих сигналов изменением параметров компенсационных устройств, вв6дймь х в просвечивающий пучо, а также 1хэкГере1ш интенсивности рассеянного объектсм пу чения угловых ёаличин. Недостатками .TukHx тройствГ 811Йют ся разность измеряемых вепичйй, WaHaa точность измерения векото Яых из них, а также сложность процесса измерения. Наиболее близким по технической. сущности к изобретению яеляетЬя способ, примененный в поляриметре 2. По 9гаму способу для просвечивашя исследуемого объекта ф6|ж йруют пинёйно поляризованный пучок, модулируют его по азимуту поляризации и для каждой следуемой точки объекта измеряют развость фаа между опорным сигнался г и сиг ,ЬбзнйкаяйцШё какалё реР П ции рассеянного света. Кроме того, иэмеряйт угол поворота объекта от Управления до положения, при котором сигнал в канале рассеянного света мвиимапей, и «нтенсивность fcfieT& же канале при юстИоуктвм noi poire объекта на 45. ГТопучеШше данйЁ1§ Шп6пьзу1ют 8пя опр едвп1кйа iiajpabfeTpoB анизотропии объекта. Недостатком этого способа явШется нвЪбходимостьизмё1ййй а§1 3Й ШТ йеличнн: йш-енсивностей расёеянногюЪвета, углов повороту и фазовыт ха теристик сигналов, что значительно усложняет нрьцесс измерения и затрудняет автома. } ., сйвностёй значитепь1юуступают измерениям по точности и требуют сп&аЙалЁных мер для исключения влияния нестабильности просвечиваюйГбРбпупса и ряда други с факторов, вызы вающизс изменение интенсивности рассШ Й1 ю 1света Целью изобретения является пошш&ние точности и упрощение процесса взмвЭта цепь достигается тем, что по п едйагаёмом у способу; йКлКИаткйеЙгу Sl«« ««r«r n . . . -, : 1Й4- й%йй«: йч л5;-.--л- .:. -i-.- - -% -«: ---л-.-- ет5 &й жй й1 :|-абй йайа1вссаай2ЕЖ:з5 г е : r.:- iti- 5:«sr.:,s:3: s:r:v ssj..,;2 ... 4)ормирование пинейно попяризоваиного, модулированного по азимуту попяризааин Просвечивающего пучка и юмерение .разности фаз между опорным сигналом иг сигналом, возникающим при регистрации рассеянного объектом излучения, дополи тельно создают эллиптическую полярвзацию просвечивающего пучка, модулируют его по эллиптичности последователь) при двух направлениях большой оси эллипса поляризации, составляющих друг с другом угол 45°, а разЪость фаз измеряют при вс видах модутгации. Создание эллиптической 1Голяризации просвечивающего пучка, введение двух видов его модуляции и дополнительные в&м%рения при этих видах модуляции раэностей фаз между опорным сигналом и с наламН| возникаюшшй при регистрации рассеянного объектом излучения, позволяют пол-уч1 ть нужные да1шые о параметрах акизогропии Неоднородных аниэот р6пшх объектов по одним фазовым измерейиям, не прибегая к ВЕ 1ерениям других величин: ннтеасиваостей, углов поворота и поиску экстремумов интенсивности. Перетод к изменению лескольKifex значений одной ведичины, которая измеряется с малой погрешностью, позволяет повысить точность юмерешй и упростить процесс измерений Йа чертеже изображево устройство, реашюуюшее предлагаемый способ ESM iepeния. , Устройство включает источник монохроМетрйческого поляризованного «еэпучешш 1, вращающуюся от двшгатепя roiaoвйку Я /2 2, две пластинки 51/4 3 и 4, гшвные HaifiJaBnetaDi которых составтетют с другом угол 45, исследуемый объект - 5, каналы репастрашга раосеяшого объек ом йзлучёшм б и 7, полярюатор 8, фо ой иемйики регистрирую- . mttx кйшйов J- 9, 10 и фазометр 11. Пластины 2-4 составляют в совокупности поляршационный модуля- i тор 12. нсточняка излучения 1 поляризацйонным модутштором Ш (т .е. вращением аяастинки 71 /2) формируют линейно попяривова1й1ый пучок, модулированный по азимуту йоляризации. Затем просвечивают §тим объек 5 и регистрируют рассеянное объектом излучение в двух на1фавлениях, расположенных в плоскости, 1е|: пещикулярной просвечивающему пучку, образующих друг с другом угол 45° (каналы 6 и 7). С выходов фотоприемвков 9 1Ш сзмёрительный тракт поступают свнусоиовпьные спгвапы. Опорный ; свгнап формируют, отводя часть линейно погагреаслйшото, модупировайюго по аэвмуту попйрязацни твпучения н пропуокая его через nbirapteaTop 8, полученный с фоГопрввм Шса 10 сшорный сигнал нм&- 6г ty зад Частоту, что и региЬтрируемые снгнапы, Разность фаз между опорввьш сятвапой в бднш из регнстрйруе1м ых свгнатюв щ)1в отсутствии aHBsoTjpomiB объекта jpaBBa йУЙю. Разность фаз у(ежду опорным сугшпам V сигналами в обоих регистрирующих каналах измерйзот фазометром 11. Затем поляризаивовным мо дутгатором создают эллиптичеосую пЬпяр eaitiBK}-йросвечввающего пучка при цаправШтал большой осн эллвпса, совпадающп с с ОД8Ш вэ ваправпеввй регистраовв раос япаюгр ааега, в модулируют его по эи1Шт|П|к с в. осуществляют, , вьевеввем после врйшаюшейся полувопж вйбК шшствнкв 2 пластинки 9/4 3, пшэшй teuqpanieBBe которого совпао1адт ( ю Ш1 регвстраивв раоi CEtflHRoino вэпуч)вввя. Снова измеряют разность фаз между опорным сигналом в сигналами в каналах 6 в 7. Затем взмд- няют направление большой оси эллипса

шлярййцвв проЬйёчВ№1Шбгб i jnree ва 45 и модулируют его по вллийтичиоств. Это может Еыполнево, BatipBMep, введенвем пластинки 3 и введение ппаотинки 4. При этом состоянии прос чвва;ющего пучка вновь повтор$пот измерения разности фаз в обои каналах.В результате в мерений для каждой исследуемой точки модел i получают таблицу вз шести звачеввй раэ.воств фаз. По данньл дпя двух соседних точек объекта рассчвтывают характернст ческве параметры, которые в являЬтся Iмерой анвзотро11ив выделеявого этвмв Точками участка объекта. Переход от взмереввя ряда разБюросн йых велвчин к вэшрвта1йв9 Щйой вётпввы значительно упрощает прососе вэмеревця, повышает скорость юмереввй, обтюувает автоматизацию п х 1юсоа в его точвость . Пред1шгаемъ1й ,способ опробовав мсопервментальво с тёс1 -объектом в tEssect нымв характервствяесквмв naftJaMetpeMH.

Похожие патенты SU739985A1

название год авторы номер документа
Поляриметр 1979
  • Дричко Надежда Мотелевна
  • Лейкин Мендель Велькович
  • Парфентьев Анатолий Алексеевич
  • Угрюмова Надежда Михайловна
SU813145A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ИССЛЕДУЕМЫХ ОБЪЕКТОВ 1994
  • Богородицкий А.Г.
  • Тучин В.В.
  • Осин А.Б.
RU2080586C1
СПОСОБ И ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО (ВАРИАНТЫ) ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ТОКА И МАГНИТНОГО ПОЛЯ 2012
  • Губин Владимир Павлович
  • Моршнев Сергей Константинович
  • Пржиялковский Ян Владимирович
  • Старостин Николай Иванович
RU2497135C1
Способ измерения эллиптичностей, направлений обхода и азимутов осей эллипсов поляризации собственных волн в кристаллах и устройство для его реализации 1981
  • Шамбуров Владимир Алексеевич
SU1006930A1
Устройство для контроля полупроводниковых материалов 1990
  • Гамарц Емельян Михайлович
  • Дернятин Александр Игоревич
  • Добромыслов Петр Апполонович
  • Крылов Владимир Аркадьевич
  • Курняев Дмитрий Борисович
  • Трошин Олег Филиппович
SU1746264A1
Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей 1988
  • Стринадко Мирослав Танасиевич
  • Ушенко Александр Григорьевич
SU1562696A1
СПОСОБ ТЕПЛОВИЗИОННОГО РАСПОЗНАВАНИЯ ФОРМЫ ОБЪЕКТОВ 2010
  • Тымкул Василий Михайлович
  • Фесько Юрий Александрович
RU2431936C1
Поляризационный интерферометр 1980
  • Рокос Иржи Антонович
  • Рокосова Лора Александровна
SU940017A1
Способ измерения степени поляризации светового излучения молний и устройство для его осуществления (варианты) 2020
  • Пузанов Юрий Васильевич
  • Щиплецов Михаил Васильевич
  • Ковалевская Ольга Игоревна
RU2761781C1
Устройство для измерения показателя преломления светорассеивающей среды 1988
  • Ангельский Олег Вячеславович
  • Бучковский Иван Аполлинариевич
  • Максимяк Петр Петрович
  • Перун Тарас Онуфриевич
SU1599723A1

Реферат патента 1983 года Способ измерения параметров анизотропии

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ АНИЗОТРОШИ в нводтороюшх а нвзотропвых объектах, вкпючающий фор S П & liTi мирование пинейно поляризованного, модулированнотх) по азимуту попяризаоив просвечивающего пучка и взмерение раэ ности фаз между опорным сигналом и сит налом, всеннк/ЕйЫцййдпя регистрации рассеянного объектом взпученшг, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрошения процесса измерений, дополнительно создают эллигнтичеекую поляризацию просв эчийвактавго пучка, модулируют его по эллиптичности последовательно при двух направлениях большой оси эллипса поляризации, составтгакядих друг с д ругом угол 45°, а разность фаз измеряют при всех видах моау«

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1983 года SU739985A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Потшризаивонно-опткческий м&тод в его првпожётш к исспедованкю теппооых напряжений в деформапнй
Квев Наукова думка , 1976, с
Ребристый каток 1922
  • Лубны-Герцык К.И.
SU121A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Горшков М.М
Эппвпрометрия
М., Сов
рапко, 1974, с
Прибор для определения всасывающей силы почвы 1921
  • Корнев В.Г.
SU138A1

SU 739 985 A1

Авторы

Голубева С.Г.

Дричко Н.М.

Лейкин М.В.

Даты

1983-06-23Публикация

1978-12-04Подача