Предметом «астоящего изобретения является прибор для исследования качества поверхностей, снабженный призмой полного внутреннего отражения, контактирующей с исследуемой поверхностью.
Устройство прибора -поясйяется чертежОМ, на фиг. 1 которого изображена конструктивная схема прибора; на фиг. 2 - оптическая схема прибора.
Прибор состоит из основания 12, несущего «а стержне 17 груз 18, держателя 13 линзы 14 и прижимного устройства 5, смонтироваяного на угольнике 16, прикрепленном на держателе /-.
Работа прибора осуществляется следующим образом.
Лучи света от осветителя / с конденсором отражаются зеркалом 3 и проходят через лризму 14 првбора, устанавливаемого «а предметном столике 4 компаратора.
Отраженные лучи от грани АВ призмы 14 проектируются на зеркало 8, которое направляет их в объектив 7 компаратора. Далее луч«,
отразившись от призмы 9 и зеркала 10, проектируются на экран 11.
Исследуемое изделие 6 прижимается к грави АВ призмы 14 под некоторым постоянйым давлением при помощи прижимного устройства 5 прибора. Место контакта К. фокусируется на экран 11 при помощи перемещения предметного столика 4 компаратора вместе с помеше)ны.ми на нем прибором и испытуемым изделием относительно объектива 7.
Изображения места контакта имеют вид темных пятен на светлом фон€, характеризующих нарушение полнОГО внутреннего отрал ения ;i местах контакта.
Предмет изобретения
Прибор для исследования качества поверхностей, снабженный призмой полного внутреннего отрал ения. контактирующей с исследуемой поверхностью, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью получения места контакта исследуемой поверхности с призмой на экране, призма включена в оптическую схему компаратора.
