Устройство для электролитической обработки образцов Советский патент 1980 года по МПК G01N3/38 

Изобретение относится к устройст вам для электролитической обработки образцов электропроводящих материалов для последующего их исследо вания методом электронной микроскопии . Известны устройства для двухсторонней электролитической полировки образцов для последующего исследования методом просвечивающей электронной микроскопии l . Известно также устройство для электролитической обработки образцов, состоящее из корпуса, системы электропитания и оптического датчика. Корпус выполнен из тефлона и контакт с токоподводом осуществляет ся по кольцевой периферической част дискового образца 2j . Данное устройство является наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому результату. Недостатком известньах устройств является то, что место контакта анод ного токоподвода к образцам не изол ровано от электролита, что приводит к ухудшению контакта и обуславлива необходимость использования платины в качестве контактного материала. Целью изобретения является осуществление надежного электрического контакта образца с токоподводом без применения платины. Указанная цель достигается тем, что в известном устройстве корпус снабжен металлическим кондуктором с цилиндрическим каналом, в котором установлены трубчатые уплотнители с наружным диаметром, равным диаметру канала. Кондуктор выполняют из металла с хорошей теплопроводностью, например из меди, уплотнители изготавливают из упругого химически стойкого материала, например поливинилхлорида. На чертеже изображен продольный разрез устройства для электролитической обработки образцов. Устройство состоит из насоса 1, корпуса 2, кондуктора 3, системы электропитания 4 и оптического датчика включающего осветитель 5 и светолриемник 6. Полируемый дисковый Образец 7 установлен в цилиндрическом канале 8 кондуктора 3 между двумя трубчатыми уплотнителями 9. Трубчатые уплотнители 9 обжаты фланцами 10 корпуса 2. На одной прямой с осветителем 5 и светоприемником 6 в