Электроиндуктивный дефектоскоп Советский патент 1981 года по МПК G01N27/90 

Описание патента на изобретение SU794467A1

щ .,.

контролируемое изделие и сканируют по его поверхности.

При наличии дефекта под преобразователем в контролируемом изделии увеличивается вносимое активное сопротивление преобразователя, его добротность снижается. При уменьшении радиуса кривизны контролируемой поверхности и отводе преобразователя от последней или наклоне преобразователя увеличивается индуктивность преобразователя (для неферромагнитных материалов) и уменьшается его вносимое активное сопротивление. Параметры высокочастотного генератора 2 выбраны из условия, что при ухудшении добротности его колебательного контура с преобразователем амплитуда колебаний генератора падает, при увеличении индуктивности и уменьшении активного сопротивления колебательного контура амплитуда колебаний растет, а частота уменьшается. Колебания генератора 2, проходя оба канала регистрации, усиливаются и детектируются в них. Продетектированные напряжения управляют амплитудой колебаний звуковых генераторов и вызывают изменения звуковых сигналов в головных телефонах, при этом ввиду того, что усилитель 3 широкополосный, сила звука в телефоне 9 изменяется как при пересечении преобразователем зоны дефекта, так и при отводе преобразователя от контролируемого изделия.

Сигнал второго канала регистрации формируется следуюшим образом. При увеличении зазора между изделием и преобразователем амплитуда колебаний высокочастотного генератора растет, частота падает, коэффициент усиления резонансного усилителя 6 уменьшается, в результате чего напряжение на выходе резонансного усилителя оказывается более стабильным, чем на выходе апериодического усилителя 3. Подбором добротности резонансного контура резонансного усилителя 6 и выбором рабочей точки на резонансной характеристике последнего добиваются того, чтобы амплитуда сигнала резонансного усилителя не зависела от зазора между преобразователем и контролируемым изделием. При появлении дефекта под преобразователем частота колебаний генератора 2 не меняется, а уменьшение амплитуды колебаний генератора уменьшает амплитуду напряжения

i

gllgV

всего второго канала и меняет силу звука в телефоне 10. Так как мешающие факторы - наклон преобразователя, увеличение зазора, изменение кривизны поверхности- не влияют на амплитуду напряжения на выходе второго канала регистрации, то коэффициент его усиления может быть выбран достаточно большим. Это обеспечит высокую чувствительность дефектоскопа к дефектам.

Звуковой сигнал одной частоты характеризует наличие дефекта, другой - изменение положения преобразователя относительно изделия, изменение ее кривизны. Помимо звуковой индикации оценка качества прилегания преобразователя к изделию может быть осуществлена по показаниям гальванометра 11.

Использование предлагаемого дефектоскопа обеспечит надежность контроля благодаря возможности ориентации преобразователя на поверхности контролируемого изделия.

Формула изобретения

1.Электроиндуктивный дефектоскоп, содержащий последовательно соединенные высокочасЛтный генератор, преобразователь дефектоскопа, апериодический усилитель и детектор, а также два разночастотных звуковых генератора, один из которых подключен к детектору, и два головных телефона, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности контроля и одновременной индикации положения преобразователя на изделии, он снабжен последовательно соединенными и подключенными к высокочастотному генератору резонансным усилителем и вторым детектором, к которому подключен второй звуковой генератор, а выходы генераторов соединены с телефонами.

2.Электроиндуктивный дефектоскоп по п. 1, отличающийся тем, что каждый из звуковых генераторов подключен к отдельному телефону.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Дорофеев А. Л. Вихревые токи. М., Энергия, 1977, с. 39-41, рис. 19 (прототип).

Похожие патенты SU794467A1

название год авторы номер документа
Электроиндуктивный дефектоскоп 1979
  • Хургин Моисей Элозорович
SU832437A1
ЭЛЕКТРОИНДУКТИВНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП 1972
SU418788A1
Электроиндуктивный дефектоскоп 1979
  • Хургин Моисей Элозорович
SU922619A1
Двухчастотный модуляционный дефектоскоп 1977
  • Глазков Леонид Александрович
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Иванов Борис Александрович
  • Скрипник Виктория Иосифовна
SU847174A1
Электромагнитный дефектоскоп 1979
  • Меркулов Алексей Иванович
  • Пшеничников Юрий Владимирович
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Кутовой Александр Степанович
SU911306A1
Вихретоковый дефектоскоп 1986
  • Сайманин Александр Евгеньевич
  • Алексеев Александр Петрович
SU1320731A1
Устройство для контроля объемной плотности диэлектрических материалов 1987
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Дыков Анатолий Николаевич
  • Фролов Виталий Александрович
SU1532859A1
СПОСОБ ВИХРЕТОКОВОГО КОНТРОЛЯ МЕДНОЙ КАТАНКИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2014
  • Романов Сергей Иванович
  • Смолянов Владимир Михайлович
  • Журавлёв Алексей Викторович
  • Новосельцев Дмитрий Вячеславович
  • Будков Алексей Ремович
  • Серебренников Андрей Николаевич
  • Мальцев Алексей Борисович
RU2542624C1
Структуроскоп 1975
  • Башкиров Валентин Николаевич
SU590653A1
Вихретоковый дефектоскоп для контроля качества покрытий 1990
  • Лавров Владимир Александрович
  • Керин Евгений Алексеевич
SU1733997A1

Иллюстрации к изобретению SU 794 467 A1

Реферат патента 1981 года Электроиндуктивный дефектоскоп

Формула изобретения SU 794 467 A1

SU 794 467 A1

Авторы

Хургин Моисей Элозорович

Хургин Эдуард Моисеевич

Даты

1981-01-07Публикация

1979-03-26Подача