Емкостной датчик для измерения де-фОРМАций Советский патент 1981 года по МПК G01B7/16 

Описание патента на изобретение SU823838A2

Изобретение относится к измери тельной технике и может быть исполь зовано при исследовании элементов конструкций из полимерных нетокопро водящих материалов. По основному авт. св. №. 462064 известен емкостной датчик для измерения деформаций, содержащий изоляUHOHHSra прокладку, приклеиваемую к поверхности исследуемого элемента и подвижную механическую обкладку, выполненную из более вязкого материала материал исследуемого элемента и представляющую собой тонкую полимерную пленку , на части одной сторо ны которой, обращенной к поверхности исследуемого элемента, нанесён токопроводящий слой, а линия окончаний склейки и начала токопроводящего сло образует линию замеров, которая перпендикулярна к направлению перемещения подвижной обкладки и перекрыта неподвижной обкладкой 1. Недостатком данного датчика является влияние поперечных деформгщий на точность измерения продольных деформаций. Цель изобретения - повышение точн сти измерения путем устранения влияния поперечных деформаций. Поставленная цель достигается тем, что датчик снабжен дополнительной неподвижной обкладкой, изолированной от основной и размещенной в одной плоскости с основной так, что площади проекций токопроводящего слоя подвижной обкладки на неподвижные равны между собой. На фиг. 1 изображена.конструктивная схема датчика; на фиг. 2 - то же, продольный разрез . Датчик содержит неподвижные основную 1 и дополнительные 2 обкладки, выполненные из металла, подвижную тонкую полимерную обкладку 3, приклеенную к поверхности исследуемого элемента 4 на участке АВ и имеющую на участке ЕС напыленный токопроводящий слой 5, который образует.с обкладками 1 и 2 основной и дополнительный переменные конденсаторы. Проекция обкладки 1 на поверхность исследуемого элемента 4 перекрывает линию, склейки и начало токопроводяuerQ слоя 5. Площади проекции токопроводящего слоя 5 подвижной обкладки 3 на неподвижные обкладки 1 и 2 равны между собой. К обкладкам 1, 2 и 3 подсоединены проводники 6, 7 и 8. Поверх обкладок

Похожие патенты SU823838A2

название год авторы номер документа
Емкостной датчик для измерения деформаций 1980
  • Музыченко Владимир Петрович
  • Крезо Леонид Михайлович
SU939931A2
ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ КОНТРОЛИРУЕМЫХ ОБЪЕКТОВ 2006
  • Шнитковский Олег Евгеньевич
  • Артемов Николай Иванович
  • Рассомагин Василий Радионович
RU2323411C1
ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ 2006
  • Шнитковский Олег Евгеньевич
  • Рассомагин Василий Радионович
RU2312305C1
Емкостной датчик для измерения деформаций 1973
  • Музыченко Владимир Петрович
SU462064A1
Ёмкостный датчик деформации 2020
  • Шиловский Николай Алексеевич
  • Игнахин Владимир Станиславович
RU2759176C1
Ёмкостный датчик деформации 2020
  • Шиловский Николай Алексеевич
  • Игнахин Владимир Станиславович
RU2759175C1
Способ измерения деформаций растяжение-сжатие 2020
  • Шиловский Николай Алексеевич
  • Игнахин Владимир Станиславович
RU2753747C1
Динамический наноиндентор 2019
  • Маслеников Игорь Игоревич
  • Решетов Владимир Николаевич
  • Усеинов Алексей Серверович
RU2721020C1
ДАТЧИК ДАВЛЕНИЯ 1991
  • Афанасьев Ю.В.
RU2023996C1
ЁМКОСТНЫЙ ДАТЧИК ДЕФОРМАЦИИ ИЗГИБА 2021
  • Игнахин Владимир Станиславович
  • Стефанович Генрих Болеславович
RU2798748C1

Иллюстрации к изобретению SU 823 838 A2

Реферат патента 1981 года Емкостной датчик для измерения де-фОРМАций

Формула изобретения SU 823 838 A2

SU 823 838 A2

Авторы

Музыченко Владимир Петрович

Крезо Леонид Михайлович

Даты

1981-04-23Публикация

1979-07-27Подача