лучить для плоскости ( i Ю) из общих формул, а уравнения фотоупругости записать в виде - x a vf vv cT-Cos ; . / где С ..., С - фотоупругие постоянные. 6у у напряжения. Для осей, повернутых на угол 45 , уровнения фотоупругости принимают ввд О (6 j - 6 ) сГ-cos 1 tf/t; в кристаллах, например флюорите или хлористом калие, фотоупругие посто ные С-5 в уравнениях с изменением угл поворота кристалла меняют знаки. Поэтому всегда находятся некоторые дополнительные оси, для которых, уравне,ние изохром имеет вид - Gl,(6x+6y) + o cosl4Vt., Этот факт и служит тем дополнител ным обстоятельством (которого нет в изотропном теле), которое используетс для определения напряжений. Кристалл просвечивают поляризован ным лучом света по плоскости (НО), измеряют оптическую разность хода, а параметр изоклины измеряют относительно осей, о азукмцих угол 45 с кристаллографическими направлениями (НО) и (001). По этим измерениям определяют напряжения. 1 Предлагаемый способ определения напряжений в отличие от известных не требует дополнительных измерений поперечной деформации с помощью интерферометров, измерений при наклонных просвечиваниях, применения численных методов интегрирования уравнений равновесия, чем и. определяется его большая точность. Формула изоёретения Поляризационно-оптический способ определения напряжений в кристаллах кубической сингонии, заключающийся в том, что кристалл просвечивают параллельно кристаллографическим плоскостям поляризованным лучом света, измеряют оптическую р1эзность хода и параметр -, изоклины, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения напряжений, кристалл просвечивают по плоскости ( 11О) а параметр изоклины измеряют относительно осей, образуклцих угол 45° с кристаллографическими направлениями (НО) и(ОО1), по KOTopbiM определяют напряжение. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Александров А Я., Ахметзянов М, X. Поляризационно-оптические методы механики деформируемого тела. М., Наука , 1975, с. 19О-23О. 2. Журнал технической физики 1956, т. 26, N9 4, с. 779 (прототип).
