. - . Изобретение огносйгся к поляризацион но-опгическим способам определения на пряжений в офазцах из кристаллов кубической, сингонии. Известен попяризационно-оптический способ определения напряжений в образцах монокристаллов с кубической симметрией, заключающийся в том, что из образца изготавливают срезы, просвечивают их лучом поляризованного света,, измеряют оптическую разность хода луча по которой определяют напряжения Щ. Недостатком данного способа является то, что образец для проведения измерений разрезают на срезы, т.е. разрушают. Кроме того, точность определения напряжений невысока, так как переход от напряжений в срезах к напряжениям в целом образце происходит путем привле чения целого ряда дополнительных предположений. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является поляризашюнно-оптический способ определения напряж;ений в образце, заключающийся в том, что поворачивают образец вокруг своей оси, просвечивают его поляризованным лучом света до и после поворота, измеряют оптическую разность хода лучей, по которой определяют напряжения в образце .fs. Недостатком способа является то, что он не позволяет определить полное число компонент {{ апряжений. Кроме того , он не позволяет определить напряжения в кристаллах кубической сингонии из-за их анизотропии. Цель изобретения - обеспечение определения напряжений в офазцах из монокристаллов кубической сингонии. Указанная цель достигается тем, что перед просвечивани0 4 образца измеряют углы ориентации его осей относительно основных осей решетки кристалла, измеряют оптическую разность хода лучей при различных углах поворота образца, а количество просвечиваний образца выби8рают равным или большим числа известных компонент напряжений. Поляризациокно-оптический способ определения напряжений в образце, осущест ляется следукнцим образом. Берут произвольно ориентированный офазец монокристалла и в нем подходящим образом вводят оси декартовых коор динат .Определяют углы ориентаци этих осей относительно основных осей разметки кристалла и просвечивают образец вдоль различных направлений, поворачивая его вокруг одной из осей X или У, причем свет в исходном положении распространяется вдоль оси 2 . Для каждого угла поворота образца вокруг известной оси измеряют оптическую разность хода лучей, по которой рассчитывают из пьезооптического уравнения соо ветствующие фотоупругие постоянные для всех компонент тензора напряжений. Возможное число определяемых компонент напряжений зависит от ориентации осей в решетке кристалла. Если оси коллинеарны высокосимметричным направ . лениям ( ЮО), (1Ю), (ill) кристалла и их комбинация ус, то число определяемы компонент не претышает четырех. При произвольном выборе осей XV 2 можно определить все шесть компонент напряжений, действуклцих в засвечиваемом объ ме образца монокристалла. Число просвечиваний офазца больше или равно числу неизвестных компонент напряжений. Неизвестные компоненты напряжений находят из решения систет 1ы линейных алгебраических уравнений. Предлагаемый способ позволяет определить все шесть компонент напряжений, не содержит никаких дополнительных гипотез об общем характере напряженного состояния и о чисто упругом поведении 0 материала под действием напряжений, чем определяется его более высокая информативность и точность по сравнению с известными способами, а определение напряжений можно вести путем измерения разности хода лучей без измерения параметра изоклины, что упрощает измерения и открывает возможность широкого использования для измерения кругхэвого полярископа. ормула изобретен |,и Поляризационно-оптический способ определения напряжений в образце, заключающийся в том, что поворачивают образец вокруг своей оси, просвечивают его Поляризованным лучом света, измеряют оптическую разность хода лучей, по которой определяют напряжения в образце, отличающийся тем, что, с целью обеспечения определения напряжений в образце из монокристаллов кубической сингонии, перед просвечиванием образца измеряют .углы ориентации его осей относительно основных осей решетки кристалла, измеряют оптическую разность хода лучей при различных углах поворюта образца, а количество просвечиваний образца выбирают равным или большим числа известных компонент напряжений . Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Напряжения и дислокации в полупроводниках. Сборник. М., АН СССР, 1962, с. 8-33. 2.Александров А. Я., Ахметзанов М.Х. Поляризационно-оптические методы механики деформируемого тела. М., Наука , 1973, с. 191-198 (прототип).
