Способ обнаружения поверхностныхдЕфЕКТОВ B элЕКТРОпРОВОдНыХ издЕлияХ Советский патент 1981 года по МПК G01N25/72 

(54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ

ДЕФЕКТОВ В ЭЛЕКТРОПРОВОДНЫХ ИЗДЕЛИЯХ температуры поверхности изделия в области дефекта не начнет уменьшатьс « по значению частоты электромагнитного поля, при которой наблюдается уменьшение перепада температур судят о глубине расположения поверхностног дефекта.. Соотношения между частотами элект ромагнитного поля и глубиной проникновения электромагнитного поля в И37 делие определяют по известным формулам. При-этом глубина расположения -поверхностного дефекта сравнима с глубиной проникновения электромагнит ного поля в изделие при совпадении частоты электромагнитного поля с час тотой, при которой наблюдается умень шение перепада температур в области дефекта. v(.l°2Lf; ., где Vj - частота, обеспечивающая минимапьное проникновение электромагнитного поля в изделие; а - допустимая глубина некритического поверхностного дефекта;К - коэффициент материала изделия, учитывающий электричес кие и магнитные свойства материала изделия; h - глубина расположения поверх ностного дефекта или трещины;V- - частота, при которой уменьшается .перепад температуры . Пример . Проводят контроль ал миниевых изделий в виде пластин размерами 10x20x100 мм, имеющих трещины на поверхности с наибольшей площадь Регистрацию температуры поверхности пластин осуществляют известным спосо бом с помощью радиометра. Нагрев токами высокой частоты осуществляют с помощью индуктора с источником энергии в виде лампового генератора. Тем пе| атура нагрева не превышает температуру окружающей среды более, чем на . Регистрируют температуру поверхности пластины, на которой имеется поверхностная трещина. Затем нагрева ют эту поверхность токами высокой частоты при частоте V , которую, выбирают по приведенной уже формуле, принимая допустимую глубину трещины а и учитывая, что для алюминия К составляет 1,7810 , Затем повторно регистрируют температуру той же нагреваемой поверхности пластины. Определяют разность измеренных температур поверхности и по наличию перепада температур в области трещины определяют ее месторасполржение. Затем непрерывно измеряют величину перепада температур в области трещины и одновременно уменьшают частоту электромагнитного поля до тех. пор, пока измеряекый перепад температур не начинает уменьшается. Частота Vg , при которой Наблюдается уменьшение перепада температур, составляет 1,25 . По значению этой частоты с помощью при- веденной формулы определена глубина расположения трещины h (0,08 см). При разрушающих испытаниях партии таких пластин в количестве 6 шт..(пут.ем последовательного шлифования и наблюдения поверхности в микроскоп) установлено достаточно хорошее совпадение резул ьтатов. измерений глубины, трещин (расхождение не.более 20% полученных результатов при разрушающих испытаниях и по предлагаемому способу) . При использовании известного . способа погрешность превышает 30%. Предлагаемый способ обеспечивает повышение точности определения глубины расположения поверхностных дефектов, что позволяет своевременно обнаружить критические дефекты и тем самым увеличить надежность изделий. Формула изобретения Способ обнаружения поверхностных дефектов в электропроводных изделиях, заключающийся в регистрации темпера-, турной поверхности контролируемого изделия,нагреве поверхности изделия токами выcoкQй частоты повторной регистрации температуры той же.нагреваемой поверхности и определении разности измеренных температур поверхности, отличающи йся тем, что, с целью повышения точности определения глубины расположения поверхностных дефектов, поверхность изделий нагревают токами высокой частоты при частоте электромагнитного поля, обеспечивающей минимальное проникновение электромагнитного поля в изделие, сравнимо.е с допустимой .глубиной некритического поверхност нЪго дефекта,по наличию перепада температур в области дефекта определяют местоположение дефекта, затем неп- / рерывно измеряют величину перепада температуры в области дефекта и одновременно уменьшают частоту электромагнитного поля до тех пор, пока измеряемый перепад температуры повед)ности изделия в области дефекта не начнет уменьшаться, и по значению частоты электромагнитного поля, при которой наблюдается уменьшение перепада температуры, судят о глубине расположения поверхностных цефек- ; тов.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

.1. Неразрущающий контроль элементов и узлов радиоэлектроиной аппаратуры. Под.ред. Б.Е.Бердичевского. М., Советсткое радио , 1976, с. 128.

2. Патент США W 4109508, кл. G 01 N 25/72, 1978 (прототип).