Способ тепловой дефектоскопии Советский патент 1981 года по МПК G01N25/72 

Описание патента на изобретение SU857837A1

54) СПОСОБ ТЕПЛОЮЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Похожие патенты SU857837A1

название год авторы номер документа
Способ тепловой дефектоскопии изделий 1979
  • Дятлов Владимир Алексеевич
SU890203A1
Способ тепловой дефектоскопии изделий из диэлектрических материалов 1980
  • Дятлов Владимир Алексеевич
SU890204A1
Способ обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов изделий 1976
  • Гаврилин Евгений Федорович
  • Дайкер Артур Львович
  • Басов Владислав Владимирович
  • Конаш Анатолий Евдокимович
  • Белокур Александр Николаевич
SU744301A1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА НЕРАЗЪЕМНЫХ СОЕДИНЕНИЙ 2012
  • Шитиков Владислав Сергеевич
RU2515425C1
Электротермический способ дефектос-КОпии 1979
  • Головин Юрий Иванович
  • Киперман Виктор Абрамович
SU824003A1
Способ обнаружения поверхностныхдЕфЕКТОВ B элЕКТРОпРОВОдНыХ издЕлияХ 1979
  • Дятлов Владимир Александрович
SU834486A1
СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО ТЕПЛОВОГО КОНТРОЛЯ СОСТОЯНИЯ АРМАТУРЫ В ПРОТЯЖЕННЫХ ЖЕЛЕЗОБЕТОННЫХ ИЗДЕЛИЯХ 2011
  • Колеватов Александр Сергеевич
  • Санников Дмитрий Валериевич
RU2473892C1
Способ неразрушающего контроля изделий 1979
  • Бекешко Николай Александрович
SU783667A1
Способ тепловой дефектоскопии стальных изделий 1989
  • Дорошенко Анатолий Григорьевич
SU1627955A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ СЦЕПЛЕНИЯ МЕТАЛЛИЧЕСКОГО ПОКРЫТИЯ С ИЗОЛЯЦИОННЫМ ОСНОВАНИЕМ 1994
  • Пятышин А.Е.
  • Сухотин Д.В.
  • Чернов А.Л.
  • Чернов Л.А.
  • Чинь С.Ж.
  • Останин Ю.Я.
RU2065600C1

Реферат патента 1981 года Способ тепловой дефектоскопии

Формула изобретения SU 857 837 A1

Изобретение относится к неразрушагащему контролю материалов и изделий и может быть использовано для контроля изделий из электропроводшлх материалов. Известен способ -тепловой дефектоскопии, основанный на поверхностном нагреве изделия и регистрации распре деления температуры его поверхности til . Однако этот способ позволяет обна руживать только подповерхностные и поверхностные дефекты. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является спо соб тепловой дефектоскопии, основанный на внутреннем нагреве изделия путем пропускания через него электри ческого тока, регистрации распределе ния температуры поверхности изделия и суждения по ней о наличии дефектов. Этот способ позволяет определят как поверхностные, так и внутренние дефекты Г2 . Однако точность определения место положения дефектов известным способо мала, так как он позволяет определять местоположение дефектов в плоскости поверхности изделия, но не поз воляет определять глубину расположения дефектов. Цель изобретения - повышение точности определения местоположения внутренних дефектов путем определения глубины их расположения. Поставленная цель достигается тем, что согласно способу тепловой дефектоскопии, основанному на в11утреЕ:нем нагреве изделия путем пропускания через него Электрического тока и регистрации распределения температуры поверхности изделия, через изделие сначала пропускают переменный электрический ток с .частотой, обеспечиваквдей проникновение тока по всей толщине изделия, затем увеличивают частоту переменного тока и одновременно измеряют величину перепада температуры поверхности изделия в области дефекта до тех пор, пока измеряемой перепад температуры на начин ает уменьшаться, и по значению частоты электрического тока, при которой наблюдается уменьшение перепада температуры, судят о глубине расположения дефекта. Соотнсяпение между частотой тока и глубиной расположения дефекта устанавливается с помощью известных формул, описывающих скии-эффект.

SU 857 837 A1

Авторы

Дятлов Владимир Алексеевич

Даты

1981-08-23Публикация

1979-11-06Подача