(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПЛОСКОСТНОСТИ ПРОЗРАЧНЫХ ДЕТАЛЕЙ
где D - световой диаметр оптического клина;
А - тангенс апертурного угла коллиматора.
На чертеже изображена оптическая схема устройства.
Устройство содержит источник 1 монохроматического излучения и последовательно расположенные по ходу излучения зеркало 2, коллиматор,включакнций. два конфокально расположенных объектива 3 и 4, кхшновидную пластину 5 с эталонной нижней поверхностью второе зеркало6, плоскость 7 наблюдения интерферьенционной картины, отклоняющий элемент 8, установленный с возможностью изменения его положения относительно оптической оси и расположенный между объективами 3 и 4 на расстоянии Ь от их фокальной плос,кости.
Устройство работает следукяцим образом.
Излучение от источника 1 монохроматического излучения направляется зеркалом 2 на объектив 3,
Пройдя отклоняющий элемент 8, излучение попадает на объектив 4 коллиматора, затем на клиновидную пластину 5 и контролируемую деталь 9. Излучение.отраженное от контролируемой детали 9 и эталонной нижней поверхности клиновидной пластины 5,интерферирует и направляется вторым зеркалом 6 в плоскость 7 наблюдения интерференционной картины. На исследуемую интерференционную картину накладываются паразитные картины, которые устраняются отклоняющим элементом 8, установленным с возможностью либо возвратно-поступательного движения относительно оптической оси, либо колебания относительно той же оси, что приводитjK изменению угла падения излучения, вызьшакпцего изменение разности хода интерферирующего излучения, отраженного от двух
поверхностей контролируемой детали 9. В результате чего паразитная интерференционная картина смещается на величину,, равную ширине одной полосы
и при периодическом изменении угла падения излучения вследствие изменения, положения отклоняющего элемейja В паразитная интерференционная картина размывается, а размытые полезной интерференционной картины незначительно.
Формула изобретения
Устройство для контроля плоскостности прозрачных деталей, содержащее источник монохроматического излучения и последовательно расположенные по ходу излучения зеркало, коллиматор, включающий два конфокально расположенных объектива, клиновидную пластину с эталонной нижней поверхностью, второе зеркало, плоскость наблюдения интерференционной картины и отклоняющий элемент, установленный с возможностью изменения его положения относительно оптической оси, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности контроля, отклоняющий элемент выполнен в виде оптического клина, расположенного между двумя объективами на расстоянии
. 1Л
от их фокальной плоскости, где D - световой диаметр оптического СВ
клина;
А - тангенс апертурного угла ц оллиматора.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1,Патент США № 4072423, кл. 356-106, 1977.
2.Авторское свидетельство СССР
№ 357462, кл. G 01 В. 9/02, 1972 (прототип) ,
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для контроля плоскостности прозрачных деталей | 1988 |
|
SU1589045A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ | 2010 |
|
RU2441199C1 |
Интерференционное устройство для контроля линз | 1990 |
|
SU1758423A1 |
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТЕЛЕСКОПИЧЕСКИХ СИСТЕМ И ОБЪЕКТИВОВ | 2012 |
|
RU2518844C1 |
Устройство для контроля плоскостности полированных полупроводниковых пластин | 1985 |
|
SU1293485A1 |
Интерферометр для контроля вогнутых асферических поверхностей | 1990 |
|
SU1728650A1 |
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2000 |
|
RU2237865C2 |
Устройство для измерения угла конуса внутренних конических поверхностей деталей | 1990 |
|
SU1737265A1 |
СКАНИРУЮЩИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ | 2002 |
|
RU2264595C2 |
ОПТИЧЕСКИЙ ПРОФИЛОМЕТР | 1994 |
|
RU2085843C1 |
Авторы
Даты
1981-06-30—Публикация
1979-04-04—Подача