Устройство для контроля плоскостностипРОзРАчНыХ дЕТАлЕй Советский патент 1981 года по МПК G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU842398A1

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПЛОСКОСТНОСТИ ПРОЗРАЧНЫХ ДЕТАЛЕЙ

где D - световой диаметр оптического клина;

А - тангенс апертурного угла коллиматора.

На чертеже изображена оптическая схема устройства.

Устройство содержит источник 1 монохроматического излучения и последовательно расположенные по ходу излучения зеркало 2, коллиматор,включакнций. два конфокально расположенных объектива 3 и 4, кхшновидную пластину 5 с эталонной нижней поверхностью второе зеркало6, плоскость 7 наблюдения интерферьенционной картины, отклоняющий элемент 8, установленный с возможностью изменения его положения относительно оптической оси и расположенный между объективами 3 и 4 на расстоянии Ь от их фокальной плос,кости.

Устройство работает следукяцим образом.

Излучение от источника 1 монохроматического излучения направляется зеркалом 2 на объектив 3,

Пройдя отклоняющий элемент 8, излучение попадает на объектив 4 коллиматора, затем на клиновидную пластину 5 и контролируемую деталь 9. Излучение.отраженное от контролируемой детали 9 и эталонной нижней поверхности клиновидной пластины 5,интерферирует и направляется вторым зеркалом 6 в плоскость 7 наблюдения интерференционной картины. На исследуемую интерференционную картину накладываются паразитные картины, которые устраняются отклоняющим элементом 8, установленным с возможностью либо возвратно-поступательного движения относительно оптической оси, либо колебания относительно той же оси, что приводитjK изменению угла падения излучения, вызьшакпцего изменение разности хода интерферирующего излучения, отраженного от двух

поверхностей контролируемой детали 9. В результате чего паразитная интерференционная картина смещается на величину,, равную ширине одной полосы

и при периодическом изменении угла падения излучения вследствие изменения, положения отклоняющего элемейja В паразитная интерференционная картина размывается, а размытые полезной интерференционной картины незначительно.

Формула изобретения

Устройство для контроля плоскостности прозрачных деталей, содержащее источник монохроматического излучения и последовательно расположенные по ходу излучения зеркало, коллиматор, включающий два конфокально расположенных объектива, клиновидную пластину с эталонной нижней поверхностью, второе зеркало, плоскость наблюдения интерференционной картины и отклоняющий элемент, установленный с возможностью изменения его положения относительно оптической оси, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности контроля, отклоняющий элемент выполнен в виде оптического клина, расположенного между двумя объективами на расстоянии

. 1Л

от их фокальной плоскости, где D - световой диаметр оптического СВ

клина;

А - тангенс апертурного угла ц оллиматора.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1,Патент США № 4072423, кл. 356-106, 1977.

2.Авторское свидетельство СССР

№ 357462, кл. G 01 В. 9/02, 1972 (прототип) ,

Похожие патенты SU842398A1

название год авторы номер документа
Устройство для контроля плоскостности прозрачных деталей 1988
  • Калбазов Антип Иванович
  • Калбазова Зинаида Ивановна
SU1589045A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 2010
  • Острун Борис Наумович
RU2441199C1
Интерференционное устройство для контроля линз 1990
  • Казаков Николай Павлович
  • Крылов Юрий Николаевич
  • Гиргель Сергей Сергеевич
  • Горелый Николай Николаевич
  • Войтенко Игорь Георгиевич
SU1758423A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТЕЛЕСКОПИЧЕСКИХ СИСТЕМ И ОБЪЕКТИВОВ 2012
  • Ларионов Николай Петрович
RU2518844C1
Устройство для контроля плоскостности полированных полупроводниковых пластин 1985
  • Бережинский Леонид Иосифович
  • Лисица Михаил Павлович
  • Лысенко Владимир Федорович
  • Нечепоренко Владимир Васильевич
  • Сергеев Олег Тимофеевич
  • Усенко Алексей Данилович
SU1293485A1
Интерферометр для контроля вогнутых асферических поверхностей 1990
  • Комраков Борис Михайлович
  • Бодров Сергей Васильевич
  • Васильев Александр Алексеевич
SU1728650A1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2000
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
RU2237865C2
Устройство для измерения угла конуса внутренних конических поверхностей деталей 1990
  • Сороко Лев Маркович
SU1737265A1
СКАНИРУЮЩИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
RU2264595C2
ОПТИЧЕСКИЙ ПРОФИЛОМЕТР 1994
  • Кожеватов И.Е.
  • Куликова Е.Х.
  • Черагин Н.П.
RU2085843C1

Иллюстрации к изобретению SU 842 398 A1

Реферат патента 1981 года Устройство для контроля плоскостностипРОзРАчНыХ дЕТАлЕй

Формула изобретения SU 842 398 A1

SU 842 398 A1

Авторы

Завин Илья Ефимович

Кусман Евгений Александрович

Матюшков Владимир Егорович

Даты

1981-06-30Публикация

1979-04-04Подача