смещение полос деформируемого растра 3 относительно гофрированной пленки .эталонного растра 2. в процессе нагружения исследуемую поверхность изделия 4 облучает источник 1 света, а отраженный от деформируемого растра 3 свет проходит через эталонный растр 2 и регистрируется фотоприемникрм 5. При деформации изделия интенсивность отраженного света изменяется. По разности начальной интенсивности отраженного света и его интенсивности в процессе нагружения измеряют величину деформации изделия:
Использование изобретения по сравнению с известными техническими решениями позволяет повысить точность измерения деформаций и упростить процесс измерений. Наряду с измерением деформаций устройство позволяет измерять также параметры вибрации, параллельности и т.п.
Формула изобретения Устройство для измерения деформаций изделия, содержащее расположенный вдоль оптической оси источник света, эталонный растр, деформируемый растр и фотоприемник, отличающееся тем, что, с целью упрощения процесса измерений, эталонный растр выполнен в виде гофрированной прозрачной пленки с шириной каждого гофра, равной ширине двух близлежащих к нему полос деформируемого растра, и расположен неподвижно относительно фотоприемника.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1.Геокарис П. Муаровые полосы при исследовании деформаций. М. , Мир, ХУ/, с. 145-151,
2.Дюрелли Д., Парке В. Анализ деформаций с использованием муаРа. М., Itep, 1974, с. 249-253
прототип).
