Дефектоскоп поверхности проката круглого сечения Советский патент 1981 года по МПК G01N27/90 

(5) ДЕФЕКТОСКОП ПОВЕРХНОСТИ ПРОКАТА

t

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для дефектоскопии поверхности проката круглого сечения.

Известны электромагнитные дефектоскопы, содержащие одно или несколько измерительных каналов, состоящих из последовательно соединенных накладного вихретокового преобразователя, усилителя и амплитудного дискриминатора, и блок сортировки, соединенный своими .входами с выходами измерительных каналов ll.

Недостаток известных дефектоскопов состоит в возможности перебраковки при одновременном взаимодействии вихрётоковых преобразователей дефекTockona более чем с одним дефектом.

Наиболее близок к предлагаемому по технической сущности дефектоскоп поверхности .проката круглого сечения, содержащий два первичных измерительных преобразователя, установленных на расстоянии, необходимом для размеКРУГЛОГО СЕЧЕНИЯ

щения между ними контролируемого проката, два усилителя, соединенных сво ими входами с соответствующими преобразователями, два амплитудных дискриминатора и блок сортировки 2.

Однако в процессе работы этого дефектоскопа возможна перебраковка при одновременном взаимодействии обоих преобразователей с дефектами.

Цель изобретения - повышение до10стоверности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что дефектоскоп снабжен двумя включенными между соответствующими усилителем и амплитудным дискрими15натором расширителями сигналов, сумматором, подключенным своими входами к выходам соответствующих расширителей сигналов, дополнительным амплитудным дискриминатором, включенным

20 между выходом сумматора « первым входом блока сортировки, и двумя логическими схемами антисовпадёний, подключенными своими первыми входами

выходам соответствующих амплитудных искриминаторов, вторыми входами к выходу дополнительного амплитудного искриминатора, а своими выходами соответственно ко второму и третьему входам блока сортировки.

На чертеже.представлена блок-схема дефектоскопа поверхности проката круглого сечения.

Дефекюскоп содерм ит два первичных измерительных преобразователя 1 и 2, установленных на расстоянии, необходимом для размещения между ними контролируемого проката, два силителя 3 и , соединенных своими входами соответственуно с преобразователями 1 и 2 и своими выходами через соответствующие расширители 5 и б сигналов с соответствующими входами сумматора 7, амплитудные дискриминаторы 8, 9 и 10, соединенные своими входами с выходами, соответственно, расширителя 5 сигналов, сумматора 7 и расширителя 6 сигналов, схемы 11 и 12 антисовпадений, подключенные своими входами . к амплитудным дискриминаторам 8, 9 и 10 соответственно, и блок 13 сортировки, подключенный своим первым входом к амплитудному дискриминатору 9, а вторым и третьим входами - к выходам схем 11 и 12 антисовпадений соответственно.

Дефектоскоп работает следующим образом.

Сигналы преобразователей 1 и 2, усиленные усилителями 3 и t, поступают на соответствующие расширители 5 и 6 сигналов. Расширители 5 и 6 сигналов при наличии сигналов от дефектов вырабатывают стробирующий импульс, длительность которого равна времени прохождения преобразователем сектора пологой зачистки дефектов. В пределах стробирующего импульса на выходе расширителей сигналов существует сигнал, соответствующий максимальному из обнаруженных а данном секторе дефектов. Причем при каждом обнаруженном дефекте большей глубины стробирующий импульс возобновляется.

С выходов расширителей 5 и 6 сигналы одновременно поступают на входы сумматора 7 и амплитудных дискриминаторов 8 и 10, которые автономно оценивают глубину дефектов и выдают сигналы о них на первые входы схем 11 и 12 антисовпадеНИИ. На сумматоре 7 происходит сложение величин сигналов от диаметрально расположенных дефектов, а также , расположенных в зонах действия стробирующих импульсов. Сигнал, пропорциональный суммарному сигналу от двух максимальных дефектов, находящихся в зоне действия стробирующих импульсов, с выхода сумматора 7 подается на вход дополнительного амплитудного дискриминатора 9 в котором происходит сравнение суммарного сигнала от дефектов с величиной установки, пропорциональной максимально допустимому уменьшению поперечного размера изделия. Если суммарный сигнал от дефектов превышает допустимый, на выходе амплитудного дискриминатора 9 появляется сигнал, который поступает на вторые входы схем 11 и 12 антисовпадений и один из входов блока 13 сортировки. Наличие сигналов на вторых входах схем 11 и 12 антисовпадений запрещает прохождение .сигналов от амплитудных дискриминаторов 8 и 10 к блоку 13 сортировки. Если суммарный сигнал от дефектов меньше критичного, на выходе амплитудного дискриминатора 9 сигнала нет, и

0 сигналы с амплитудных дискриминаторов 8 и 10, беспрепятственно пройдя через схемы 11 и 12 антисовпадений, поступают на входы блока 13 сортировки, который маркирует обнаруженные дефекты и выдает команду на сортирующее устройство.

Использование в дефектоскопе расширителя сигналов, сумматора, схем антисовпадений и дополнительного

0 амплитудного дискриминатора позволяет повысить точность оценки величины допустимых дефектов и установить более точные критерии разбраковки изделий на годные, подлежащие

5 ремонту и окончательный брак. Это позволяет повысить достоверность контроля и уменьшить процент перебраковки металла.

о

Формула изобретения

Дефектоскоп поверхности проката круглого сечения, содержащий два S первичных измерительных преобразователя, установленных на расстоянии, необходимом для размещения между ними контролируемого проката, два

усилителя, соединенных своими входами с соответствующими преобразователями, два амплитудных дискриминатора и блок сортировки, от л и чающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, он снабжен двумя включенными между соответствующими усилителем и амплитудным дискриминатором расширителями сигналов, сумматором, подключенным своими входами к выходам соответствующих расширителей сигналов, дополнительным амплитудным дискриминатором, включенным между выходом сумматора и первым входом блока сортировки, и двумя логическими схемами антисоападений, подключенными своими первыми входами к выходам соответст-вующих амплитудных дискриминаторов, вторыми входами - к выходу дополнительного амплитудного дискриминатора, а своими выходами - соответственно ко второму и третьему входам блока сортировки.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Дефектоскопия, 1970, И 2, с.23-25.

2. Дефектоскопия, 1969, Г , Ci116-123 (прототип).

13

IZ

10