3 падения напряжения, оказывается таки жесткой механи же, как и при наличии ческой связи. При этом из-за отсутствия жесткой механической связи кристалла транзистора с его корпусом при приложени к конструкции транзистора механических нагрузок в виде, например, вибра ций, ускорений и т.д. контакт кристалла с корпусом может буть потерян В результате этого происхо ит резкое повышение теплового сопротивления на границе переход - корпус, что приводит к отказам транзистора из-за перегрева. Цель изобретения - определение прочности механических связей элементов, конструкции изделий и повышение точности контроля тепловых сопро тивлений между ними. Поставленная цель достигается тем что в способе неразрушающего контроля качества соединений элементов кон струкции изделий электронной техники, состоящем в нагревании элемента конструкции, измеряют амплитуду упру гой деформации корпуса изделия посредством измерителя малых перемещений и по амплитуде судят о качестве соединений. , Предлагаемый способ основан на использовании эффекта возникновения упругой деформации корпуса при резком нагреве одного из элементов конструкции, например кристалла полупро водникового устройства (транзистора или интегральной схемы), величина которой достигает величины порядка десятых долей микрона. Деформация в корпусе конструкции вызывается резким изменением размеро нагреваемого элемента в случае жесткой механической связи между ним и остальной конструкцией. Если имеет . место случай простого касания элемен та (например кристалла интегральной схемы) с остальной частью конструкции, то упругая деформация оказывается резко ослабленной, что и свидетельствует об отсутствии жесткой механической связи. При этом величина упругой деформации корпуса пропорциональна также площади связи между элементами конструкции. Реализовать предлагаемый способ можно с помощью измерителей малых перемещений, обладающих постоянной времени не более десятых долей секунды. 2 На чертеже приведена блок-схема устройства, позволяющего реализовать предлагаемый способ. Устройство состоит из станины 1 с расположенным на ней испытуемым изделием 2. К кронштейну 3, жестко связанному со станиной 1, прикреплен датчик k малых перемещений, который своим шупом опирается на корпус изделия 2. Датчик связан электрически с преобразователем 5 и регистратором 6. Совокупность, состоящая из датчика , преобразователя 5 и регистратора 6, образует измеритель малых перемещений, в качестве которого может быть использован, например, измеритель малых перемещений модели 212 завода Калибр с регистратором в виде координатного самописца. Генератор 7 импульсного тока электрически связан с изделием 2 и регистратором 6. Устройство .работает следующим образом. Генератор 7 обеспечивает подачу на изделие 2 (например интегральную схему) импульса тока. Несколько ранее от этого же генератора запускается регистратор 6. При подаче импульса тока кристаллинтегральной схемы разогревается, и по ее корпусу распространяется упругая волна сжатия в случае наличия жесткой механической связи. Перемещения поверх-, ностей корпуса воспринимаются датчиком k, сигнал ко.торого усиливается, преобразуется преобразователем 5 и в усиленной виде подается на регистратор 6. Величина перемещений характеризует качество соединений элементов конструкции контролируемых изделий . Экономический эффект от применения предлагаемого способа состоит в осуще ствлении ранней диагностики изделий , имеющих непрочные соединения элементов конструкции, которые с течением времени могут полностью нарушиться, вызвав при этом отказ дорогостоящей аппаратуры. В частности, такой Диагностике могут подвергаться интегральные схемы и полупроводниковые приборы различных классов. Формула изобретения Способ неразрушающего контроля качества соединений элементов кон591
струкции изделий электронной техники, состоящий в нагревании элемента, отличающийся тем, что, с целью определения прочности механических связей элементов конструкции изделий и повышения точности контроля тепловых сопротивлений между ними, измеряют амплитуду упругой деформации корпуса изделия посредст-, измерителя малых перемещений и
13826
по амплитуде судят о качестве соединений.
Источники информации, 5 принятые во внимание при экспертизе
1.Патент США If 37 5i60,
кл. G 01 R 31/26, опублик. 10.06.732.Авторское свидетельство СССР
Vf k6BS, кп. G ОТ R 31/26 опублик. 10 15.10.7.
Jtfc
III||||||lllltllllllllllllH.llir
-. ,
