Способ определения линейного износа Советский патент 1982 года по МПК G01N3/56 

Способ реализуется следующим образом. До проведения испытаний на износ сопрягаются исследуемый участок изнашиваемой поверхности 1 образца 2 с щупом 3. При помощи индентора, например, алмазной пирамиды прибора ПМТ-3, на нерабочую поверхность 4 образца 2 и поверхность 5 щупа 3 наносят риски 6 и 6 соответственно. Вдоль этих рисок, с помощью того же индентора создают основную искусственную базу 7 на нерабочей поверхности 4 образца 2 и вспомогательную искусственную базу 8 на поверхности 5 щупа 3. поверхности о щупа -j В данном примере эти искусственные, базы представляют собой квадратньш в плане отпечатки выдавленные алмазной пирамидои Измеряют расстояние между этими ис усственньши базами до испытаний на изУ-- -- (L). После испытаний на износ вновь сопрягают исследуемый участок изнашиваемой поверхности 1 образца 2 с щупом 3, устанавливая их таким образом, чтобы риски 6 и 6 совпадали, и вновь измеряют расстояние между искусственными базами 7 и 8 (L). Определяют изменение этого расстояния 6 L - L , которое и является величиной линейного износа образца 2. Если ибиос об;:зТа 2;ож еГбь;;77а7им: процессе его исчезнет основная искусственная база 7, то создают ряд таких баз 7, 7. Предлагаемый способ позволяет определить малые величины износа у любых тверых материалов: пористых, монолитных, меаллических, пластмассовых, пластически и упруго деформируемых, быстро и медленно изнащиваемых; повысить точность определения износа и уменьшить трудоемкость. Формула изобретения Способ определения линейного износа, заключающийся в том, что на нерабочей поверхности образца создают искусственную базу, определяют изменение расстояния от .,. исследуемого участка изнащиваемой поверхности, по величине которого судят об износе, отличающийся тем, что, с Целью повышения точности измерения, с исследуемым участком изнашиваемой поверхности сопрягают щуп, на его поверхности выполняют дополнительную искусственную базу, на поверхности щупа и нерабочей поверхности образца наносят риски, измеряют расстояние между двумя искусственными базами в положении совпадающих рисок до и после изнашивания, по разности которых определяют изменение расстояния от основной искусственной базы до исследуемого участка изнашиваемой поверхности, Источники информации, принятые во внимание при экспертизе .ТкГо 01Тз/5б1969 (прототип) № 335579, кл. G 01 N 3/56, 19Ь9 (прототип).