1
Изобретение относится к электронной промышленности.
Известен способ изготовления оксидно-полупроводниковых конденсаторов, включающий формовку спеченных анодов, нанесение полупроводникового слоя, тренировку (электротренировку и термоэлектротренировку) в обычных условиях, а затем герметизацию конденсатора 1.
Часть конденсаторов, имеющих удовлетворительные электрические характеристики после изготовления, при эксплуатации отказывают вследствие резкого увеличения тока утечки, т. е. отбраковка потенциально ненадежных конденсаторов недостаточно эффективна.
Цель изобретения - повышение эффективности отбраковки.
Это достигается тем, что по предлагаемому способу отбраковки оксидно-полупроводниковых конденсаторов конденсаторы перед тренировкой подвергают вакуумной сушке при одновременной подаче на них напряжения обратной полярности и производят предварительное измерение токов утечки в вакууме при напряжении прямой полярности.
Пример. 50 ниобиевых оксидно-полупроводниковых конденсаторов номинала 20 вХ Х47 мкф сушили при комнатной температуре под вакуумом 1 10 торр в течение 0,5 .час, подавая напряжение обратной полярности
минус 1 в, после чего в вакууме измеряли ток утечки при номинальном напряжении прямой полярности плюс 20 в. Ток утечки двух конденсаторов превысил 100 мка, у остальных - не более 15 мка. Тренировку и последующие операции выполняли известным способом.
После изготовления все конденсаторы удовлетворяли техническим условиям, в том числе и два отмеченных образца, ток утечки которых при нормальном атмосферном давлении не превышал 10-15 мка. При испытании на надел ность в номинальном режиме (испытательное напряжение равно номинальному, темнература - плюс после 1000 час), ток утечки двух отмеченных образцов превысил 500 мка, у остальных - не более 15 мка.
Формула изобретения
Способ отбраковки оксидно-полупроводниковых конденсаторов, включающий тренировку конденсаторов и последующее измерение токов утечки, отличающийся тем, что, с целью повышения эффективности отбраковки, перед тренировкой конденсаторы подвергают вак)умной сушке при одновременной подаче на них напряжения обратной полярности и производят предварительное измерение токов утечки в вакууме при напряжении прямой полярности. 3 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: 4 1. Закгейм Л. Н. Электролитические конденсаторы. М., 1963, с. 229-232.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОКСИДНО-ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КОНДЕНСАТОРОВ | 1993 |
|
RU2069405C1 |
Способ изготовления оксидно-полупроводниковых конденсаторов | 1978 |
|
SU892494A1 |
Способ отбраковки оксидно-полупроводниковых конденсаторов | 1979 |
|
SU942183A1 |
Способ изготовления танталовых и ниобиевых оксидно-полупроводниковых конденсаторов | 1978 |
|
SU871243A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОКСИДНЫХ КОНДЕНСАТОРОВ | 1989 |
|
RU1695770C |
Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком | 1981 |
|
SU997113A1 |
ТРИАЛКОКСИСИЛАНЫ, СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ КАТОДНОЙ ОБКЛАДКИ НА ОСНОВЕ ПОЛИЭТИЛЕНДИОКСИТИОФЕНА С СИЛАНОВЫМ ПОДСЛОЕМ И ОКСИДНЫЙ КОНДЕНСАТОР С ТАКОЙ КАТОДНОЙ ОБКЛАДКОЙ | 2011 |
|
RU2500682C2 |
СПОСОБ ПЕРЕРАБОТКИ СКРАПА АНОДОВ ТАНТАЛОВЫХ ОКСИДНО-ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КОНДЕНСАТОРОВ | 2012 |
|
RU2480529C1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ КАТОДНОЙ ОБКЛАДКИ КОНДЕНСАТОРА И ОКСИДНО-ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ КОНДЕНСАТОР | 2011 |
|
RU2463679C1 |
Способ изготовления радиодеталей | 1978 |
|
SU743055A1 |
Авторы
Даты
1977-05-30—Публикация
1975-04-25—Подача