СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП (ВАРИАНТЫ), ЕГО ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ ЭЛЕМЕНТ И СПОСОБ ЮСТИРОВКИ КАНТИЛЕВЕРА Российский патент 1997 года по МПК G02B21/00 

Похожие патенты RU2072735C1

название год авторы номер документа
СИСТЕМА ОБНАРУЖЕНИЯ ДЛЯ ДИНАМИЧЕСКОГО ЗОНДА 2009
  • Хамфрис Эндрю
RU2518859C2
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С ЖИДКОСТНОЙ ЯЧЕЙКОЙ 2001
  • Быков В.А.
  • Самойленко А.Д.
  • Саунин С.А.
RU2210818C2
МНОГОФУНКЦИОНАЛЬНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП 2010
  • Быков Андрей
  • Котов Владимир
  • Быков Виктор
RU2498321C2
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С ЖИДКОСТНОЙ ЯЧЕЙКОЙ 2001
  • Алексеев М.Е.
  • Быков В.А.
  • Саунин С.А.
RU2210731C2
КАНТИЛЕВЕР ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА 1999
  • Ибрагимов А.Р.
  • Рабухин А.Л.
RU2153731C1
СИСТЕМА ОБНАРУЖЕНИЯ ЗОНДА 2009
  • Хамфрис Эндрю
RU2512674C2
МНОГОЗОНДОВЫЙ ДАТЧИК КОНТУРНОГО ТИПА ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА 2003
  • Алексеев М.Е.
  • Быков В.А.
  • Саунин С.А.
RU2244256C1
Зонд для сканирующей зондовой микроскопии и способ его изготовления (варианты) 2017
  • Синев Иван Сергеевич
  • Мухин Иван Сергеевич
  • Самусев Антон Кириллович
  • Макаров Сергей Владимирович
  • Комиссаренко Филипп Эдуардович
RU2660418C1
УСТРОЙСТВО КОМПЕНСАЦИИ СОБСТВЕННЫХ КОЛЕБАНИЙ ИГЛЫ ЗОНДА СКАНИРУЮЩЕГО МИКРОСКОПА 2019
  • Деева Вера Степановна
  • Слободян Степан Михайлович
RU2703607C1
Нанозонд сканирующего микроскопа 2018
  • Барчуков Дмитрий Анатольевич
  • Слободян Степан Михайлович
RU2687180C1

Реферат патента 1997 года СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП (ВАРИАНТЫ), ЕГО ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ ЭЛЕМЕНТ И СПОСОБ ЮСТИРОВКИ КАНТИЛЕВЕРА

1. Сканирующий зондовый микроскоп, содержащий систему подачи и сканирования образца, измерительную головку, включающую платформу, установленные на ней полупроводниковый лазер и фотодатчик отклонения отраженного луча лазера, электронные схемы управления и регистрации, включающие канал сканирующего туннельного микроскопа, канал атомно-силового микроскопа и канал обратной связи, систему акустической, конвекционной и виброзащиты, кантилевер и иглу сканирующего туннельного микроскопа, отличающийся тем, что кантилевер и игла сканирующего туннельного микроскопа закреплены на дополнительно введенном столике, установленном в измерительной головке с возможностью перемещения, а канал обратной связи дополнительно снабжен реле, обеспечивающим подключение канала обратной связи либо к выходу канала сканирующего туннельного микроскопа, либо к выходу канала атомно-силового микроскопа.

2. Сканирующий зондовый микроскоп, содержащий систему подачи и сканирования образца, измерительную головку, включающую платформу, установленные на ней полупроводниковый лазер и фотодатчик отклонения отраженного луча лазера, электронные схемы управления и регистрации, включающие канал сканирующего туннельного микроскопа, канал атомно-силового микроскопа и канал обратной связи, систему акустической, конвекционной и виброзащиты, чувствительные элементы сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа, отличающийся тем, что чувствительные элементы сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа выполнены в виде комбинированного зонда, включающего держатель кантилевера с закрепленным на нем кантилевером из магнитного или ферромагнитного проводящего материала и электромагнитной катушкой с магнитопроводом, соединяющим электромагнитную катушку и кантилевер, при этом канал обратной связи дополнительно снабжен реле, обеспечивающим подключение входа канала обратной связи либо к выходу канала сканирующего туннельного микроскопа, либо к выходу канала атомно-силового микросокпа.

3. Чувствительный элемент сканирующего зондового микроскопа, содержащий кантилевер, закрепленный на держателе, отличающийся тем, что чувствительный элемент выполнен в виде комбинированного зонда, включающего электромагнитную катушку и магнитопровод, установленные на держателе, при этом магнитопровод соединяет электромагнитную катушку с кантилевером, выполненным из магнитного или ферромагнитного проводящего материала.

4. Способ юстировки кантилевера, включающий подведение кантилевера с помощью двигательных элементов под луч лазера и подведение фотодатчика отклонения отраженного луча лазера, контроль сдвига фотодатчика по электрическому сигналу на основании данных предварительно проведенной калибровки, отличающийся тем, что после наводки луча лазера на кантилевер и перед проведением измерений двигательные элементы отводят от столика, на котором укреплены кантилевер и игла сканирующего туннельного микроскопа, или от столика с комбинированным зондом, оставляя его в ненапряженном состоянии.

RU 2 072 735 C1

Авторы

Иконников А.В.

Кацур С.Ф.

Еремченко М.Д.

Саунин С.А.

Шикин С.А.

Быков В.А.

Даты

1997-01-27Публикация

1995-05-25Подача