СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИОННЫХ ПУЧКОВ ЩЕЛОЧНЫХ МЕТАЛЛОВ Российский патент 2000 года по МПК H01J27/26 H01J49/16 C23C14/46 

Описание патента на изобретение RU2148870C1

Изобретение относится к области получения ионных пучков и может быть использовано в ускорительной технике, масс-спектрометрии и т. п. Известен способ получения ионных пучков щелочных металлов, включающий нанесение галогенида металла на рабочую поверхность ионизатора с последующим нагревом (Сб. "Поверхностные методы ионизации в масс-спектрометрии", Уфа, БФ АН СССР, 1986 г., стр. 5 - 26).

Недостатком способа является невозможность получения в течение длительного времени ионного тока, необходимого для диагностики поверхностей торцевых тел (например, вторично-ионная масс-спектрометрия). Причем ионный ток при заданной температуре ионизации не поддается регулировке.

Известен способ получения ионных пучков цезия (P. Williams, R.K. Zewis, С. А. Evans, P.R. Hanlly, "Evaluation of a cesium primapy ion source on an ion microprobemass spectrometer" Anal. chem. 1977, v. 49, N 9, p. 1399-1403), включающий нагрев цезия до температуры испарения в вакууме (300oC), подведение полученных паров по трубке с нагретого до температуры ионизации щелочного металла поверхности вольфрамового ионизатора.

Недостатком способа является сложность осуществления процесса. Это связано с тем, что цезий, как и все щелочные металлы, очень агрессивен на воздухе, поэтому работа с ним должна проводиться либо в защитной атмосфере (например, атмосфере инертного газа - аргона), либо в специальном предварительно вакуумированном контейнере, который после установки ионного источника в вакуумную камеру вскрывается. А это усложняет сам процесс и существенно удлиняет время его проведения.

Известен принятый нами за прототип способ получения ионных пучков цезия (User's guide JMS - 4F, Cameca (France), p. 4. 1., прилагаем инструкцию), включающий нагрев соли щелочного металла (Cs2 CrO4) до температуры сублимации в вакууме, подведение полученных паров по трубке к нагретой до температуры ионизации щелочного металла поверхности вольфрамового ионизатора.

Недостатком данного способа является загрязнение системы и в связи с этим невозможность осуществления способа в течение длительного времени. Это связано с тем, что наряду с цезием в паровую фазу поступает хром и его соединения с кислородом (Cr2 О3), которые частично осаждаются на внутренней поверхности трубки и ионизаторе, непрерывно уменьшая проходное сечение трубки, что уменьшает ионный пучок и загрязняет рабочую поверхность вольфрамового ионизатора.

Кроме того, недостатком данного способа являются высокие энергозатраты, т. к. для получения паров цезия необходимо нагревать соль Cs2CrO4 выше 700oC.

Предлагаемое изобретение решает задачу осуществления процесса получения ионных пучков щелочных металлов в течение большого количества рабочих циклов, не выводя из строя устройство, причем с более низкими энергозатратами.

Поставленная задача достигается тем, что в предлагаемом способе, включающем нагрев соли ионизируемого щелочного металла до температуры испарения в вакууме, подведение полученных паров по трубке к нагретой до температуры ионизации щелочного металла поверхности вольфрамового ионизатора, новым является то, что в качестве ионизируемого вещества используют смесь двух солей данного металла, а именно галогенидов, карбонатов или нитратов, причем отношение количества одной соли к другой не превышает 1 : 2.

Предлагаемая совокупность признаков приводит к реализации большего числа рабочих циклов осуществления способа, причем без загрязнения устройства и более низких энергозатратах по сравнению с прототипом. Так, при осуществлении процесса получения ионов щелочных металлов по предлагаемому способу установка не загрязняется и не выходит из строя уже более 3000 часов. А при получении ионов по способу-прототипу уже через 1000 часов работы установка выходит из строя, т. к. загрязняются ионизатор и трубка.

При работе по предлагаемому способу нагревают соль для получения паров до 400-450oC, а по способу-прототипу до 700oC. Таким образом, предлагаемый способ позволяет также экономить электроэнергию (> 15%).

Итак, применение нами смеси солей щелочных металлов в качестве ионизируемого вещества при получении ионных пучков щелочных металлов является новым, также не известен полученный эффект, что сообщает предлагаемому нами техническому решению соответствие критериям "новизна" и "изобретательский уровень".

Изобретение иллюстрируется следующими примерами:
Пример 1.

Нами было осуществлено получение ионов цезия на вторично-ионной масс-спектральной установке JVS - 4F (Cameca), используемых в качестве первичного ионного пучка для бомбардировки исследуемых образцов. Для этого 2 г смеси солей CsBr - CsJ (х. ч.) в соотношении 1:1 поместили в резервуар ионного источника масс-спектрометра. Затем провели вакуумирование системы до ~1•106 мм рт. ст. После этого к ионизатору было приложено вытягивающее напряжение 5-10 кВ. Ионизатор нагревали до 1100 - 1200oC, а резервуар со смесью до 400oC. Получили ионный ток цезия 0,1-0,4 мкА, как и способе-прототипе. Способ осуществлен на установке более 3000 часов.

Пример 2.

На указанной в примере 1 установке и в тех же условиях были получены ионы цезия из смеси солей CsJ - Cs2 СО3 (х. ч.) в соотношении 1: 2. Полученный ионный ток 0,1-0,4 мкА.

Пример 3.

Были получены ионы рубидия из смеси солей RbJ - Rb2 СО2 (х. ч.) в соотношении 1: 1,5. Температура резервуара 450oC, ионизатора 1200 - 1300oC, полученный ионный ток 0,08-0,1 мкА.

Пример 4.

Были получены ионы калия из смеси солей KBr - KNO3 (х. ч.) в соотношении 1:1, условия как в примере 3. Полученный ионный ток 0,07-0,1 мкА.

Таким образом, предлагаемый способ позволяет осуществлять процесс получения ионных пучков щелочных металлов в течение большого количества рабочих циклов, не выводя из строя устройство и с более низкими энергозатратами по сравнению со способом-прототипом (на 5% ниже). Следует также отметить, что величина ионного тока при этом не ниже, чем в способе-прототипе.

Похожие патенты RU2148870C1

название год авторы номер документа
СПОСОБ АНАЛИЗА ТВЕРДЫХ ТЕЛ С ПОМОЩЬЮ ИОННОГО ИСТОЧНИКА ТЛЕЮЩЕГО РАЗРЯДА С ПОЛЫМ КАТОДОМ 2000
  • Сихарулидзе Г.Г.
RU2174676C1
ПЛАЗМЕННЫЙ ИОННЫЙ ИСТОЧНИК 1994
  • Сихарулидзе Г.Г.
  • Лежнев А.Е.
RU2083020C1
ПЛАЗМЕННЫЙ ИОННЫЙ ИСТОЧНИК 1998
  • Сихарулидзе Г.Г.
  • Лежнев А.Е.
RU2147387C1
ПЛАЗМЕННЫЙ ИСТОЧНИК С ПОЛЫМ КАТОДОМ 2002
  • Сихарулидзе Г.Г.
RU2211502C1
СПОСОБ СВЧ-ПЛАЗМЕННОГО ОСАЖДЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛЕНОК НА МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОВЕРХНОСТИ С МАЛЫМ РАДИУСОМ КРИВИЗНЫ 2001
  • Редькин С.В.
  • Аристов В.В.
RU2215820C2
БЕЗДИСПЕРСИОННЫЙ АТОМНО-ФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗАТОР 1994
  • Хвостиков В.А.
  • Гражулене С.С.
RU2085912C1
СВЧ-ПЛАЗМЕННОЕ ОСАЖДЕНИЕ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛЕНОК НА МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОВЕРХНОСТИ 1997
  • Редькин С.В.
  • Аристов В.В.
RU2117070C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ОБРАБОТКИ СЫПУЧИХ МАТЕРИАЛОВ 1994
  • Редькин С.В.
  • Аристов В.В.
  • Жаренов А.В.
RU2080747C1
СВЕРХПРОВОДНИКОВЫЙ УСИЛИТЕЛЬ ТОКА НА ОСНОВЕ ЭФФЕКТА ДЖОЗЕФСОНА 1992
  • Никулов А.В.
RU2051445C1
СПОСОБ ПЛАЗМОХИМИЧЕСКОГО ТРАВЛЕНИЯ КРЕМНИЙСОДЕРЖАЩИХ МАТЕРИАЛОВ 1997
  • Редькин С.В.
  • Аристов В.В.
RU2141701C1

Реферат патента 2000 года СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИОННЫХ ПУЧКОВ ЩЕЛОЧНЫХ МЕТАЛЛОВ

Изобретение относится к получению ионных пучков и может быть использовано в ускорительной технике, масс-спектрометрии и т.п. Способ включает нагрев двух солей металла, а именно галогенидов, карбонатов или нитратов, до температуры испарения в вакууме, подведение полученных паров по трубке к нагретой до температуры ионизации щелочного металла поверхности вольфрамого ионизатора. При этом соотношении количества одной соли к другой не превышает 1: 2. Техническим результатом является возможность осуществить процесс получения ионных пучков щелочных металлов в течение большого количества рабочих циклов, не выводя из строя устройство, и с более низкими энергозатратами по сравнению со способом-прототипом (экономия 15%).

Формула изобретения RU 2 148 870 C1

Способ получения ионных пучков щелочных металлов, включающий нагрев соли ионизируемого щелочного металла до температуры испарения в вакууме, подведение полученных паров по трубке к нагретой до температуры ионизации щелочного металла поверхности вольфрамового ионизатора, отличающийся тем, что в качестве ионизируемого вещества используют смесь двух солей данного металла, а именно галогенидов, карбонатов или нитратов, причем соотношение количества одной соли к другой не превышает 1 : 2.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2000 года RU2148870C1

Очаг для массовой варки пищи, выпечки хлеба и кипячения воды 1921
  • Богач Б.И.
SU4A1
RU 94008314 A1, 27.10.95
ВТОРИЧНО-ИОННЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР 1991
  • Абесаломов М.К.
  • Афанасьев В.П.
  • Федорович С.Д.
  • Щербаков А.Ю.
RU2012089C1
УСТАНОВКА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАДИОЗАЩИТНЫХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ В СВЧ ДИАПАЗОНЕ 2022
  • Подгорный Даниил Сергеевич
  • Елистраткин Михаил Юрьевич
  • Алфимова Наталия Ивановна
  • Бондаренко Диана Олеговна
  • Синицын Андрей Александрович
RU2805273C1
DE 3605735 A1, 30.10.86
US 4994711 A, 19.02.91
P.Williams, R.K.Zewis, C.A.Evans, P.R.Hanlly, "Evaluation of a cesium primapy ion source on an ion microprobemass spectrometer" Anal.chem., 1977, v.49, N 9, p.1399-1403
Поверхностные методы ионизации в масс-спектрометрии
Сборник
- Уфа, БФ АН СССР, 1986, с.5-26.

RU 2 148 870 C1

Авторы

Пустовит А.Н.

Загороднев В.Н.

Вяткин А.Ф.

Личкова Н.В.

Даты

2000-05-10Публикация

1995-05-11Подача