Изобретение относится к области электротехники, в частности к производству и эксплуатации полупроводниковых приборов (диодов и транзисторов), и может быть использовано для выделения из партии полупроводниковых приборов повышенной надежности с высоким уровнем достоверности в процессе производства, а также на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры.
Известно [1], что любая представительная выборка при выпуске полупроводниковых приборов состоит из трех различных по надежности групп: группа, характеризуемая интенсивностью отказов, то есть надежностью, точно соответствующая требованиям технических условий (ТУ) на приборы, группа - более надежная и группа приборов, менее надежная по сравнению с требованиями ТУ.
Наиболее близким по технической сущности является способ контроля качества полупроводниковых приборов с помощью m-характеристик [2], в котором критерий потенциальной надежности приборов имеет значение
1≤m≤2,
т.е. полупроводниковые приборы с данной величиной m-характеристики будут соответствовать по надежности требованиям ТУ.
Недостатком данного способа является невозможность отбора группы приборов с повышенной относительно требований ТУ надежностью. Изобретение направлено на расширение функциональных возможностей диагностических способов.
Это достигается тем, что m-характеристики полупроводниковых приборов измеряются в диапазоне прямого тока (1-110 мА) до, после воздействия электростатических разрядов (ЭСР) и после термического отжига.
Электростатические разряды (в количестве 5-15), подаются в прямом и обратном направлении на каждый переход, напряжением, равным допустимому потенциалу, указанному в ТУ. Термический отжиг проводится при температуре, равной
Тотж=Тдоп+Rт·Р,
где Тотж и Тдоп - соответственно температура отжига и максимально допустимая внешняя температура, указываемая в ТУ; Rт - тепловое сопротивление кристалл-корпус и Р - предельно допустимая мощность прибора, указываемая в ТУ.
Время отжига берется 4-8 часов. После воздействия ЭСР величина m-характеристики, как правило, возрастает, а после термического отжига - уменьшается.
По набору статистики на представительной выборке для каждого типа прибора определяется единый критерий для измеренных трех значений нехарактеристики (до, после ЭСР и после отжига), т.е.
1≤m≤A,
где величина А, меньшая значения 2, устанавливается на основе статистики.
Предложенная методика разделения была апробирована на транзисторах КТ503Б (маломощных кремниевых транзисторах n-р-n-типа). Измерение m-характеристики проводилось на токах от 1 мА до 110 мА.
Значения m-характеристики при всех измерениях во всем диапазоне тока не являются линейной постоянной величиной, а имеют минимумы и максимумы, которые могут не совпадать при указанных трех измерениях.
Максимальные значения m-характеристик для трех измерений представлены в табл.
Если принять критерий для m-характеристик в случае транзисторов КТ503Б: 1≤m≤1,4, то транзисторы №4, 5, 7, 10 будут иметь повышенную надежность.
Источники информации
1. Асауленко Ю.Б., Чуварыгин Б.В. Анализ возможностей отбраковочных испытаний комплектующих элементов РЭА // Надежность и контроль качества. 1989. №11. с.26-32.
2. ОСТ 11073.043-75. Приборы полупроводниковые и микросхемы интегральные. Метод контроля качества с помощью m-характеристик.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ОТБОРА ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПОВЫШЕННОЙ НАДЕЖНОСТИ | 2005 |
|
RU2295735C1 |
СПОСОБ ОТБОРА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ ПОВЫШЕННОЙ НАДЕЖНОСТИ | 2007 |
|
RU2339964C2 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕСТАБИЛЬНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ | 2003 |
|
RU2234104C1 |
СПОСОБ СРАВНИТЕЛЬНЫХ ИСПЫТАНИЙ ПО НАДЕЖНОСТИ ПАРТИЙ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ | 2012 |
|
RU2546998C2 |
СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ ПО НАДЕЖНОСТИ | 2008 |
|
RU2374658C1 |
СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕНАДЕЖНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ | 2004 |
|
RU2276378C1 |
СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПО НАДЕЖНОСТИ | 2006 |
|
RU2324194C1 |
СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ | 2001 |
|
RU2204143C2 |
СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПО НАДЕЖНОСТИ | 2005 |
|
RU2290652C2 |
СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ ПО СТАБИЛЬНОСТИ ОБРАТНЫХ ТОКОВ | 2003 |
|
RU2242018C1 |
Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано для отбора из партии полупроводниковых приборов повышенной надежности. Технический результат: расширение функциональных возможностей. Сущность: проводят измерение т-характеристик переходов приборов в диапазоне прямого тока (1-110 мА) трижды: до, после воздействия 5-15 электростатических разрядов в прямом и обратном направлении на каждый переход напряжением, равным допустимому значению по техническим условиям (ТУ), и после термического отжига в течение 4-8 часов. Температуру отжига рассчитывают по формуле: Tотж=Тдоп+RТ·Р, где Тотж и Тдоп - температура отжига и максимально допустимая по ТУ, Rт - тепловое сопротивление кристалл-корпус, Р - предельно допустимая по ТУ мощность прибора. На основе трех значений m-характеристик, удовлетворяющих выражению 1≤m≤А, проводят отбор приборов. Величину А устанавливают на основе статистики на представительной выборке для каждого типа прибора. 1 табл.
Способ отбора полупроводниковых приборов повышенной надежности, включающий измерения m-характеристик переходов, отличающийся тем, что измерение m-характеристик переходов приборов проводят в диапазоне прямого тока (1-110 мА) трижды: до, после воздействия 5-15 электростатических разрядов в прямом и обратном направлениях на каждый переход напряжением, равным допустимому значению по техническим условиям (ТУ), и после термического отжига в течение 4-8 ч, а температуру отжига рассчитывают по формуле
Tотж=Tдоп+RT·P,
где Тотж и Тдоп - температура отжига и максимально допустимая по ТУ, Rт - тепловое сопротивление кристалл - корпус, Р - предельно допустимая по ТУ мощность прибора,
и на основе трех значений m-характеристик, удовлетворяющих выражению 1≤m≤А, проводят отбор приборов, где величину А устанавливают на основе статистики на представительной выборке для каждого типа прибора.
Походная разборная печь для варки пищи и печения хлеба | 1920 |
|
SU11A1 |
Приборы полупроводниковые и микросхемы интегральные | |||
Метод контроля качества с помощью m-характеристик, 1975 | |||
Способ контроля качества полупроводниковых приборов | 1969 |
|
SU285710A1 |
СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ | 2001 |
|
RU2204143C2 |
СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ | 1998 |
|
RU2146827C1 |
US 4816753 A, 28.03.1989. |
Авторы
Даты
2006-05-10—Публикация
2004-10-06—Подача