СПОСОБ ОТБОРА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ ПОВЫШЕННОЙ НАДЕЖНОСТИ Российский патент 2006 года по МПК G01R31/26 

Описание патента на изобретение RU2276379C1

Изобретение относится к области электротехники, в частности к производству и эксплуатации полупроводниковых приборов (диодов и транзисторов), и может быть использовано для выделения из партии полупроводниковых приборов повышенной надежности с высоким уровнем достоверности в процессе производства, а также на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры.

Известно [1], что любая представительная выборка при выпуске полупроводниковых приборов состоит из трех различных по надежности групп: группа, характеризуемая интенсивностью отказов, то есть надежностью, точно соответствующая требованиям технических условий (ТУ) на приборы, группа - более надежная и группа приборов, менее надежная по сравнению с требованиями ТУ.

Наиболее близким по технической сущности является способ контроля качества полупроводниковых приборов с помощью m-характеристик [2], в котором критерий потенциальной надежности приборов имеет значение

1≤m≤2,

т.е. полупроводниковые приборы с данной величиной m-характеристики будут соответствовать по надежности требованиям ТУ.

Недостатком данного способа является невозможность отбора группы приборов с повышенной относительно требований ТУ надежностью. Изобретение направлено на расширение функциональных возможностей диагностических способов.

Это достигается тем, что m-характеристики полупроводниковых приборов измеряются в диапазоне прямого тока (1-110 мА) до, после воздействия электростатических разрядов (ЭСР) и после термического отжига.

Электростатические разряды (в количестве 5-15), подаются в прямом и обратном направлении на каждый переход, напряжением, равным допустимому потенциалу, указанному в ТУ. Термический отжиг проводится при температуре, равной

Тотждоп+Rт·Р,

где Тотж и Тдоп - соответственно температура отжига и максимально допустимая внешняя температура, указываемая в ТУ; Rт - тепловое сопротивление кристалл-корпус и Р - предельно допустимая мощность прибора, указываемая в ТУ.

Время отжига берется 4-8 часов. После воздействия ЭСР величина m-характеристики, как правило, возрастает, а после термического отжига - уменьшается.

По набору статистики на представительной выборке для каждого типа прибора определяется единый критерий для измеренных трех значений нехарактеристики (до, после ЭСР и после отжига), т.е.

1≤m≤A,

где величина А, меньшая значения 2, устанавливается на основе статистики.

Предложенная методика разделения была апробирована на транзисторах КТ503Б (маломощных кремниевых транзисторах n-р-n-типа). Измерение m-характеристики проводилось на токах от 1 мА до 110 мА.

Значения m-характеристики при всех измерениях во всем диапазоне тока не являются линейной постоянной величиной, а имеют минимумы и максимумы, которые могут не совпадать при указанных трех измерениях.

Максимальные значения m-характеристик для трех измерений представлены в табл.

№ прибораМаксимальные значения m-характеристик при измеренияхначальномпосле ЭСРпосле отжига11,651,61,4521,451,521,3431,381,411,2841,321,321,3251,271,321,361,21,451,371,31,41,3581,281,531,491,381,61,48101,251,351,2

Если принять критерий для m-характеристик в случае транзисторов КТ503Б: 1≤m≤1,4, то транзисторы №4, 5, 7, 10 будут иметь повышенную надежность.

Источники информации

1. Асауленко Ю.Б., Чуварыгин Б.В. Анализ возможностей отбраковочных испытаний комплектующих элементов РЭА // Надежность и контроль качества. 1989. №11. с.26-32.

2. ОСТ 11073.043-75. Приборы полупроводниковые и микросхемы интегральные. Метод контроля качества с помощью m-характеристик.

Похожие патенты RU2276379C1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОТБОРА ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПОВЫШЕННОЙ НАДЕЖНОСТИ 2005
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Козьяков Николай Николаевич
  • Плебанович Владимир Иванович
RU2295735C1
СПОСОБ ОТБОРА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ ПОВЫШЕННОЙ НАДЕЖНОСТИ 2007
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Козьяков Николай Николаевич
  • Жарких Александр Петрович
RU2339964C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕСТАБИЛЬНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ 2003
  • Горлов М.И.
  • Емельянов В.А.
  • Жарких А.П.
  • Смирнов Д.Ю.
RU2234104C1
СПОСОБ СРАВНИТЕЛЬНЫХ ИСПЫТАНИЙ ПО НАДЕЖНОСТИ ПАРТИЙ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ 2012
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Жуков Дмитрий Михайлович
  • Клюкин Артем Александрович
RU2546998C2
СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ ПО НАДЕЖНОСТИ 2008
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Золотарева Екатерина Александровна
  • Козьяков Николай Николаевич
RU2374658C1
СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕНАДЕЖНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ 2004
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Емельянов Виктор Андреевич
  • Дунаев Станислав Дмитриевич
  • Москалев Вячеслав Юрьевич
RU2276378C1
СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПО НАДЕЖНОСТИ 2006
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Ануфриев Дмитрий Леонидович
  • Смирнов Дмитрий Юрьевич
RU2324194C1
СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ 2001
  • Горлов М.И.
  • Адамян А.Г.
  • Ануфриев Л.П.
RU2204143C2
СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПО НАДЕЖНОСТИ 2005
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Шишкин Игорь Алексеевич
RU2290652C2
СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ ПО СТАБИЛЬНОСТИ ОБРАТНЫХ ТОКОВ 2003
  • Горлов М.И.
  • Андреев А.В.
  • Емельянов В.А.
  • Литвиненко Д.А.
  • Смирнов Д.Ю.
RU2242018C1

Реферат патента 2006 года СПОСОБ ОТБОРА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ ПОВЫШЕННОЙ НАДЕЖНОСТИ

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано для отбора из партии полупроводниковых приборов повышенной надежности. Технический результат: расширение функциональных возможностей. Сущность: проводят измерение т-характеристик переходов приборов в диапазоне прямого тока (1-110 мА) трижды: до, после воздействия 5-15 электростатических разрядов в прямом и обратном направлении на каждый переход напряжением, равным допустимому значению по техническим условиям (ТУ), и после термического отжига в течение 4-8 часов. Температуру отжига рассчитывают по формуле: Tотждоп+RТ·Р, где Тотж и Тдоп - температура отжига и максимально допустимая по ТУ, Rт - тепловое сопротивление кристалл-корпус, Р - предельно допустимая по ТУ мощность прибора. На основе трех значений m-характеристик, удовлетворяющих выражению 1≤m≤А, проводят отбор приборов. Величину А устанавливают на основе статистики на представительной выборке для каждого типа прибора. 1 табл.

Формула изобретения RU 2 276 379 C1

Способ отбора полупроводниковых приборов повышенной надежности, включающий измерения m-характеристик переходов, отличающийся тем, что измерение m-характеристик переходов приборов проводят в диапазоне прямого тока (1-110 мА) трижды: до, после воздействия 5-15 электростатических разрядов в прямом и обратном направлениях на каждый переход напряжением, равным допустимому значению по техническим условиям (ТУ), и после термического отжига в течение 4-8 ч, а температуру отжига рассчитывают по формуле

Tотж=Tдоп+RT·P,

где Тотж и Тдоп - температура отжига и максимально допустимая по ТУ, Rт - тепловое сопротивление кристалл - корпус, Р - предельно допустимая по ТУ мощность прибора,

и на основе трех значений m-характеристик, удовлетворяющих выражению 1≤m≤А, проводят отбор приборов, где величину А устанавливают на основе статистики на представительной выборке для каждого типа прибора.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2006 года RU2276379C1

Походная разборная печь для варки пищи и печения хлеба 1920
  • Богач Б.И.
SU11A1
Приборы полупроводниковые и микросхемы интегральные
Метод контроля качества с помощью m-характеристик, 1975
Способ контроля качества полупроводниковых приборов 1969
  • Савина А.С.
  • Модель Е.И.
SU285710A1
СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ 2001
  • Горлов М.И.
  • Адамян А.Г.
  • Ануфриев Л.П.
RU2204143C2
СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ 1998
  • Горлов М.И.
  • Андреев А.В.
RU2146827C1
US 4816753 A, 28.03.1989.

RU 2 276 379 C1

Авторы

Горлов Митрофан Иванович

Козьяков Николай Николаевич

Рубцевич Иван Иванович

Даты

2006-05-10Публикация

2004-10-06Подача