Изобретение относится к интегральной оптике, а именно к способам обработки стекла, и может использоваться для улучшения качества изображения мультимедиа-проекторов, а также для получения объемного изображения в трехмерных стереоскопических дисплеях.
Известен способ изготовления интегральных микролинз, основанный на диффузии высокопреломляющих ионов в стекле, стимулированной внешним электрическим полем (а.с. СССР №2073659, МПК (6) С03С 21/00). Согласно этому способу одну из плоскостей стеклянной пластинки приводят в соприкосновение с расплавом соли, в который погружен платиновый электрод, выполняющий роль катода. Анодом и источником ионов серебра является серебряная игла, острие которой располагают на противоположной плоскости стеклянной пластинки. После приложения внешнего стимулирующего электрического поля ионы серебра диффундируют с острия серебряной иглы в поверхность стеклянной пластинки, вызывая увеличение показателя преломления стекла. Область диффузии с повышенным показателем преломления и имеющая форму полусферы, фактически является микролинзой.
Недостатком этого способа является невозможность получения матриц микролинз. Этим способом можно изготавливать лишь одиночные микролинзы.
Наиболее близким к заявляемому является способ изготовления микролинз, предложенный в (а.с. СССР №1694502, МПК (5) С03С 21/00). Согласно этому способу на одной из поверхностей стеклянной подложки на местах будущих микролинз формируют алюминиевые диски диаметром, составляющим 0,1-0,2 диаметра изготавливаемых микролинз, а на противоположную сторону стеклянной подложки наносят сплошной слой алюминия, выполняющий в дальнейшем роль катода. В поверхность подложки осуществляют электростимулированную диффузию ионов рубидия из расплава нитрата рубидия, анод при этом погружен непосредственно в расплав. Затем алюминиевые диски удаляют и в стеклянную подложку внедряют ионы серебра из расплава нитрата серебра под действием внешнего стимулирующего поля. В результате в стекле формируются микролинзы, имеющие хорошую сферичность, а в промежутках между ними отсутствуют неконтролируемые зоны с повышенным показателем преломления. Этот метод применим как для изготовления одиночных микролинз, так и для изготовления матриц микролинз с большой точностью расположения элементов. Однако этот метод не позволяет изготавливать матрицы интегральных микролинз с плотной упаковкой без нарушения их сферичности.
Технической задачей изобретения является создание матриц микролинз с плотной упаковкой без нарушения их сферичности, что в итоге обеспечивает более эффективное фокусирование света, падающего на матрицу.
Для решения технической задачи при изготовлении матрицы интегральных микролинз наносят на одну сторону стеклянной подложки сплошное алюминиевое покрытие, а на другую сторону стеклянной подложки маскирующий слой из алюминия, имеющий отверстия круглой формы, расположенные квадратно-гнездовым способом на расстоянии 3-5 диаметров самих отверстий. Электростимулированную миграцию ионов металла из расплава солей, например азотнокислого серебра, в стеклянную подложку осуществляют до тех пор, пока не произойдет полное слияние границ соседних микролинз.
Отличие заявляемого способа от прототипа заключается в том, что нет необходимости дважды проводить электростимулированную диффузию: вначале ионов рубидия, а затем ионов серебра. Не надо готовить, следовательно, два расплава. Таким образом, предлагаемые отличия упрощают способ изготовления матриц интегральных микролинз с одновременным улучшением качества как самих микролинз так и всей матрицы.
На фиг.1 представлена схема изготовления интегральных микролинз; на фиг.2а - матрица интегральных микролинз без плотной упаковки микролинз (вид с торца стеклянной подложки); на фиг.2б - матрица интегральных микролинз без плотной упаковки микролинз (вид с поверхности стеклянной подложки); на фиг.3 изображено фокусирование света матрицей интегральных микролинз без плотной упаковки микролинз; на фиг.4а изображено фокусирование света матрицей интегральных микролинз с плотной упаковкой микролинз; на фиг.4б изображена матрица интегральных микролинз с плотной упаковкой микролинз (вид с поверхности стеклянной подложки); на фиг.5 представлена фотография матрицы интегральных микролинз с плотной упаковкой микролинз; на фиг.6 - фотография фокальных пятен, наблюдаемых в фокальной плоскости матрицы интегральных микролинз.
Для осуществления способа одну из сторон стеклянной подложки 1 наносят маскирующий алюминиевый слой 2, в котором, например, фотолитографией создают отверстия 3 круглой формы, расположенные квадратно-гнездовым способом на расстоянии 3-5 диаметров самих отверстий 3 (фиг.1). На противоположную сторону стеклянной подложки 1 наносят сплошной алюминиевый слой 4, являющийся тонкопленочным катодом. Стеклянную подложку 1 маскирующим алюминиевым слоем 2 приводят в контакт с расплавом соли 5, содержащей ионы металла, способные при внедрении в стекло увеличивать его показатель преломления. Внешнее электрическое поле, стимулирующее процесс внедрения ионов металла в стеклянную подложку 1 из расплава соли 5, прикладывают между расплавом соли 5 и сплошным алюминиевым слоем 4, расположенным на противоположной стороне стеклянной подложки 1. К расплаву 5 прикладывают положительный потенциал, а к сплошному слою алюминия 4 - отрицательный потенциал источника постоянного тока.
При подаче напряжения на электроды в стеклянной подложке 1 возникает электрическое поле, стимулирующее процесс внедрения ионов из расплава соли 5 в стеклянную подложку 1. В процессе электростимулированной миграции ионов металла напротив каждого отверстия 3 в маскирующем алюминиевом слое 2 в стеклянной подложке 1 формируется полусферическая область с повышенным показателем преломления, являющаяся микролинзой 6 (фиг.2а).
Матрица интегральных микролинз 6 после удаления маскирующего алюминиевого слоя 2 и сплошного алюминиевого слоя 4 готова к применению. Качество микролинз 6 зависит от сферичности их поверхности и определяется размером и формой фокального пятна. Оптическое излучение, падающее на такую матрицу микролинз 6 (фиг.2б), фокусируется не полностью, а только та его часть, которая попадает непосредственно на микролинзы 6. Часть излучения, которая не попадает на микролинзы 6, проходит без изменения, что в целом снижает эффективность фокусирования (фиг.3).
Для повышения эффективности фокусирования оптического излучения необходимо, чтобы весь свет, падающий на матрицу микролинз 6, был сфокусирован. Этого можно достичь плотной упаковкой микролинз 6 в стеклянной подложке 1 (фиг.4).
Подобные микролинзы 6 в виде матрицы можно получить в том случае, если отверстия в маскирующем слое 2, через которые формируют микролинзы 6, располагают на расстоянии 3-5 диаметров друг от друга. Если расстояние между отверстиями 3 будет меньше или больше 3-5 диаметров микролинз, то, как экспериментально было установлено, нарушается сферичность микролинз. Электростимулированную миграцию ионов металла из расплава соли 5 в стеклянную подложку 1 проводят до тех пор, пока не произойдет полное слияние границ соседних микролинз 6.
Пример. Для получения матриц интегральных микролинз 6 с плотной упаковкой в качестве подложки 1 использовали оптическое стекло К8, на которое термическим вакуумным напылением наносили сплошной алюминиевый слой 4, выполняющий роль катода, и маскирующий алюминиевый слой 2, толщиной 0,5 мкм, в котором методом фотолитографии формировали круглые отверстия 3 диаметром 4 мкм, расположенные квадратно-гнездовым способом на расстоянии 14 мкм друг от друга. Подготовленную таким образом стеклянную подложку 1 приводили в контакт с расплавом солей 5 AgNO3 и NaNO3, взятых в отношении 1:10 (моль) при 380°С, стороной с сформированным маскирующим алюминиевым слоем 2. Стимулирующее напряжение составляло 100 В. Время создания матрицы интегральных микролинз 6 составило 30 мин. В результате была изготовлена матрица интегральных микролинз 6, фотография которой представлена на фиг.5
Как видно на фотографии 6 с помощью изготовленной матрицы интегральных микролинз осуществлено эффективное фокусирование оптического излучения, падающего на матрицу. Фокальные пятна имеют круглую форму, и практически отсутствует излучение, не сфокусированное матрицей.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ изготовления интегральных микролинз | 2016 |
|
RU2643824C1 |
Способ изготовления интегральных микролинз | 1989 |
|
SU1694502A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОЛИНЗ | 2007 |
|
RU2341474C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНО-ОПТИЧЕСКОЙ СХЕМЫ В СТЕКЛЯННОЙ ПОДЛОЖКЕ С РУПОРООБРАЗНЫМ ВОЛНОВОДОМ | 2013 |
|
RU2524460C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОЛИНЗ | 1993 |
|
RU2073659C1 |
ИНТЕГРАЛЬНО-ОПТИЧЕСКИЙ ДЕЛИТЕЛЬ ИЗЛУЧЕНИЯ | 2006 |
|
RU2338224C2 |
Термостойкий интегрально-оптический делитель излучения | 2019 |
|
RU2718669C1 |
Способ изготовления стеклянных микролинзовых растров | 1987 |
|
SU1446579A1 |
Способ формирования в светочувствительном стекле углублений различной формы поперечного сечения | 1987 |
|
SU1574552A1 |
Способ изготовления световодных или светоизолирующих каналов в стекле | 1982 |
|
SU1073201A1 |
Изобретение относится к интегральной оптике, а именно к способам обработки стекла, и может использоваться для улучшения качества изображения мультимедиа-проекторов, а также для получения объемного изображения в трехмерных стереоскопических дисплеях. Техническая задача изобретения - создание матриц интегральных микролинз с плотной упаковкой без нарушения их сферичности для обеспечения эффективного фокусирования света, падающего на матрицу. На одну сторону стеклянной подложки наносят сплошное алюминиевое покрытие, а на другую сторону стеклянной подложки - маскирующий слой из алюминия, имеющий отверстия круглой формы, расположенные квадратно-гнездовым способом на расстоянии 3-5 диаметров самих отверстий. Электростимулированную миграцию ионов металла из расплава солей, например азотнокислого серебра, в стеклянную подложку осуществляют до тех пор, пока не произойдет полное слияние границ соседних микролинз. 1 н. и 2 з.п. ф-лы. 6 ил.
Способ изготовления интегральных микролинз | 1989 |
|
SU1694502A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОЛИНЗ | 1993 |
|
RU2073659C1 |
Способ изготовления элементов интегральной оптики | 1985 |
|
SU1365630A1 |
US 4200875 А, 29.04.1980 | |||
WO 2004051178 A1, 17.06.2004. |
Авторы
Даты
2007-12-20—Публикация
2005-12-12—Подача