Изобретение относится к материалам на основе оксидов металлов, конкретно к гомогенным поликристаллическим материалам на основе сложных оксидов класса разбавленных магнитных полупроводников, обладающих полупроводниковыми и ферримагнитными свойствами, а также высокой температурой Кюри TK=470-520 K при термической стабильности продукта.
Изобретение может быть использовано в спинтронике - области квантовой электроники, в которой для физического представления информации наряду с зарядом используется спин электрона, обусловленный наличием у них собственного механического и связанного с ним магнитного моментов.
Развитие спинтроники в значительной мере сдерживается отсутствием подходящих материалов, удовлетворяющих трем основным критериям:
- сохранение в полученных магнитных полупроводниковых материалах структуры и физико-химических свойств исходных полупроводниковых матриц без ухудшения их потребительских характеристик;
- сохранение магнитной ориентации в полупроводниках с n- и с p-подвижными носителями тока при температурах значительно выше комнатных;
- простота и надежность методик синтеза материалов, возможность их конструкционного включения в стандартные полупроводниковые схемы.
Магнитные полупроводниковые материалы принято подразделять на следующие классы: Концентрированные Магнитные Полупроводники (КМП); Полумагнитные Полупроводники (ПМП); Неоднородные Магнитные Материалы (НММ); Высокотемпературные Ферромагнитные Полупроводники (ВТФП) и Разбавленные Магнитные Полупроводники (РМП) [В.А.Иванов и др. Спинтроника и спинтронные материалы. Известия РАН, серия Химическая, 2004, №11, 2255-2303].
КМП, к которым относится EuO, Cr-халькогенидные шпинели MeCr2Xal4, сложные оксиды BiMnO3, CeCuO3, YTiO3, а также пниктиды Mn(Cr)As(Sb), не получили практического применения из-за низких температур Кюри и технологических требований чистоты, предъявляемых к материалам электроники. Эти же причины плюс нестабильность препятствуют практическому использованию ПМП, получаемых на основе матриц AIIBVI и AIVBVI (AII - Zn, Cd, Hg; AIV - Pb, Sn; BVI - S, Se, Те), CdMnSe, PbSnMnTe, в которых ионы переходного металла Fe2+, Mn2+ или Со2+ хаотически замещают А-элементы в узлах кристаллической решетки.
НММ представляют собой композиционные материалы, содержащие оксиды TiO2, ZnO и частицы магнитных металлов Fe, Co и Ni. Недостатком таких смесей является их неоднофазность и невоспроизводимость магнитных характеристик. Гетерогенность НММ показана на примере композитов на основе оксидов цинка и кобальта Zn1-XCo2+ XO, для которых ферромагнетизм обусловлен наличием кластеров кобальта [Jae Hyun Kim et al., Magnetic properties of epitaxially grown semiconducting Zn1-XCoXO thin films by pulsed laser deposition. J. Appl. Phys., 2002, v.92, №10, p.6066-6071], [R.Rode et al., Magnetic semiconductors based on cobalt substituted ZnO. J. Appl. Phys., 2003, v.93, №10, p.7676-7678].
ВТФП представляют собой материалы CdGeP2:Mn2, ZnGeP2:Mn, CdGeAs2:Mn, ZnSiGeN2:Mn с усредненным отношением Mn/Cd или Zn≤20% и температурами перехода в парамагнитное состояние 300-350 К. Недостатком таких материалов является несовпадение физико-химических характеристик ВТФП с исходными полупроводниковыми матрицами и недостаточно высокие значения температур Кюри.
Особый интерес представляет класс разбавленных магнитных полупроводников. К этому классу относят материалы, в которых в качестве матриц используют полупроводники III-V (III - Al, Ga, In; V - Р, As, Sb) или II-IV (II - Zn, Cd; IV - Si, Ge, Pb, Sn), в которых атомы металлов II, III, IV групп статистически замещены атомами переходных металлов с незаполненными 3d-электронными оболочками. К числу наиболее изученных РМП относят материал Ga1-xMnxAs с х≤9-10 мас.% температурой перехода в парамагнитное состояние до 172 К [A.M.Nazmul, S.Sugahara and M.Tanaka, Phys.Rev., В, 2003, V.67]. К недостатку этих РМП относят недостаточно высокие значения температур Кюри. Вторым недостатком является наличие в составе РМП токсичного мышьяка и галлия, который несовместим с основным материалом микроэлектроники - кремнием.
Наиболее близким к заявляемому материалу является разбавленный ферримагнитный полупроводник состава (ZnGa2O4)0,85(Fe3O4)0,15 [A.S.Risbud et.al., Dilute ferromagnetic semiconductors in Fe-substituted spinel ZnGa2O4 J.Phys.Condens.Matter 17 (2005), p.1003-1010].
К недостаткам ферримагнитного полупроводника состава (ZnGa2O4)0,85(Fe3O4)0,15 следует отнести то, что материал характеризуется недостаточно высокой температурой Кюри (TK близка к 200 К) и большой шириной запрещенной зоны (4.1 эВ). Вторым недостатком является негомогенность материала, что ограничивает его применение.
Изобретение направлено на создание гомогенного оксидного материала класса РМП, обладающего полупроводниковыми и ферримагнитными свойствами с температурой перехода в парамагнитное состояние TK=470-520 К. Под ферримагнитным понимается состояние материала, в котором ориентация спинов магнитных ионов разных магнитных подрешеток антипараллельна. В то же время сами подрешетки имеют разные по величине магнитные моменты, так что суммарная намагниченность в магнитоупорядоченном состоянии отлична от нуля.
Технический результат достигается тем, что предложен гомогенный полупроводниковый ферримагнитный материал, характеризующийся температурой перехода в парамагнитное состояние ТК=470-520 К, представляющий собой твердый раствор оксидов цинка, алюминия, магния и железа, отвечающий формуле:
(ZnAl2O4)1-x(MgFe2O4)x, где
х=0,01÷0,10;
либо твердый раствор оксидов цинка, галлия, магния и железа, отвечающий формуле:
(ZnGa2O4)1-x(MgFe2O4)x, где
х=0,01÷0,10.
Значения х выбираются из соображений, что при х<0,01 ферримагнитные свойства не проявляются, а при х>0,10 твердый раствор теряет гомогенность.
Сущность изобретения состоит в следующем.
Полупроводниковый ферримагнитный материал согласно изобретению является твердым раствором, состоящим из оксидов цинка, алюминия, магния и железа либо из оксидов цинка, галлия, магния и железа.
Изобретение поясняется следующими прилагаемыми чертежами и табличными данными.
Фиг.1. Температурные зависимости удельной намагниченности (σ) материала на примере (ZnAl2O4)0,96(MgFe2O4)0,04.
Фиг.2. Температурные зависимости удельной намагниченности (σ) материала на примере (ZnGa2O4)0,96(MgFe2O4)0,04.
Фиг.3. Температурные зависимости магнитной восприимчивости (1/χ) материала на примере (ZnAl2O4)0,96(MgFe2O4)0,04.
Фиг.4. Температурные зависимости магнитной восприимчивости (1/χ) материала на примере (ZnGa2O4)0,96(MgFe2O4)0,04.
Фиг.5. Спектры диффузного рассеивания (ДР) фотолюминесценции (ФЛ) для материала (ZnAl2O4)0,96(MgFe2O4)0,04.
Фиг.6. Спектры диффузного рассеивания (ДР) фотолюминесценции (ФЛ) для материала (ZnGa2O4)0,98(MgFe2O4)0,02.
Заявленный полупроводниковый материал обладает ферримагнитными свойствами, на что указывают кривые температурных зависимостей удельной намагниченности и магнитной восприимчивости (Фиг.1 - Фиг.4), которые отвечают заявленным свойствам [Королева Л.И. Магнитные полупроводники. М., изд-во МГУ, 2003, 312 с.] и позволяют определить температуру Кюри.
Заявленный полупроводниковый ферримагнитный материал обладает термической стабильностью, на что указывает ход кривых температурной зависимости удельной намагниченности (Фиг.1 и Фиг.2) и магнитной восприимчивости (Фиг.4) твердых растворов при нагревании и последующем охлаждении.
Полупроводниковые свойства заявленного материала подтверждаются результатами измерений ширины запрещенной зоны на основе спектров диффузного рассеивания и фотолюминесценции (Фиг.5, 6).
Гомогенность материала подтверждается результатами рентгенофазового анализа (Таблица 1, 2).
В Таблице 3 представлены примеры составов заявленного полупроводникового ферримагнитного материала и температуры перехода в парамагнитное состояние.
Ниже приведены примеры получения заявленного материала.
Пример 1
В качестве исходных материалов использовали оксид цинка, оксид железа Fe2O3, гидроксид магния и гидроксид алюминия, содержащие не менее 99,99% основного вещества.
Навеску тщательно перетертого под этиловым спиртом порошка, отвечающего брутто-составу (ZnAl2O4)0,99(MgFe2O4)0,01, полученного из оксидов или гидроксидов соответствующих металлов, загружали в платиновый тигель и отжигали по следующей схеме: первая стадия - отжиг при 1073 К в течение 10 часов с последующим охлаждением до комнатной температуры; вторая - отжиг при 1273 К в течение 10 часов с последующим охлаждением до комнатной температуры; третья - отжиг при 1473 К также в течение 10 часов с последующим охлаждением.
Пример 2
В качестве исходных материалов использовали оксид цинка, оксид железа Fe2O3, гидроксид магния и оксид алюминия, содержащие не менее 99,99% основного вещества.
Навеску тщательно перетертого под этиловым спиртом порошка, отвечающего брутто-составу (ZnAl2O4)0,96(MgFe2O4)0,04, полученного из оксидов или гидроксидов соответствующих металлов, загружали в платиновый тигель и отжигали по следующей схеме: первая стадия - отжиг при 1073 К в течение 10 часов с последующим охлаждением до комнатной температуры; вторая - отжиг при 1273 К в течение 10 часов с последующим охлаждением до комнатной температуры; третья - отжиг при 1573 К также в течение 10 часов с последующим охлаждением.
Пример 3
В качестве исходных материалов использовали формиат цинка, оксид железа Fe2O3, гидроксид магния и оксид алюминия, содержащие не менее 99,99% основного вещества.
Навеску тщательно перетертого под этиловым спиртом порошка, отвечающего брутто-составу (ZnAl2O4)0,90(MgFe2O4)0,10, полученного из оксидов железа и алюминия, формиата цинка и гидроксида алюминия, загружали в платиновый тигель и отжигали по следующей схеме: первая стадия - отжиг при 1073 К в течение 10 часов с последующим охлаждением до комнатной температуры; вторая - отжиг при 1173 К в течение 10 часов с последующим охлаждением до комнатной температуры; третья - отжиг при 1573 К также в течение 10 часов с последующим охлаждением.
Пример 4
В качестве исходных материалов использовали оксид цинка, оксид железа Fe2O3, гидроксид магния и оксид галлия, содержащие не менее 99,99% основного вещества.
Навеску тщательно перетертого под этиловым спиртом порошка, отвечающего брутто-составу (ZnGa2O4)0,99(MgFe2O4)0,01, полученного из оксидов или гидроксидов соответствующих металлов, загружали в платиновый тигель и отжигали по следующей схеме: первая стадия - отжиг при 1073 К в течение 10 часов с последующим охлаждением до комнатной температуры; вторая - отжиг при 1173 К в течение 10 часов с последующим охлаждением до комнатной температуры; третья - отжиг при 1423 К также в течение 10 часов с последующим охлаждением.
Материал по примерам №5-6 Таблицы 3 получен аналогичным способом.
Материалы, представленные иллюстрациями и табличными данными, исследовались методами рентгенофазового (РФА), термогравиметрического (TГ) и дифференциально термического (ДТА) анализов. РФА анализ выполнен с использованием дифрактометра ДРОН-3М и камеры-монохроматора Гинье де-Вольфа. На рентгенограммах присутствовали только линии, характерные для полупроводниковых структур указанных в Таблице 1-2 материалов.
ТГ и ДТА анализы выполнены с помощью термоанализатора TGD 7000 фирмы ULVAK SINKU-RIKO, Япония.
По данным ТГ в пределах инструментальной ошибки прибора брутто-состав синтезированных образцов не отличается от исходного брутто-состава.
Кривые ДТА указывали на отсутствие фазовых превращений I рода, что свидетельствует о гомогенности полученного оксидного материала.
Зависимости удельной намагниченности и магнитной восприимчивости материала исследовались пондеромоторным методом [В.И.Чечерников. Магнитные измерения. Изд-во МГУ, 1969, 388 с.] в магнитном поле 0,86 Т (8,6 kOe) в интервале температур 77-670 К.
Измерения ширины запрещенной зоны материала (Фиг.5, 6), полученной с использованием спектров ДР и ФЛ [F.M.Liu, J.H.Jia, L.D. Zhang. Appl. Phys. A. Vol.70, №4 (2000), pp.457-459], свидетельствуют о том, что для твердого раствора (ZnAl2O4)0,96(MgFe2O4)0,04 наблюдается наиболее сильная люминесценция с максимумом на длине волны 430 нм. Это соответствует ширине запрещенной зоны в твердом растворе в области 2,8-2,9 эВ. Для твердого раствора (ZnGa2O4)0,98(MgFe2O4)0,02 наблюдается наиболее сильная люминесценция с максимумом на длине волны 550 нм. Это соответствует ширине запрещенной зоны в твердом растворе в области 2,2-2,4 эВ.
Как видно из Фиг.1-6, Таблиц 1-3 и приведенных примеров, заявленный продукт является гомогенным полупроводниковым ферримагнитным материалом класса РМП с температурой Кюри TK=470-520 К. Уникальное сочетание полупроводниковых и ферримагнитных свойств заявленного материала делает его перспективным продуктом для практического использования в спинтронике.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ФЕРРИМАГНИТНЫЙ МАТЕРИАЛ | 2010 |
|
RU2436859C2 |
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ АНТИФЕРРОМАГНИТНЫЙ МАТЕРИАЛ | 2006 |
|
RU2318262C1 |
ФЕРРОМАГНИТНАЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА | 2006 |
|
RU2305723C1 |
МАГНИТНЫЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ МАТЕРИАЛ | 2011 |
|
RU2465378C1 |
СПИНТРОННЫЙ КОМПОЗИЦИОННЫЙ МАТЕРИАЛ | 2004 |
|
RU2291134C2 |
Способ получения на подложке пленок с ферромагнитными кластерами MnGeO в матрице GeO | 2017 |
|
RU2655507C1 |
ФЕРРИМАГНИТНЫЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ МАТЕРИАЛ | 1997 |
|
RU2142521C1 |
ФЕРРОМАГНИТНАЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА | 2009 |
|
RU2425184C1 |
Способ формирования тонкой пленки монооксида европия на кремниевой подложке с получением эпитаксиальной гетероструктуры EuO/Si | 2020 |
|
RU2739459C1 |
МАГНИТНЫЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ МАТЕРИАЛ | 2004 |
|
RU2282685C2 |
Изобретение относится к полупроводниковым материалам на основе оксидов металлов, в частности к гомогенным поликристаллическим материалам на основе сложных оксидов класса разбавленных магнитных полупроводников. Может использоваться в спинтронике. Полупроводниковый ферримагнитный материал имеет температуру перехода в парамагнитное состояние ТК=470-520 К и представляет собой твердый раствор оксидов цинка, алюминия или галлия, магния и железа, отвечающий формуле (ZnAl2O4)1-x(MgFe2O4)x или (ZnGa2O4)1-x(MgFe2O4)x, где х=0,01÷0,10. Материал обладает термической стабильностью. 6 ил., 3 табл.
Полупроводниковый ферримагнитный материал, характеризующийся температурой перехода в парамагнитное состояние ТК=470-520К, представляющий собой твердый раствор оксидов цинка, алюминия, магния и железа, отвечающий формуле
(ZnAl2O4)1-x(MgFe2O4)x,
или твердый раствор оксидов цинка, галлия, магния и железа, отвечающий формуле
(ZnGa2O4)1-x(MgFe2O4)x, где х=0,01÷0,10.
PEARTON S.J | |||
et al | |||
Effects of defects and doping on wide band gap ferromagnetic semiconductors | |||
Способ отопления гретым воздухом | 1922 |
|
SU340A1 |
ФЕРРИТОВЫЙ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ МАТЕРИАЛ | 1984 |
|
RU1167997C |
ФЕРРИТОВЫЙ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ МАТЕРИАЛ | 1990 |
|
RU1732706C |
Походная разборная печь для варки пищи и печения хлеба | 1920 |
|
SU11A1 |
Разборный с внутренней печью кипятильник | 1922 |
|
SU9A1 |
Способ получения молочной кислоты | 1922 |
|
SU60A1 |
Авторы
Даты
2010-06-20—Публикация
2007-02-12—Подача