Способ определения толщины однородного покрытия Российский патент 2017 года по МПК G01N3/40 

Описание патента на изобретение RU2619133C1

Изобретение относится к определению геометрических характеристик однородных покрытий, а именно к определению толщины покрытий посредством вдавливания в поверхность материала цилиндрического индентора, и может быть использовано для определения толщины покрытий на подложках из различных материалов.

Наиболее близким по выполнению является способ определения толщины покрытия, при котором в поверхность покрытия несколько раз с увеличивающейся нагрузкой вдавливают индентор с непрерывной регистрацией приложенной нагрузки и глубины внедрения, при этом нагрузка подбирается таким образом, чтобы наименьшая глубина внедрения была меньше предполагаемой минимальной толщины покрытия, а наибольшая глубина внедрения была больше предполагаемой максимальной толщины покрытия. В качестве измеренного значения толщины принимается глубина внедрения, при которой отношение виртуальной нагрузки QUOTE , характеризующей остаточные напряжения, к максимальной приложенной нагрузке QUOTE является наибольшим, при этом QUOTE для каждого эксперимента определяется с помощью аппроксимации кривой нагрузка–глубина внедрения на стадии разгрузки предлагаемой авторами формулой (патент CN 101839707 B «Film thickness testing method based on nano indentation unloading curve», опубл. 12.12.2012).

Недостатком данного способа является то, что для определения толщины покрытия требуется большое количество экспериментов с различным значением нагрузки и соответствующим значением глубины внедрения, причем точность определения толщины не будет превышать полуширину шага изменения максимальной глубины внедрения. Другим недостатком является необходимость произведения индентирования на глубину, большую предполагаемой толщины покрытия, что приводит к локальному разрушению покрытия и в ряде случаев является нежелательным.

Техническим результатом от применения предлагаемого способа является повышение точности определения толщины тонких покрытий и пленок, а также сокращение количества необходимых экспериментов.

Технический результат достигается тем, что вдавливают в покрытие с известными модулем Юнга и коэффициентом Пуассона на подложке, модуль Юнга и коэффициент Пуассона которой также известен, цилиндрический индентор, определяют в соответствии с показаниями прибора, регистрирующего связь между вдавливающей силой и осадкой индентора, модуль жесткости системы покрытие – подложка (Ecs), далее рассчитывают значение отношения модуля жесткости системы к модулю упругости подложки (ECS/ES) и с помощью известных способов нахождения значения функции по заданной неявной зависимости определяют H/a из формулы (1)

, (1)

где ECS – модуль жесткости системы покрытие–подложка, EC – модуль упругости покрытия, ES – модуль упругости подложки, vS – коэффициент Пуассона подложки, sh – гиперболический синус, – радиус индентора, – толщина покрытия, Ci, Ai – комплексные константы, определяемые в ходе решения контактной задачи о внедрении штампа в упругое полупространство с покрытием.

Константы Ci, Ai могут быть рассчитаны с помощью алгоритма, описанного в работе Айзикович С.М., Александров В.М. «Осесимметричная задача о вдавливании круглого штампа в упругое, неоднородное по глубине полупространство» (Изв. АН СССР. МТТ. 1984, N2, с.73-82) и реализованного, например, в программах для ЭВМ, по свидетельствам РФ о государственной регистрации программ для ЭВМ № 2012614268 от 14.05.2012 г., №2012614938 от 01.06.2012 г., №2012614939 от 01.06.2012 г.

H из неявной зависимости (1) можно определить также с помощью таблицы значений Ecs/Es или с использованием программ для ЭВМ. В столбце, соответствующем известному значению Ec/Es, находят измеренное значение Ecs/Es и по строке определяют ближайшее значение H/a. В качестве примера приводится Таблица 1 для значений a/H от 0.105 до 2.000 и Ec/Es от 1.1 до 5.0 (Таблица 1а) или значений Ec/Es от 1/1.1 до 1/5.0 (Таблица 1б).

Предпочтительное отношение радиуса индентора к толщине покрытия находится в пределах 0,1-8.

Отличием предлагаемого способа является то, что толщину покрытия определяют из полученного значения модуля жесткости для системы покрытие – подложка и известных заранее модулей упругости подложки и покрытия.

Ниже приведен пример осуществления изобретения.

Пример.

Для исследований взят алмазоподобный углерод (DLC, diamond-like carbon) с заранее определенным экспериментально модулем упругости Еc = 259 ГПа. На плавленый кварц с модулем упругости Es=69.6 ГПа нанесено покрытие из взятого алмазоподобного углерода толщиной H = 250 нм. По результатам индентирования слоя DLC с использованием цилиндрического индентора при радиусе зоны контакта a, равному 100 нм, получено значение величины ГПа. Для использования формулы (1) находим значение отношения

,

затем определяем

.

С помощью программ для ЭВМ (свидетельства РФ о гос. регистрации программ для ЭВМ № 2012614268 от 14.05.2012 г., № 2012614938 от 01.06.2012 г., №2012614939 от 01.06.2012 г.), использующих алгоритм определения коэффициентов Ci, Ai, описанный в работе Айзикович С.М., Александров В.М. «Осесимметричная задача о вдавливании круглого штампа в упругое, неоднородное по глубине полупространство» (Изв. АН СССР. МТТ, 1984, № 2, с. 73–82), определяем значения коэффициентов . Затем строим таблицу значений в зависимости от и . Вычислим отношение модуля Юнга покрытия к модулю Юнга подложки и найдем отношение

,

затем вычислим величины

и получим значение толщины покрытия по формуле

.

Таким образом, способ позволяет определить толщину покрытия с погрешностью

.

Похожие патенты RU2619133C1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОДУЛЯ УПРУГОСТИ ОДНОРОДНОГО ПОКРЫТИЯ 2012
  • Айзикович Сергей Михайлович
  • Варавка Валерий Николаевич
  • Кренев Леонид Иванович
  • Васильев Андрей Сергеевич
  • Митрин Борис Игоревич
RU2532758C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОДУЛЯ УПРУГОСТИ МАТЕРИАЛА ПОКРЫТИЯ НА ИЗДЕЛИИ 2016
  • Воронин Николай Алексеевич
RU2618500C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОДУЛЯ УПРУГОСТИ МАТЕРИАЛА ПОКРЫТИЯ НА ИЗДЕЛИИ 2012
  • Воронин Николай Алексеевич
RU2489701C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОДУЛЯ УПРУГОСТИ ЮНГА МАТЕРИАЛА МИКРО- И НАНОЧАСТИЦ 2012
  • Вахрушев Александр Васильевич
  • Шушков Андрей Александрович
  • Зыков Сергей Николаевич
RU2494038C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОДУЛЯ УПРУГОСТИ МАТЕРИАЛА ПОКРЫТИЯ НА ИЗДЕЛИИ 2018
  • Воронин Николай Алексеевич
RU2683597C1
Способ определения физико-механических характеристик материалов 1983
  • Булычев Сергей Иванович
  • Шоршоров Минас Хачатурович
  • Болотова Людмила Константиновна
  • Алехин Валентин Павлович
  • Чернышова Татьяна Александровна
SU1111065A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФИЗИКО-МЕХАНИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МОДИФИЦИРОВАННОГО ПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ МАТЕРИАЛА ИЗДЕЛИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2016
  • Воронин Николай Алексеевич
  • Сахвадзе Геронтий Жорович
RU2646442C1
Способ определения адгезионной прочности покрытия, нанесенного на подложку 1986
  • Манохин Анатолий Иванович
  • Алехин Валентин Павлович
  • Булычев Сергей Иванович
  • Тюрпенко Олег Анатольевич
SU1363026A1
Способ определения коэффициента Пуассона материала 1988
  • Анисимов Вячеслав Иванович
  • Колокольчиков Владислав Владимирович
SU1753335A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОДУЛЯ УПРУГОСТИ ЮНГА МАТЕРИАЛА МИКРО- И НАНОЧАСТИЦ 2015
  • Вахрушев Александр Васильевич
  • Шушков Андрей Александрович
  • Зыков Сергей Николаевич
  • Федотов Алексей Юрьевич
RU2611698C1

Реферат патента 2017 года Способ определения толщины однородного покрытия

Изобретение относится к определению геометрических характеристик однородных покрытий, а именно к определению его толщины посредством вдавливания в поверхность материала цилиндрического индентора, и может быть использовано для определения толщины покрытий на подложках из различных материалов. Сущность: вдавливают в покрытие с известным модулем Юнга и коэффициентом Пуассона на подложке, модуль Юнга и коэффициент Пуассона которой также известен, цилиндрический индентор, определяют в соответствии с показаниями прибора, регистрирующего связь между вдавливающей силой и осадкой индентора, модуль жесткости системы покрытие – подложка (Ecs), далее рассчитывают значение отношения модуля жесткости системы к модулю упругости подложки (Ecs/Es) и с помощью известных способов нахождения значения функции по заданной неявной зависимости определяют толщину однородного покрытия из формулы. Технический результат: повышение точности определения толщины тонких покрытий и пленок, а также сокращение количества необходимых экспериментов. 1 з.п. ф-лы, 2 табл.

Формула изобретения RU 2 619 133 C1

1. Способ определения толщины однородного покрытия, характеризующийся тем, что вдавливают в покрытие с известным модулем Юнга и коэффициентом Пуассона на подложке, модуль Юнга и коэффициент Пуассона которой также известен, цилиндрический индентор, определяют в соответствии с показаниями прибора, регистрирующего связь между вдавливающей силой и осадкой индентора, модуль жесткости системы покрытие – подложка (Ecs), далее рассчитывают значение отношения модуля жесткости системы к модулю упругости подложки (Ecs/Es) и с помощью известных способов нахождения значения функции по заданной неявной зависимости определяют толщину из формулы

,

где Ecs – модуль жесткости системы покрытие – подложка, Ec – модуль упругости покрытия, Es – модуль упругости подложки, vs – коэффициент Пуассона подложки, sh – гиперболический синус, – радиус индентора, – толщина покрытия,  – комплексные константы, определяемые в ходе решения контактной задачи о внедрении штампа в упругое полупространство с покрытием.

2. Способ по п. 1, характеризующийся тем, что отношение радиуса индентора к толщине покрытия находится в пределах 0,1-8.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2017 года RU2619133C1

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОДУЛЯ УПРУГОСТИ ОДНОРОДНОГО ПОКРЫТИЯ 2012
  • Айзикович Сергей Михайлович
  • Варавка Валерий Николаевич
  • Кренев Леонид Иванович
  • Васильев Андрей Сергеевич
  • Митрин Борис Игоревич
RU2532758C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОДУЛЯ УПРУГОСТИ МАТЕРИАЛА ПОКРЫТИЯ НА ИЗДЕЛИИ 2012
  • Воронин Николай Алексеевич
RU2489701C1
Способ определения модуля упругости материала покрытия 1987
  • Криони Николай Константинович
  • Постнов Владимир Валентинович
  • Шустер Лева Шмульевич
SU1435997A1
US 7165463 B2 23.01.2007.

RU 2 619 133 C1

Авторы

Айзикович Сергей Михайлович

Кренев Леонид Иванович

Волков Сергей Сергеевич

Садырин Евгений Валерьевич

Митрин Борис Игоревич

Даты

2017-05-12Публикация

2015-10-26Подача